539.2 Б 121 Бабанов, Ю. А. Нанокристаллические твердые растворы Ni-Mn - новые материалы с конкурирующим обменным взаимодействием [Текст] / Ю. А. Бабанов, В. П. Пилюгин [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 6. - С. 70-72 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): твердые растворы -- нанокристаллические твердые растворы -- Ni -- Mn -- электронно-микроскопический метод -- рентгеновское рассеяние -- EXAFS-спектроскопия Аннотация: Проведены структурные исследования нанокристаллических твердых растворов Ni-Mn в широкой области концентраций. Были использованы электронно-микроскопический метод, рентгеновское рассеяние и EXAFS-спектроскопия. Доп.точки доступа: Пилюгин, В. П.; Миянага, Т.; Пацелов, А. М.; Чернышев, Е. Г.; Ряжкин, А. В.; Огасавара, Т. |
Щербина, М. А. Сравнительный анализ самосборки полиметакрилатов с объемными боковыми заместителями различной молекулярной массы в твердом состоянии и в растворах [Текст] / М. А. Щербина, С. Н. Чвалун, V. Percec // Высокомолекулярные соединения. Серия А и Серия Б. - 2008. - Т. 50, N 2. - С. 276-285. - Библиогр.: с. 284 (24 назв. ) . - ISSN 0507-5475
Рубрики: Химия Химия высокомолекулярных соединений Кл.слова (ненормированные): полиметакрилаты -- молекулярная масса -- рентгеновское рассеяние -- полимеры -- надмолекулярные агрегаты -- сканирующая калориметрия -- полимеризация -- гексан Аннотация: Методами малоуглового рентгеновского рассеяния и дифференциальной сканирующей калориметрии проведено сравнительное исследование самоорганизации полиметакрилата с объемными боковыми заместителями на основе галловой кислоты в конденсированном состоянии и в растворе в гексане. Доп.точки доступа: Чвалун, С. Н.; Percec, V. |
Целлюлоза как нанореактор для получения наночастиц никеля [Текст] / Н. Е. Котельникова [и др. ] // Высокомолекулярные соединения. Серия А и Серия Б. - 2008. - Т. 50, N 1. - С. 63-70. - Библиогр.: с. 69-70 (27 назв. )
Рубрики: Химия Химия высокомолекулярных соединений Кл.слова (ненормированные): полимеры -- целлюлоза -- нанореакторы -- наночастицы -- никель -- рентгеновское рассеяние -- спектроскопия -- электронная микроскопия -- нанокомпозиты Аннотация: Методами широкоуглового рентгеновского рассеяния, спектроскопии рентгеновского поглощения, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и сканирующей электронной микроскопии исследовано образование нанокомпозитов целлюлоза-никель. Доп.точки доступа: Котельникова, Н. Е.; Медведева, Д. А.; Лысенко, Е. Л.; Новосёлов, Н. П.; Serimaa, R.; Pirkkalainen, K.; Vainio, U.; Шахмин, А. Л.; Сапрыкина, Н. Н. |
О состоянии Al (III) в спиртовых растворах алкоксидов алюминия по данным ЯМР ({27}AI, {13}C) и малоуглового рентгеновского рассеяния [Текст] / М. А. Федотов [и др. ] // Журнал неорганической химии. - 2008. - Т. 53, N 10. - С. 1735-1741 : рис. - Библиогр.: с. 1741 (19 назв. ) . - ISSN 0044-457X
Рубрики: Химия Химические элементы и их соединения Растворы Кл.слова (ненормированные): растворы -- катализаторы -- алюминий -- рентгеновское рассеяние -- алкоксиды -- гистограммы -- циклические структуры Аннотация: Изучены растворы алкоксидов алюминия, полученных взаимодействием металлического алюминия с метиловым, этиловым и изотропиловым спиртами. Доп.точки доступа: Федотов, М. А.; Молчанов, В. В.; Зотов, Р. Н.; Тузиков, Ф. В. |
Неразрушающие методы контроля нанорельефа поверхности на примере сапфировых подложек [Текст] / В. Е. Асадчиков [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 10. - С. 21-25. - Библиогр.: с. 25 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Механика Измерение механических и геометрических величин Кл.слова (ненормированные): неразрушающие методы контроля -- нанорельеф поверхности -- контроль нанорельефа поверхности -- сапфировые подложки -- шероховатость подложек -- атомно-силовая микроскопия -- рентгеновское рассеяние -- стохастические шероховатые поверхности Аннотация: Исследованы параметры сапфировых подложек методами атомно-силовой микроскопии и рентгеновского рассеяния. Доп.точки доступа: Асадчиков, В. Е.; Буташин, А. В.; Волков, Ю. О.; Грищенко, Ю. В.; Дерябин, А. Н.; Занавескин, М. Л.; Каневский, В. М.; Кожевников, И. В.; Рощин, Б. С.; Тихонов, Е. О.; Толстихина, А. Л.; Федоров, В. А. |
Горай, Л. И. Определение углов наклона и высот граней квантовых точек из анализа диффузного и зеркального рентгеновского рассеяния [Текст] / Л. И. Горай, Н. И. Чхало, Г. Э. Цырлин // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 4. - С. 117-124. - Библиогр.: c. 124 (19 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): квантовые точки -- рентгеновское рассеяние -- рентгеновская рефлектометрия -- многослойные ансамбли квантовых точек Аннотация: С помощью высокоразрешающей скользящей рентгеновской рефлектометрии (ВСРР) проведен анализ рентгеновского рассеяния на образцах с многослойными ансамблями квантовых точек (КТ), выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии в системе In (Ga) As/GaAs. Впервые экспериментально обнаружены пики интенсивности диффузного рассеяния для структур как с коррелированными по вертикали, так и некоррелированными КТ. Показано, что положение пика полностью определяется углом наклона alpha пирамидальных граней КТ (так называемое "условие блеска дифракционных решеток"), что ранее было предсказано теоретически. Сравнение с результатами моделирования рассеяния на основе метода граничных интегральных уравнений показывает, что простое геометрическое условие позволяет точно определять значение alpha по положению пика интенсивности, форма которого определяется многими параметрами. Как следует из теории и эксперимента, ширина и высота пиков, полученных для образца с коррелированными по вертикали КТ, больше, чем в противоположном случае. По положению и амплитуде брэгговских пиков определены величины шероховатости/взаимодиффузии интерфейсов и высота КТ. Таким образом, традиционное использование ВСРР для определения параметров сверхрешетки и несовершенства границ расширено в предложенном методе до определения геометрии КТ. Доп.точки доступа: Чхало, Н. И.; Цырлин, Г. Э. |
Полиэдральные наноразмерные частицы углерода при высоких давлениях [Текст] / В. А. Давыдов [и др. ] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып: вып. 12. - С. 861-865
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): рентгеновская дифракция -- рентгеновское рассеяние -- полиэдральные наночастицы -- углеродные наночастицы -- трансформация графеновых слоев -- онионоподобные структуры -- онионоподобная сердцевина Аннотация: Методами рентгеновской дифракции, малоуглового рентгеновского рассеяния и просвечивающей электронной микроскопии изучены твердофазные превращения полиэдральных наночастиц углерода при давлении 8. 0 ГПа и различных температурах. Обнаружено, что при температурах выше ~1000 градусов C в системе наблюдается трансформация графеновых слоев внутренних полостей полиэдральных частиц в онионоподобные структуры, приводящая к образованию гибридного типа sp\{2\}-углеродных наночастиц, сочетающих внешнюю полиэдральную форму с квазисферической онионоподобной сердцевиной. При 1600 градусах С полиэдральные наночастицы с размерами менее ~40 нм полностью превращаются в онионоподобные частицы. Доп.точки доступа: Давыдов, В. А.; Ширяев, А. А.; Рахманина, А. В.; Филоненко, В. П.; Васильев, А. Л.; Отре, C.; Агафонов, В. Н.; Хабашеску, В. Н. |
Влияние термического фактора на процесс концентрационно-структурного упорядочения в ионно-плазменных конденсатах системы W-Ti-B [Текст] / А. П. Шпак [и др. ] // Журнал технической физики. - 2010. - Т. 80, N 8. - С. 75-79. - Библиогр.: c. 79 (12 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): концентрационно-структурное упорядочение -- ионно-плазменные конденсаты -- малоугловое рентгеновское рассеяние -- рентгеновское рассеяние -- твердые растворы -- диффузионная подвижность -- объемно-модулированные структуры -- одномерно-модулированные структуры -- упорядочение атомов -- отжиг -- ионное распыление -- расслоение конденсата -- концентрационное расслоение -- концентрационное упорядочение Аннотация: Методом малоуглового рентгеновского рассеяния исследовано влияние режимов формирования и отжига на протекание в ионно-плазменных конденсатах системы W-Ti-B концентрационно-структурного упорядочения. Образуемая модулированная структура при относительно низкой (до 770 K) температуре конденсации твердого раствора имеет однородное объемное распределение структурных фрагментов. Выявлен постадийный механизм перехода от объемно-модулированной структуры к одномерно-модулированной при увеличении температуры формирования от 570 до 1170 K. Установлено уменьшение диффузионной подвижности при создании модулированной структуры на основе упорядочения металлических (W-Ti) атомов при увеличении времени отжига метастабильного постконденсационного состояния ионно-плазменного конденсата. При использовании трехэлектродной схемы ионного распыления действие радиационного фактора приводит к усилению эффекта концентрационного расслоения в конденсате, понижает температуру перехода и стимулирует увеличение длины волны lambda[od] концентрационного упорядочения. Доп.точки доступа: Шпак, А. П.; Соболь, О. В.; Куницкая, Л. Ю.; Барабаш, М. Ю.; Куницкий, Ю. А.; Хоменко, Л. Г. |
539.21:535 А 640 Анализ стуктуры фотонных кристаллов методом ультрамалоуглового рентгеновского рассеяния [Текст] / А. В. Васильев [и др.] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 136, вып. 1. - С. 37-43. - Библиогр.: с. 42-43 . - ISSN 0044-4510
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): опалы -- фотонные кристаллы -- рентгеновское рассеяние -- кристаллы -- рассеяние -- метод ультрамалоуглового рентгеновского рассеяния -- пленочные инвертированные опалы -- инвертированные опалы -- ультрамалоугловое рентгеновское рассеяние Аннотация: Результаты исследования структуры образцов пленочных инвертированных опалов на основе оксида железа (III) методом ультрамалоуглового рентгеновского рассеяния. Доп.точки доступа: Васильев, А. В.; Григорьева, Н. А.; Григорьев, С. В.; Третьяков, Ю. Д.; Синицкий, А. С.; Петухов, А. В.; Мистонов, А. А.; Белов, Д. В.; Абрамова, В. В. |
546.824-31:541.182.642:541.18.04 А 256 Агрегация нанокристаллов Tio[2] в водных растворах [Текст] / О. Б. Павлова-Веревкина [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 7. - С. 1071-1072. - Библиогр.: c. 1072 (5 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Химия Общая и неорганическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): водные растворы -- медленная агрегация -- нанокристаллы Tio[2] -- полидисперсные гидрозоли -- рентгеновское рассеяние -- ступенчатая коагуляция -- узкие фракции Аннотация: Узкие фракции нанокристаллов Tio[2] выделены из полидисперсных гидрозолей с помощью ступенчатой коагуляции добавками сильных кислот. Доп.точки доступа: Павлова-Веревкина, О. Б.; Озерина, Л. А.; Голубко, Н. В.; Озерин, А. Н. |
544 С 568 Современные подходы к исследованию тонких пленок и монослоев: рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения и метод стоячих рентгеновских волн / М. А. Щербина [и др.]. // Успехи химии. - 2014. - Т. 83, № 12. - С. 1091-1119 : 32 рис., 1 схема, 3 табл. - Библиогр.: с. 1118-1119 (92 назв. ) . - ISSN 0042-1308
Рубрики: Химия Физическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): дифракция в скользящих углах отражения -- метод стоячих рентгеновских волн -- многослойные пленки -- монослои -- однослойные пленки -- производные олигомеров тиофена -- рентгеновская рефлектометрия -- рентгеновское рассеяние -- тонкие пленки -- тонкопленочные покрытия Аннотация: Рассмотрены современные экспериментальные подходы к исследованию строения тонких пленок различной природы, основанные на эффекте полного отражения рентгеновского излучения от поверхности - рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения, а также метод стоячих рентгеновских волн. Их возможности продемонстрированы на примере исследования различных органических макромолекулярных систем, обладающих полупроводниковыми свойствами и перспективных в качестве тонкослойных транзисторов, светоизлучающих диодов, фотовольтаических ячеек. Показано, что, используя комбинацию указанных методов, можно с высокой степенью точности исследовать строение тонкопленочных материалов и процессов структурообразования в них, т. е. получать информацию, необходимую для повышения эффективности работы элементов органической электроники. Доп.точки доступа: Щербина, М. А. (кандидат физико-математических наук; ведущий научный сотрудник; доцент); Чвалун, С. Н. (доктор химических наук; профессор); Пономаренко, С. А. (член-корреспондент РАН; доктор химических наук; заведующий лабораторией); Ковальчук, М. В. (член-корреспондент РАН; профессор; доктор физико-математических наук; директор); Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова РАН; Московский физико-технический институт; Московский физико-технический институт; Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова РАН. Лаборатория функциональных материалов для органической электроники и фотоники; Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" |