539.2 Ш 958 Шульпина, И. Л. Применение комплекса дифракционных методов в исследовании реальной структуры материалов (обзор [Текст] / И. Л. Шульпина // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 1. - Библиогр.: с. 27 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Геология--Минералогия--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дефекты -- диагностика материалов -- дислокации -- дифрактометрия (метод) -- дифракция -- материаловедение -- микроскопия -- техника -- топография (метод) -- электронная микроскопия (метод) -- электронная техника Аннотация: Обсуждается целесообразность комплексного применения дифракционных методов - рентгеновской дифрактометрии, топографии и электронной микроскопии - для исследования реальной структуры новых материалов электронной техники. Показаны возможности такого применения с учетом современного состояния дифракционных методов. |