Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Электронный каталог (4)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Миронова, Л. В.$<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
371.3
М 641


    Миронова, Л. В.
    Разноуровневый подход в обучении истории в старших классах [Текст] / Л. В. Миронова // Преподавание истории в школе. - 2001. - N6 . - ISSN 0132-0696
УДК
ББК 74.202
Рубрики: Образование. Педагогика--Теория и методика обучения
Кл.слова (ненормированные):
методика преподавания истории -- разноуровневое обучение -- дифференцированное обучение -- уроки истории
Аннотация: В условиях изменения структуры и содержания образования в средней школе особое внимание необходимо уделять сегодня индивидуально-личностному подходу в обучении с учетом индивидуальных особенностей, способностей, возможностей, образовательных потребностей учащихся


Найти похожие

2.
543
М 690


    Михайлова, Л. В.
    Разработка методики входного контроля периклаза на рентгеновском спектрометре "Спектроскан-В" [Текст] / Л. В. Михайлова, Л. В. Миронова, Е. В. Мурашко // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 2. - С. 9-11. - Библиогр.: с. 11 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 24.4
Рубрики: Химия--Аналитическая химия
Кл.слова (ненормированные):
входной контроль; отечественные спектрометры; периклаз; периклазовые материалы; рентгеновские спектрометры; рентгеноспектральный анализ; рентгенофлуоресцентный анализ; спектрометры; Спектроскан-В (спектрометры)
Аннотация: Изложены результаты разработки методики экспрессного анализа периклазовых материалов на отечественном рентгеновском спектрометре "Спектроскан-В".


Доп.точки доступа:
Миронова, Л. В.; Мурашко, Е. В.; ГОСТ, 2642 - 86. Огнеупоры и огнеупорное сырье. Методы анализа; Огнеупоры, и огнеупорное сырье. Методы анализа. ГОСТ 2642 - 86

Найти похожие

3.
539.2
Я 499


    Якушев, М. В.
    Морфология поверхности подложки Si (310), используемой для молекулярно-лучевой эпитаксии CdHgTe: I. Чистая поверхность Si (310 [Текст] / М. В. Якушев, Д. В. Брунев [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 2. - С. 41-47 . - ISSN 0207-3528
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
молекулярно-лучевая эпитаксия -- CdHgTe -- поверхность подложки Si (310) -- отжиг в вакууме -- гетероэпитаксиальные структуры
Аннотация: Методами сканирующей туннельной микроскопии и дифракции электронов высокой и низкой энергии исследовано влияние отжига в вакууме на морфологию гидрогенизированной и окисленной поверхностей Si (310). Установлено, что после десорбции пассивирующего покрытия поверхность имеет сильно развитый рельеф, образованный преимущественно ступенями высотой в два монослоя. Отжиг до температуры 900 плюс минус 15 градусов С с последующим резким остыванием приводит к фасетированию поверхности плоскостями (510). Присутствие на поверхности Si (310) ступеней высотой в два монослоя позволяет использовать кристаллы Si, ориентированные по плоскости (310), в качестве подложки для гетероэпитаксии соединений A\{2\}B\{6\}.


Доп.точки доступа:
Брунев, Д. В.; Романюк, К. Н.; Долбак, А. Е.; Дерябин, А. С.; Миронова, Л. В.; Сидоров, Ю. Г.

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)