621.3.048.027.3 Н 844 Носков, М. Д. Динамика развития тепловой неустойчивости при пробое диэлектрика [Текст] / М. Д. Носков, А. А. Чеглоков, А. В. Шаповалов // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N1. - Библиогр.: с.43 (8 назв.) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): тепловая неустойчивость -- тепловой пробой -- неустойчивость -- пробой диэлектрика -- математическая модель -- электротепловая структура -- шнурование тока -- высокопроводящий канал Аннотация: Рассматривается математическая модель динамики температуры, напряженности и плотности заряда при тепловом пробое диэлектрика. С помощью численного моделирования исследуются характеристики развития тепловой наустойчивости, инициированной локальным возмущением температурного поля. Определены условия возникновения и закономерности роста электротепловой структуры, приводящей к формированию высокопроводящего канала и шнурованию тока в диэлектрике Доп.точки доступа: Чеглоков, А.А.; Шаповалов, А.В. |