Рабинович, О. И. Метод исследования полупроводниковых материалов и гетерогенных структур на основе компьютерного моделирования [Текст] / О. И. Рабинович, В. П. Сушков // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 8. - С. 37-41. - Библиогр.: с. 41 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Электрический ток Кл.слова (ненормированные): методы исследования полупроводниковых материалов -- исследование полупроводниковых материалов -- полупроводниковые материалы -- гетероструктуры -- компьютерное моделирование -- AlGaInN (гетероструктуры) -- многокомпонентные гетероструктуры -- программы -- неразрушающие методы -- квантово-размерные ямы -- гетероструктуры с квантово-размерными ямами Аннотация: Описана методика исследования полупроводниковых материалов и гетероструктур на основе компьютерного моделирования, а также влияния изменения их строения на рабочие характеристики приборов на их основе. Доп.точки доступа: Сушков, В. П.; Центр оптоэлектронных систем при Колорадском университетеКолорадский университет \центр оптоэлектронных систем\ |