537 Х 308 Хвесюк, В. И. Анализ закономерностей рассеяния частиц плазмы на нестационарных флуктуациях [Текст] / В. И. Хвесюк, А. Ю. Чирков // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 4. - Библиогр.: c. 26 (17 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): волновые пакеты -- плазма -- рассеяние ионов -- рассеяние электронов -- электростатические флуктуации Аннотация: Представлены результаты численного анализа взаимодействия частиц с электростатическими флуктуациями, образующими волновые пакеты. Исследовано влияние динамических параметров частиц и пакетов на рассеяние частиц. Показано, что характер рассеяния электронов и ионов на такого рода флуктуациях в общем случае существенно отличается. Предложены оценки параметров бесстолкновительной диффузии. Перейти: http: //www. ioffe. rssi. ru/journals/jtf/2004/04/page-18. html. ru Доп.точки доступа: Чирков, А. Ю. |
53 Б 124 Бабенко, П. Ю. Диагностика твердых растворов Si[1-x]Ge[x] методом спектроскопии медленных ионов, рассеянных назад [Текст] / П. Ю. Бабенко, авт. А. П. Шергин // Письма в журнал технической физики. - 2007. - Т. 33, N 9. - С. 37-43 . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): диагностика твердых растворов -- твердые растворы -- ионная бомбардировка -- распыление твердых тел ионной бомбардировкой -- рассеяние ионов -- спектроскопия медленных ионов Аннотация: С помощью диагностики, основанной на анализе однократного и двукратного рассеяния ионов аргона keV-энергий на угол тэта=129 к направлению первичного пучка, определена доля кластерной фракции Ge в твердых растворах Si[1-x]Ge[x] с малым содержанием Ge (x~ 5%), которая в исследованных образцах составила ? 20%. Предложенный метод спектроскопии ионов, рассеянных назад, позволил в разы понизить предел обнаружения кластерной фракции по сравнению с ранее использованным традиционным методом анализа ионов, рассеянных на малые углы. Доп.точки доступа: Шергин, А. П. |
Бабенко, П. Ю. Неупругие потери энергии при однократных и двукратных соударениях ионов Ar+ keV энергии с мишенями из Be, C, Al, Si, Ge и In [Текст] / П. Ю. Бабенко, А. П. Шергин // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 7. - С. 32-36. - Библиогр.: c. 36 (16 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): ионы -- соударение ионов -- спектроскопия медленных рассеянных ионов -- неупругие потери энергии -- рассеяние ионов -- ионное облучение поверхности Аннотация: Методом спектроскопии медленных рассеянных ионов определены значения неупругих потерь энергии Q при рассеянии ионов Ar+ с первоначальной энергией E[0]=5 keV на мишенях из Be, C, Al, Si, Ge и In. Несмотря на то что подавляющее большинство прикладных исследований по анализу элементного состава и структуры материалов для современной электроники выполнено с использованием пучков ионов Ar+, данных по неупругим потерям для этих бомбардирующих частиц крайне мало. Показано, что знание величины Q позволяет правильно интерпретировать энергетические спектры частиц, эмитированных при ионном облучении поверхности. Доп.точки доступа: Шергин, А. П. |
537 О-110 О возбуждени электрон-дырочных пар в нанокластерах металлов при рассеянии низкоэнергетических ионов [Текст] / В. Д. Борман [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2006. - Т. 70, N 6. - С. 846-850. - Библиогр.: с. 850 (16 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): рассеяние ионов -- неупругое рассеяние ионов -- нанокластеры металлов -- асимметрия формы линий металлов -- индексы сингулярности -- спектроскопия рассеяния медленных ионов -- СРМИ Аннотация: В спектрах неупругого рассеяния медленных ионов He{+} обнаружена асимметрия формы линий, вызванная возбуждением электрон-дырочных пар вблизи поверхности Ферми нанокластеров металлов. Доп.точки доступа: Борман, В. Д.; Либидько, В. В.; Пушкин, М. А.; Тронин, В. Н.; Троян, В. И. |