Анализ текстуры в слитках халькогенидов Bi и Sb для определения формы фронта кристаллизации и глубины нарушенных резкой слоев [Текст] / Ю. М. Белов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 5. - С. 28-31 . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): халькогениды -- Bi -- Sb -- висмут -- сурьма -- кристаллизация -- нарушенные слои -- рентгеноструктурная диагностика -- крупнокристаллические пластины -- термоэлектрические материалы -- оценка глубины нарушенных резкой слоев -- термоэлементы -- определение текстуры халькогенидов -- текстура халькогенидов Аннотация: Показано применение рентгеноструктурной методики для оценки формы фронта кристаллизации, текстуры и однородности состава крупнокристаллических пластин термоэлектрического материала на основе халькогенидов Bi и Sb, полученных методом кристаллизации из расплава. Доп.точки доступа: Белов, Ю. М.; Бублик, В. Т.; Воронин, А. И.; Выговская, Е. А.; Пономарев, В. Ф.; Табачкова, Н. Ю.; Торопова, О. В. |