535 С 569 Согр, А. А. Оценка разрешения РЭМ изображения доменной структуры сегнетоэлектриков в режиме теплового воздействия [Текст] / А. А. Согр, А. Г. Масловская // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 11. - Библиогр.: c. 114 (8 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): доменные структуры -- пироток -- разрешение изображения -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ изображение -- сегнетоэлектрики Аннотация: Рассматриваются особенности контраста растрового изображения доменной структуры сегнетоэлектрика в режиме пиротока. Приведены расчеты, основанные как на учете скорости нагрева отдельных частей домена, так и на расчете диффузии тепла через границы доменов и кристалла. Диффузия тепла приводит к размытию изображения небольших доменов. Показано, что наряду с диаметром зонда скорость сканирования является существенным фактором, определяющим характер контраста растрового изображения. Уменьшение скорости сканирования может существенно снизить разрешение изображения даже при малом диаметре зонда. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/11/page-111.html.ru Доп.точки доступа: Масловская, А. Г. |