Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновские дифрактометры<.>)
Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6
1.
539.2
А 674


    Анисимов, В. Н.
    Ренгеновский дифрактометр нового поколения ДРОН-7 [Текст] / В. Н. Анисимов, В. А. Лифшиц [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 6 . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Радиоэлектроника--Физика твердого тела--Электроника
Кл.слова (ненормированные):
PD Win (программный комплекс) -- дифрактометры -- ДРОН-7 (дифрактометры) -- программно-аппаратные комплексы -- рентгеновские дифрактометры
Аннотация: Представлен рентгеновский дифрактометр нового поколения ДРОН-7, даны его основные характеристики.


Доп.точки доступа:
Лифшиц, В. А.; Мальков, А. В.; Проничев, В. А.; Тараканов, Е. А.; Фундаменский, В. С.; Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Буревестник"

Найти похожие

2.
539.26
Щ 631


    Щербачев, К. Д.
    D8 DISCOVER - инструмент исследования перспективных материалов для микро- и наноэлектроники [Текст] / К. Д. Щербачев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 5. - C. 40-44 . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

Кл.слова (ненормированные):
D8 DISCOVER (наноэлектроника) -- микроэлектроника -- наноэлектроника -- дифрактометры -- рентгеновские дифрактометры -- многофункциональные рентгеновские дифрактометры -- материаловедение перспективных материалов -- оптические схемы -- неразрушающие методы исследования -- рентгенодифракционные методы -- программное обеспечение -- XRD Commander -- XRD Wizard -- виртуальные дифрактометры
Аннотация: Представлен многофункциональный рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER, позволяющий решать как прикладные, так и фундаментальные задачи в области материаловедения перспективных материалов для микро- и наноэлектроники.


Найти похожие

3.


   
    Опыт использования дифрактометра ДРОН-7 с приставкой ПГТМ для исследования текстур [Текст] / В. Ф. Шамрай [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 1. - С. 32-34. - Библиогр.: с. 34 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.361 + 32.85
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

   Радиоэлектроника

   Электроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометры -- ДРОН-7 -- приставки -- ПГТМ -- исследование текстур -- рентгеновские дифрактометры -- прессованные полосы -- алюминиевые сплавы -- кристаллографические ориентировки
Аннотация: С помощью приставки ПГТМ, установленной на дифрактометре ДРОН-7, произведено рентгеновское исследование текстуры образцов прессованных полос из алюминиевого сплава.


Доп.точки доступа:
Шамрай, В. Ф.; Лившиц, В. А.; Серебряный, В. Н.; Грушко, О. Е.; Гордеев, А. С.

Найти похожие

4.
621.317
С 334


    Сетюков, О. А.
    Влияние юстировки рентгеновского дифрактометра на зависимость периода решетки от экстраполяционной функции Нельсона - Райли [Текст] / О. А. Сетюков, авт. А. И. Самойлов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 8. - С. 34-36. - Библиогр.: с. 36 (3 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 31.22
Рубрики: Энергетика
   Электрические и магнитные измерения в целом

Кл.слова (ненормированные):
юстировка дифрактометров -- рентгеновские дифрактометры -- дифрактометры -- периоды решетки -- кристаллические решетки -- экстраполяционная функция -- Нельсона - Райли уравнение -- уравнение Нельсона - Райли -- метод Нельсона - Райли -- Нельсона - Райли метод -- качество юстировки
Аннотация: Предложена методика оценки качества юстировки рентгеновских дифрактометров с использованием уравнения Нельсона - Райли при определении периодов решеток кристаллических структур.


Доп.точки доступа:
Самойлов, А. И.

Найти похожие

5.
539.26
Д 435


    Дзидзигури, Э. Л.
    Проверка адекватности структурных параметров, полученных на рентгеновском дифрактометре "Дифрей" / Э. Л. Дзидзигури, Е. Н. Сидорова, С. Н. Архипов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 6. - С. 41-45. - Библиогр.: с. 45 (2 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.361 + 22.341
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

   Экспериментальные методы и аппаратура оптики

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские дифрактометры -- дифрактометры -- Дифрей -- истинные физические уширения -- физические уширения -- уширения -- когерентное рассеяние -- области когерентного рассеяния -- рентгеноструктурный анализ -- нанопорошки металлов -- нанокомпозиты -- электронная микроскопия
Аннотация: Рассчитаны истинные физические уширения бета рентгеновских максимумов интенсивности, снятых на дифрактометре "Дифрей".


Доп.точки доступа:
Сидорова, Е. Н.; Архипов, С. Н.

Найти похожие

6.
620.1/.2
К 893


    Кузьмина, Н. А.
    Методика получения прямых полюсных фигур от монокристаллов жаропрочных сплавов на рентгеновских дифрактометрах типа "ДРОН" с использованием гониометрической приставки ГП-13 / Н. А. Кузьмина, А. А. Алексеев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 5. - С. 39-43. - Библиогр.: с. 42-43 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 30.3 + 22.37
Рубрики: Техника
   Материаловедение

   Физика

   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
прямые полюсные фигуры -- полюсные фигуры -- монокристаллы -- жаропрочные сплавы -- рентгеновские дифрактометры -- ДРОН -- гониометрические приставки -- ГП-13 -- программное обеспечение -- структурные исследования -- кристаллографические текстуры -- рентгенографический метод -- метод полюсных фигур -- дифрактометрический метод
Аннотация: Описана методика съемки образцов монокристаллов жаропрочных сплавов с помощью рентгеновской дифрактометрии для получения прямых полюсных фигур на стандартной гониометрической приставке ГП-13. Получены точные данные о строении структуры монокристаллов, исключая сложную процедуру проведения съемок на специализированном оборудовании.


Доп.точки доступа:
Алексеев, А. А.; ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" (Москва)ФГУП "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" (Москва)

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)