539.2 Б 241 Баранникова, С. А. Локализация пластической деформации в моно- и поликристаллах сплава Fe-3%Si при растяжении [Текст] / С. А. Баранникова, В. И. Данилов, Л. Б. Зуев> // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 10. - Библиогр.: c. 56 (18 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): деформация растяжением -- кремнистое железо -- пластическая деформация Аннотация: Рассмотрена локализация пластического течения в моно- и поликристаллических образцах из кремнистого железа при одинаковых условиях деформирования растяжением. Картины локализации деформации проанализированы на стадиях линейного и параболического деформационного упрочнения, а также при переходе к образованию шейки и стадии вязкого разрушения. Проведено сравнение картин локализации деформации для моно- и поликристаллического состояний сплава. Перейти: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/jtf/2004/10/page-52.html.ru Доп.точки доступа: Данилов, В. И.; Зуев, Л. Б. |
О влиянии контактной разности потенциалов и электрического потенциала на микротвердость металлов [Текст] / Л. Б. Зуев [и др. ]> // Физика твердого тела. - 2009. - Т. 51, вып: вып. 6. - С. 1077-1080. - Библиогр.: с. 1080 (19 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): микротвердость -- электрический потенциал -- скорость ползучести -- алюминий -- цирконий -- кремнистое железо Аннотация: Экспериментально исследовано влияние электрического потенциала на микротвердость образцов из алюминия, циркония и кремнистого железа. Сравнивается влияние собственно электрического потенциала, подаваемого на образец, и потенциала возникающего из-за контактной разности потенциалов при присоединении металлов с иной работой выхода электрона. Обнаружена качественная эквивалентность этих двух типов электрического воздействия. Установлена возможность заметного (до 15%) изменения микротвердости металлов за счет указанных воздействий. Доп.точки доступа: Зуев, Л. Б.; Данилов, В. И.; Коновалов, С. В.; Филипьев, Р. А.; Громов, В. Е. |