621.396 Ш 268 Шаршунов, С. Г. (д-р техн. наук). Разработка функциональных тестов RISC-микропроцессоров [Текст] [Текст] / С. Г. Шаршунов // Автоматика и телемеханика. - 2004. - N 11. - Библиогр.: с. 188-189 (24 назв. ). - Часть текста на англ. яз. . - ISSN 0005-2310
Рубрики: Радиоэлектроника--Общая радиотехника Кл.слова (ненормированные): микропроцессоры -- тестирование аппаратуры -- RISC-микропроцессоры -- особенности RISC-архитектуры -- функциональное тестирование -- функциональные тесты -- алгоритмы тестирования -- архитектурные уровни Аннотация: Рассмотрены известные модели и концепции функционального тестирования микропроцессоров. |