Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=тонкие покрытия<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

Радиационно-химический синтез теломеров тетрафторэтилена и их использование для создания тонких защитных фторполимерных покрытий [Текст] / Д. П. Кирюхин [и др. ] // Российский Химический Журнал (ЖРХО им. Д.И.Менделеева). - 2008. - Т. 52, N 3. - С. 66-72. - Библиогр.: с. 71-72 (13 назв. ) . - ISSN 0373-0247

УДК

^a678.8

ББК 35.715
Рубрики: Химическая технология
Полимеры и пластмассы на основе элементоорганических соединений
Кл.слова (ненормированные):
антифрикционные свойства -- гидрофобные покрытия -- дифференциальная сканирующая калориметрия -- инициирующее излучение -- кинетические кривые выхода теломеров -- метод теломеризации -- политетрафторэтилен -- радиационно-химический синтез -- теломеры -- тетрафторэтилен -- тонкие покрытия -- фторполимерные поверхности
Аннотация: Показаны методы получения высокочистых продуктов по экологичной технологии и нанесения тонких покрытий.

Доп.точки доступа:
Кирюхин, Д. П.; Ким, И. П.; Бузник, В. М.; Игнатьева, Л. Н.; Курявый, В. Г.; Сахаров, С. Г.

Найти похожие

Особенности применения спектрометрии тлеющего разряда для проведения количественного послойного анализа тонких покрытий [Текст] / Г. С. Спрыгин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т. 76, N 4. - С. 27-34. - Библиогр.: с. 34 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a543.63

ББК 24.45
Рубрики: Химия
Анализ органических веществ
Кл.слова (ненормированные):
спектрометрия тлеющего разряда -- количественный анализ -- послойный анализ -- тонкие покрытия -- тлеющий разряд -- атомно-эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда -- АЭСТР -- ионное распыление -- эффект кратера -- снижение шума -- фотометрический метод измерения -- метрологические характеристики -- измерение толщины покрытий
Аннотация: Рассмотрены особенности применения спектрометрии тлеющего разряда для проведения количественного послойного анализа тонких покрытий на сталях. Рассмотрены основные области применения спектрометрии тлеющего разряда.

Доп.точки доступа:
Спрыгин, Г. С.; Григорович, К. В.; Шитов, Б. А.; Власова, В. И.

Найти похожие

547
И 395

Изучение ксерогелей, функционализированных 3-меркаптопропильными группами, с помощью {1}H ВМУ ЯМР-спектроскопии [Текст] / Н. В. Столярчук [и др.] // Журнал физической химии. - 2007. - Т. 81, N 6. - С. 1070-1075. - Библиогр.: c. 1075 (18 назв. ) . - ISSN 0044-4537

УДК

547

ББК 24.2
Рубрики: Химия
Органическая химия в целом
Кл.слова (ненормированные):
адсорбенты -- алкоксисилильные группы -- бензол -- водородные связи -- гели -- спирты -- тонкие покрытия -- мембраны -- катализаторы -- ЯМР-спектроскопия -- золь-гель метод
Аннотация: С помощью спектроскопии изучены ксерогели.

Доп.точки доступа:
Столярчук, Н. В.; Мельник, И. В.; Добрянская, Г. И.; Зуб, Ю. Л.; Алонсо, Б.

Найти похожие

543.4/.5
И 395

Изучение химического состава плазмы в процессах получения тонких пленок и покрытий с применением спектрометра "Колибри-2" [Текст] / В. Р. Шаяпов [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1, ч. 2. - С. 96-98. - Библиогр.: с. 98 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

543.4/.5

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
химический состав плазмы -- плазма -- получение тонких пленок -- тонкие пленки -- тонкие покрытия -- получение тонких покрытий -- спектрометры -- Колибри-2 (спектрометры) -- плазмохимическое разложение -- микроплазменный синтез -- гексаметилдисилазан -- оксидные покрытия -- сплавы алюминия -- силикатно-щелочные электролиты -- оптическая эмиссионная спектроскопия -- эмиссионная спектроскопия -- плазмохимическое осаждение -- плазма ВЧ-разряда
Аннотация: Рассмотрено применение спектрометра "Колибри-2" для изучения химического состава плазмы на примерах плазмохимического разложения гексаметилдисилазана и микроплазменного синтеза оксидного покрытия на сплаве алюминия в силикатно-щелочном электролите.

Доп.точки доступа:
Шаяпов, В. Р.; Рогов, А. Б.; Румянцев, Ю. М.; Аюпов, Б. М.; Лабусов, В. А.; Зарубин, И. А.

Найти похожие

539.21:535
Л 947

Люминесцентные и дозиметрические свойства тонких наноструктурированных слоев оксида алюминия, полученных испарением мишени импульсным электронным пучком [Текст] / А. И. Сюрдо [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 23. - С. 55-63 : ил. - Библиогр.: с. 62-63 (10 назв.) . - ISSN 0320-0116

УДК

539.21:535

535.37

537.533/.534

ББК 22.374 + 22.345 + 22.338
Рубрики: Физика
   Оптические свойства твердых тел
   Люминесценция
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
оксид алюминия -- наноструктурированные слои -- тонкие слои -- люминесцентные свойства -- дозиметрические свойства -- мишени -- испарение мишени -- электронные пучки -- импульсные пучки -- оптически стимулированная люминесценция -- термически стимулированная люминесценция -- результаты исследований -- наноструктурированные покрытия -- тонкие покрытия -- подложки -- рентгенофазовый анализ -- аморфно-нанокристаллические структуры -- отжиг -- отклики -- эмиссионно-активные образцы -- облучение -- дозовая зависимость
Аннотация: Представлены результаты исследования оптически и термически стимулированной люминесценции (ОСЛ и ТЛ) тонких наноструктурированных покрытий из оксида алюминия, полученных испарением мишени импульсным электронным пучком и осажденных на подложки из кварцевого стекла, Al, стали, Cu, Ta, графита. Из данных рентгенофазового анализа следует, что полученные слои Al[2]O[3] имеют аморфно-нанокристаллическую структуру с отличающимся содержанием gamma-фазы, вклад которой зависит от геометрии расположения подложек при испарении и температуры отжига образцов. Установлено, что на выходы ОСЛ и ТЛ влияют материал подложки и соотношение аморфной и gamma-фазы в слоях Al[2]O[3]. Отжиг до 970 K приводит к росту концентрации gamma-фазы и откликов ОСЛ и ТЛ. Получено, что выходы ОСЛ и ТЛ у наиболее эмиссионно-активных образцов покрытий сравнимы с таковыми для детекторов на основе анионодефектного корунда. Изучена дозовая зависимость для beta-облучения, которая линейна в диапазоне 20-5000 mGy.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/23/p55-63.pdf

Доп.точки доступа:
Сюрдо, А. И.; Мильман, И. И.; Власов, М. И.; Ильвес, В. Г.; Соковнин, С. Ю.

Найти похожие

544
М 315

Маслеников, И. И.
Исследование возможности использования силовой спектроскопии для определения механохимических свойств тонких покрытий / И. И. Маслеников, А. С. Усеинов // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2014. - Т. 57, вып. 5. - С. 67-70 : 2 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 70 (10 назв.) . - ISSN 0579-2991

УДК

544

ББК 24.5
Рубрики: Химия
Физическая химия в целом
Кл.слова (ненормированные):
наноиндентирование -- тонкие покрытия -- Юнга модули -- модули Юнга -- силовая спектроскопия
Аннотация: Получены значения твердости и модуля упругости для образцов покрытий алмазоподобного углерода на кремнии и платины на кремнии. Зависимости механических характеристик системы от радиуса пятна контакта были обработаны с использованием различных моделей, и из этих данных были получены значения твердости и модуля упругости материала покрытий без влияния свойств подложки.

Доп.точки доступа:
Усеинов, А. С.

Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)