53 Г 708 Горшков, О. Н. Дефектные центры в тонких пленках диоксида германия, облученных ионами кремния [Текст] / О. Н. Горшков, Д. И. Тетельбаум [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 3. - С. 10-12 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): диоксид германия -- тонкие пленки -- облучение ионами кремния -- нанокристаллы кремния -- точечные дефекты в пленках Аннотация: Проведен анализ оптических спектров пропускания пленок GeO[2], облученных ионами кремния и прошедших постимплантационный отжиг в режиме образования в пленках нанокристаллов кремния. Показано, что при облучении с дозами D ~ 10\{20\} м\{-2\} в пленках формируются точечные дефекты: германиевые электронные центры, нейтральные кислородные вакансии и Gе\{2+\}-центры, которые отжигались при температуре 1000шС в течение часа. При D ? 1 х 10\{21\} м\{-2\} в пленках возникают более сложные дефекты, которые при тех же условиях отжигаются лишь частично. Доп.точки доступа: Тетельбаум, Д. И.; Антонов, И. Н.; Михайлов, А. Н.; Камин, В. А.; Касаткин, А. П. |
Сорбция германия на анионите из щелочных растворов [Текст] / Д. Э. Чиркст [и др. ] // Журнал прикладной химии. - 2008. - Т. 81, вып: вып. 1. - С. 41-45. - Библиогр.: с. 44-45 (11 назв. ) . - ISSN 0044-4618
Рубрики: Химическая технология Общие вопросы химической технологии Кл.слова (ненормированные): аниониты -- германий -- гидроксоионы -- диоксид германия -- емкостные характеристики -- изотермы ионного обмена -- полиметаллическое сырье -- предельная сорбция -- сорбция германия -- сорбция германия -- технологические растворы -- хелатные аниониты -- щелочные растворы Аннотация: Изучена изотерма ионного обмена на синтетическом сорбенте. Вычислены значения предельной сорбции. Доп.точки доступа: Чиркст, Д. Э.; Чистяков, А. А.; Черемисина, О. В.; Жадовский, И. Т. |
Анализ образцов германия и диоксида германия методами масс-спектрометрии и атомной эмиссии [Текст] / В. К. Карандашев [и др. ] // Журнал аналитической химии. - 2009. - Т. 64, N 3. - С. 274-282 : 3 табл. - Библиогр.: с. 282 (9 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Аналитическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): германий -- Ge -- диоксид германия -- GeO[2] -- масс-спектрометрия -- индуктивно связанная плазма -- атомная эмиссия -- искровая масс-спектрометрия Аннотация: Три многоэлементных метода: масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой; атомная эмиссия с индуктивно связанной плазмой; искровая масс-спектрометрия использованы для определения примесных элементов в образцах германия и оксида германия. Доп.точки доступа: Карандашев, В. К.; Безруков, Л. Б.; Корноухов, В. Н.; Носенко, С. В.; Главин, Г. Г.; Овчинников, С. В. |
Чанышева, Т. А. Определение примесей в высокочистом диоксиде германия атомно-эмиссионным спектральным методом [Текст] / Т. А. Чанышева, И. Р. Шелпакова, А. И. Сапрыкин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 1. - С. 7-10. - Библиогр.: с. 10 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Химические элементы и их соединения Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): определение примесей -- диоксид германия -- высокочистый диоксид германия -- атомно-эмиссионный спектральный метод -- спектральный метод -- монокристаллы германата висмута -- примесный состав -- тетрагональная модификация -- гексагональная модификация -- ортогерманат висмута Аннотация: Предложена методика определения примесей в высокочистом диоксиде германия атомно-эмиссионным спектральным методом. Доп.точки доступа: Шелпакова, И. Р.; Сапрыкин, А. И. |
539.21:535 В 586 Влияние ионной имплантации фосфора на оптические свойства тонких пленок диоксида германия, легированных ионами Er{3+} и Yb{3+} [Текст] / И. Н. Антонов [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 5. - С. 71-77 : ил. - Библиогр.: с. 76-77 (10 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Радиоэлектроника Квантовая электроника Кл.слова (ненормированные): фосфор -- ионная имплантация -- германий -- диоксид германия -- аморфные пленки -- тонкие пленки -- ионы -- легирование -- люминесценция ионов -- имплантация фосфора -- длины волн -- эрбий -- иттербий -- оптические свойства Аннотация: Показано, что ионная имплантация фосфора в тонкие аморфные пленки диоксида германия, легированные ионами Er{3+} и Yb{3+}, может быть использована для усиления люминесценции ионов Er{3+} на длинах волн ~ 1. 53 mum. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/05/p71-77.pdf Доп.точки доступа: Антонов, И. Н.; Горшков, О. Н.; Шушунов, А. Н.; Касаткин, А. П.; Дудин, А. Ю.; Шенина, М. Е. |