Импульсный режим работы плазменного ускорителя малой мощности [Текст] / А. И. Бугрова [и др. ] // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 19. - С. 31-36 : ил. - Библиогр.: с. 36 (4 назв. ) . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 22.333 + 22.3с
Рубрики: Физика
   Электронные и ионные явления. Физика плазмы

   Физические приборы и методы физического эксперимента

Кл.слова (ненормированные):
экспериментальные исследования -- результаты исследований -- плазменные ускорители -- малые мощности -- интегральные характеристики -- локальные характеристики -- лабораторные модели -- импульсные режимы -- режимы работы -- импульсы тока -- прямоугольные импульсы -- разрядные токи -- фронты (физика) -- средняя мощность -- КПД -- коэффициент полезного действия -- тяговый КПД -- электрические зонды -- плазменные струи -- плазменные потоки -- электронные температуры -- плазма -- концентрация плазмы -- потенциал пространства
Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований интегральных и локальных характеристик лабораторной модели плазменного ускорителя малой мощности, работающей в импульсном режиме. Получены прямоугольные импульсы разрядного тока с длительностью переднего и заднего фронтов, не превышающих 1 ms. При вкладываемой средней мощности ~ 150 W величина тягового кпд составила 35%. С помощью электрических зондов измерены концентрация, электронная температура и потенциал пространства в выходящей плазменной струе. В процессе этих измерений обнаружено, что за срезом ускорителя распространяется хорошо сформированный плазменный поток с малым углом расходимости.


Доп.точки доступа:
Бугрова, А. И.; Десятсков, А. В.; Коробкин, Ю. В.; Липатов, А. С.; Харчевников, В. К.


681.7
К 602


    Колеров, А. Н.
    Сканирующий микроскоп ближнего поля с углеродной нанотрубкой в качестве зонда [Текст] / А. Н. Колеров // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 6. - С. 33-38 : ил. - Библиогр.: с. 38 (7 назв. ) . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 22.341 + 22.345
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

   Люминесценция

Кл.слова (ненормированные):
энергетические источники -- локальные характеристики -- электромагнитные поля -- микроскопы -- сканирующие микроскопы -- микроскопы ближнего поля -- нанотрубки -- зонды -- условия локализации -- области взаимодействия -- донор-акцептор -- ферстеровское взаимодействие -- пространственное разрешение -- частотное разрешение -- углеродные нанотрубки
Аннотация: Решена задача создания энергетического источника с локальными характеристиками электромагнитного поля и оптимизированы условия локализации области взаимодействия "донор-акцептор" для осуществления ферстеровского взаимодействия, характеризующего пространственное и частотное разрешение в сканирующем микроскопе ближнего поля, в котором в качестве зонда использована углеродная нанотрубка.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/06/p33-38.pdf


539.21:537
В 586


   
    Влияние химической обработки на магнитные свойства ферромагнитных тонкопленочных систем [Текст] / Е. Е. Шалыгина [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 9. - С. 37-44 : ил. - Библиогр.: с. 44 (8 назв. ) . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 22.373
Рубрики: Физика
   Электрические и магнитные свойства твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
тонкопленочные системы -- ферромагнитные тонкопленочные системы -- химическая обработка -- влияние обработки -- морфология поверхности -- магнитооптические исследования -- результаты исследований -- тонкие пленки -- сплавы -- магнитные характеристики -- локальные характеристики -- локальные магнитные характеристики -- кремний -- оксид кремния -- оксиды -- субмикронные толщины -- химические травления -- магнитные поля -- магнитные свойства -- поля насыщения -- коэрцитивные силы -- неоднородности -- поля рассеяния -- измеряемые характеристики
Аннотация: Представлены результаты магнитооптических исследований влияния химической обработки на морфологию поверхности и локальные магнитные характеристики тонких пленок сплава FeN и тонкопленочных систем, состоящих из слоев оксида кремния и FeN субмикронной толщины. Обнаружено сильное влияние химического травления изучаемых образцов при наличии магнитного поля на морфологию их поверхностей и магнитные свойства. Найдено, что локальные значения поля насыщения и коэрцитивной силы химически обработанных тонкопленочных систем сильно различаются, что обусловлено появлением неоднородностей на поверхности образцов и, как следствие, усилением влияния полей рассеяния на измеряемые характеристики.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/09/p37-44.pdf

Доп.точки доступа:
Шалыгина, Е. Е.; Агапонова, А. В.; Тараканов, О. Н.; Рыжиков, И. А.; Шалыгин, А. Н.


533.9
В 586


   
    Влияние вкладываемой ВЧ-мощности на характеристики стационарного плазменного двигателя [Текст] / А. И. Бугрова [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 7. - С. 89-96 : ил. - Библиогр.: с. 96 (3 назв.) . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 22.333 + 22.3с
Рубрики: Физика
   Электронные и ионные явления. Физика плазмы

   Физические приборы и методы физического эксперимента

Кл.слова (ненормированные):
плазменные двигатели -- плазма -- нагрев плазмы -- ВЧ-нагрев -- высокочастотный нагрев -- ВЧ-мощность -- высокочастотная мощность -- стационарные двигатели -- стационарные плазменные двигатели -- СПД -- модифицированные модели -- плазменные источники -- стационарные источники -- стационарные плазменные источники -- АТОН -- интегральные характеристики -- локальные характеристики -- анализ результатов
Аннотация: Изучались возможности осуществления дополнительного ВЧ-нагрева плазмы в стационарном плазменном двигателе (СПД) с целью повышения его характеристик. Была разработана модифицированная модель стационарного плазменного источника АТОН для введения в буферную зону канала СПД ВЧ-мощности. Проведены детальное изучение интегральных и локальных характеристик модифицированной модели АТОН с вводом ВЧ-мощности и сравнение их с характеристиками источника АТОН без ввода ВЧ-мощности, а также анализ полученных результатов.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/07/p89-96.pdf

Доп.точки доступа:
Бугрова, А. И.; Бугров, Г. Э.; Харчевников, В. К.; Шапошников, М. И.; Mazouffre, S.