Влдыко, В. Б. Оценка продольного электрического поля, возбуждаемого релятивистским электронным пучком в плазме [Текст] / В. Б. Влдыко // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N5. - Библиогр.: с. 138 (6 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Электричестиво и магнетизм Кл.слова (ненормированные): электрическое поле -- плазма -- релятивистские электроны -- азимутально-симметричная модель -- электронные пучки Аннотация: На азимутально-симметричной модели получена аналитическая оценка продольного электрического поля, возникающего в плазме при инжекции в нее электронного пучка. Полученное соотношение позволяет оценить энергетические потери электронного пучка в той области параметров, в которой теоретические исследования опираются лишь на численное моделирование. Результаты работы представляют интерес для задачи получения релятивистких электронных пучков, их релаксации в плазме, а также для исследования новых методов ускорения заряженных частиц |
Насонов, Н. Н. Интерференционные эффекты в рентгеновском излучении релятивистских электронов, движущихся в кристалле под атомным углом к атомной плоскости [Текст] / Н. Н. Насонов, Г. П. Похил, А. Ф. Тулинов // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N8. - Библиогр.: с. 65 (15 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Ядерная физика Кл.слова (ненормированные): рентгеновское излучение -- релятивистские электроны -- тормозное излучение -- интерференция Аннотация: Рассмотрено рентгеновское излучение релятивистских электронов, взаимодействующих с системой параллельных атомных плоскостей кристалла. Установлены и исследованы аномальные свойства излучения, обусловленные интерференцией параметрического и когерентного тормозного механизмов излучения, одновременно проявляющихся в рассматриваемых условиях Доп.точки доступа: Похил, Г.П.; Тулинов, А.Ф. |
539.12 Ш 958 Шульман, Г. А. Качественная оценка составляющих кинетической энергии продольного непрерывного движения замагниченных релятивистских электронов в пределах уровня Ландау [Текст] / Г. А. Шульман // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N1. - Библиогр.: с.77 (8 назв.) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): релятивистские электроны -- замагниченные электроны -- релятивистская квантовая механика -- кинетическая энергия -- энергия взаимодействия -- уровень Ландау -- магнитное поле Аннотация: В рамках релятивистской квантовой механики показано, что непосредственное вычитание и добавление энергии взаимодействия электрона с магнитным полем к его кинетической энергии в функции напряженности противоречит известному факту, что магнитное поле не производит положительной работы над заряженной частицей |
537.8 Н 316 Насонов, Н. Н. Об эффекте аномального фотопоглощения в параметрическом рентгеновском излучении [Текст] / Н. Н. Насонов, А. В. Носков, В. И. Сергиенко, В. Г. Сыщенко // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N6. - Библиогр.: с.83 (10 назв.) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): рентгеновское излучение -- параметрическое излучение -- релятивистские электроны -- аномальное фотопоглощение -- рассеяние Лауэ Аннотация: Рассматривается параметрическое рентгеновское излучение релятивистских электронов, пересекающих монокристалл. Показывается, что вопреки широко распространенному мнению в параметрическом излучении в геометрии рассеяния Лауэ могут реализовываться условия проявления эффекта аномального фотопоглощения. Предсказываемый эффект позволяет повысить спектрально-угловую плотность излучения в несколько раз Доп.точки доступа: Носков, А.В.; Сергиенко, В.И.; Сыщенко, В.Г. |
539.12 Б 683 Блажевич, С. В. Экспериментальное исследование поляризационного тормозного излучения релятивистских электронов в аморфной и поликристаллической средах [Текст] / С. В. Блажевич, В. К. Гришин [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N3. - Библиогр.: с.70 (10 назв.). - Поляризационное излучение в конденсированных средах (тематический выпуск) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): поляризационное тормозное излучение -- релятивистские электроны -- поликристаллические среды -- аморфные среды Аннотация: Поляризационное тормозное излучение (ПТИ), генерируемое релятивистскими заряженными частицами в плотной среде, представляет новую важную проблему физики излучения заряженных частиц. В данной работе представлены результаты экспериментального исследования ПТИ, проведенного на линейном ускорителе электронов НИИЯФ МГУ; обсуждаются особенности спектрально-углового распределения ПТИ в аморфной и поликристаллической мишени и пути их дальнейшего исследования Доп.точки доступа: Гришин, В.К.; Ишханов, Б.С.; Насонов, Н.Н.; Петухов, В.П.; Чепурнов, А.С.; Шведунов, В.И. |
539.27:530.145 Ш 957 Шульга, Н. Ф. О влиянии формы мишени на переходное излучение релятивистских электронов [Текст] / Н. Ф. Шульга, С. Н. Добровольский, В. В. Сыщенко // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N3. - Библиогр.: с.107 (6 назв.). - Поляризационное излучение в конденсированных средах (тематический выпуск) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): переходное излучение -- релятивистские электроны -- мишень -- угловые характеристики -- диагностика мишеней Аннотация: Рассмотрена задача о переходном излучении релятивистских электронов на полупрозрачном диске и сфере. Показано, что форма и поперечные размеры мишени могут оказать значительное влияние на спектрально-угловые характеристики переходного излучения в области частот w= Доп.точки доступа: Добровольский, С.Н.; Сыщенко, В.В. |
550.3 Б 12 Бабич, Л. П. Фундаментальные характеристики лавины релятивистских убегающих электронов в воздухе [Текст] / Л. П. Бабич, Е. Н. Донской [и др.] // Физика плазмы. - 2004. - Т. 30, N 7. - С. 666-674. - Библиогр.: с. 674 (18 назв. ). - ил.: 10 рис., 3 табл. . - ISSN 0367-2921
Рубрики: Физика--Ядерная физика Геофизика--Общие вопросы геофизики Кл.слова (ненормированные): релятивистские электроны -- электроны -- позитроны -- фотоны -- кинетика плазмы -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- лавины Аннотация: Методом Монте-Карло выполнено численное моделирование лавины релятивистских убегающих электронов в воздухе с учетом большого числа элементарных процессов с участием электронов, позитронов и фотонов. Вычислена зависимость характерного времени усиления лавины от перенапряжения относительно минимума силы трения электронов с атомарными частицами среды. Исследована динамика формирования распределения электронов по энергиям. Вычислены угловые распределения электронов всех энергий и угловые распределения энергетических групп. Получены аналитические аппроксимации энергетических и угловых распределений. Доп.точки доступа: Донской, Е. Н.; Илькаев, Р. И.; Куцык, И. М.; Рюссель-Дюпре, Р. А. |
533.9 Г 68 Гордеев, А. В. О механизме электронных утечек в магнитоизолированной передающей линии, заполненной плазмой [Текст] / А. В. Гордеев // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 9. - С. 847-852. - Библиогр.: с. 852 (11 назв. ) . - ISSN 0367-2921
Рубрики: Физика--Ядерная физика Кл.слова (ненормированные): электронные утечки -- магнитоизолированные линии -- плазма -- релятивистские электроны -- магнитные поля -- ионы Аннотация: Показана возможность протекания тока релятивистских электронов поперек магнитного поля на расстояние, значительно большее радиуса заворота электронов. Полученные результаты используются для объяснения утечек в передающих линиях с магнитной самоизоляцией, которые заполняются распространяющейся с электродов плазмой. Представлено равновесие, описывающее совместный дрейф ионов и электронов поперек сильного магнитного поля. |
53 Н 316 Насонов, Н. Н. Особенности тормозного излучения релятивистских электронов в твердотельных мишенях [Текст] / Н. Н. Насонов, авт. П. Н. Жукова // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 86, N 3. - С. 236-238 . - ISSN 0370-274X
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): релятивистские электроны -- тормозное излучение релятивистских электронов -- твердотельные мишени -- формула Бете-Гейтлера -- Бете-Гейтлера формула Аннотация: Показано, что классический результат Бете и Гейтлера может оказаться неприменимым для описания спектра тормозного излучения релятивистских электронов в реальных твердотельных мишенях. Доп.точки доступа: Жукова, П. Н. |
53 С 959 Сыщенко, В. В. Об эйкональном приближении в теории переходного излучения [Текст] / В. В. Сыщенко, авт. Н. Ф. Шульга // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 4. - С. 49-55 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): переходное излучение -- релятивистские электроны -- неоднородные среды -- эйкональное приближение -- метод эквивалентных фотонов Аннотация: Рассматривается процесс переходного излучения релятивистских электронов в неоднородных средах. Предложен способ его описания, основанный на методе эквивалентных фотонов и эйкональном приближении волновой механики. Получены формулы спектрально-угловой плотности переходного излучения для случая, когда диэлектрическая проницаемость зависит от нескольких координат. Проведено сравнение основных результатов теории переходного излучения в борновском и эйкональном приближениях. Полученные формулы применены для анализа переходного излучения на нитевидной мишени. Доп.точки доступа: Шульга, Н. Ф. |
53 Б 683 Блажевич, С. В. Интерференция ПРИ и ДПИ релятивистского электрона в полубесконечном кристалле [Текст] / С. В. Блажевич, авт. А. В. Носков // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 4. - С. 62-68 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): релятивистские электроны -- параметрическое рентгеновское излучение -- дифрагированное переходное излучение -- полубесконечный монокристалл -- интерференция -- динамическая теория дифракции -- геометрия рассеяния Брэгга -- Брэгга геометрия рассеяния Аннотация: В работе на основе динамической теории дифракции рассматриваются параметрическое рентгеновское излучение (ПРИ) и дифрагированное переходное излучение (ДПИ) релятивистского электрона, падающего на полубесконечный монокристалл в геометрии рассеяния Брэгга. Получены аналитические выражения для спектрально-углового распределения ПРИ и ДПИ в условиях их интерференции, учитывающие ориентацию поверхности кристалла относительно системы дифрагирующих атомных плоскостей. Показано, что при фиксированном угле падения электрона спектрально-угловые характеристики ДПИ существенно зависят от указанной ориентации входной поверхности, и возможно создание таких условий, когда интерференция ПРИ и ДПИ оказывает существенное влияние на спектрально-угловое распределение излучения. Доп.точки доступа: Носков, А. В. |
621.375 К 903 Кулипанов, Г. Н. Изобретение В. Л. Гинзбургом ондуляторов и их роль в современных источниках синхротронного излучения и лазерах на свободных электронах [Текст] / Г. Н. Кулипанов // Успехи физических наук. - 2007. - Т. 177, N 4. - С. 384-393. - Библиогр.: с. 392-393 (27 назв. ). - ил.: 9 рис., 2 табл. . - ISSN 0042-1294
Рубрики: Радиоэлектроника--Квантовая электроника Кл.слова (ненормированные): конференции -- доклады -- ондуляторы -- лазеры -- синхротронные излучения -- вигглеры -- релятивистские электроны -- рентгеновское излучение -- свободные электроны -- терагерцевое излучение Аннотация: Представлена история развития трех поколений источников рентгеновского синхротронного излучения, создаваемых на базе накопителей электронов с использованием вигглеров и ондуляторов. Перейти: http://data.ufn.ru//ufn07/ufn07_4/Russian/r074d.pdf Доп.точки доступа: Гинзбург, Виталий Лазаревич |
537.8 Б 683 Блажевич, С. В. Параметрическое рентгеновское излучение вдоль скорости релятивистского электрона в геометрии рассеяния Брэгга [Текст] / С. В. Блажевич, авт. А. В. Носков // Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 6. - С. 48-56. - Библиогр.: c. 56 (13 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): Брэгга рассеяния -- динамическая теория дифракции -- дифрагирующие атомные плоскости -- монокристаллические пластинки (физика) -- параметрическое рентгеновское излучение вперед -- переходное излучение -- ПРИВ -- рассеяния Брэгга -- релятивистские электроны -- спектрально-угловое распределение ПРИВ Аннотация: В геометрии рассеяния Брэгга на основе динамической теории дифракции исследовано параметрическое рентгеновское излучение вперед (ПРИВ) релятивистского электрона в монокристаллической пластинке. Получены аналитические выражения для спектрально-углового распределения ПРИВ и переходного излучения (ПИ), учитывающие ориентацию поверхности кристалла относительно системы дифрагирующих атомных плоскостей, позволившие выявить условия, при которых вклад ПРИВ оказывается существенным даже в случае толстого поглощающего кристалла. Доп.точки доступа: Носков, А. В. |
537.533 Б 683 Блажевич, С. В. Увеличение спектрально-угловой плотности ПРИ в геометрии Лауэ за счет изменения угла между поверхностью мишени и отражающими атомными плоскостями [Текст] / С. В. Блажевич, авт. А. В. Носков // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 3. - С. 62-70 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): параметрическое рентгеновское излучение -- дифрагированное переходное излучение -- спектрально-угловая плотность -- геометрия Лауэ -- Лауэ геометрия -- релятивистские электроны -- монокристаллические пластинки Аннотация: На основе двухволнового приближения динамической теории дифракции рассматривается когерентное рентгеновское излучение релятивистского электрона, пересекающего с постоянной скоростью монокристаллическую пластинку в геометрии рассеяния Лауэ. Получены аналитические выражения, описывающие спектрально-угловое распределение параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) и дифрагированного переходного излучения (ДПИ). Рассматривается случай, когда система дифрагирующих атомных плоскостей кристалла расположена под произвольным углом дельта к поверхности кристаллической пластинки (асимметричное отражение). Симметричному отражению в данной геометрии рассеяния соответствует значение дельта = пи/2. Исследована зависимость спектрально-угловой плотности ПРИ, ДПИ от угла дельта. Показано, что ширина спектра ПРИ существенно зависит от данного угла, что позволяет, в частности, значительно повысить угловую плотность ПРИ путем уменьшения угла дельта. Доп.точки доступа: Носков, А. В. |
539.2 В 934 Высоцкий, В. И. Параметрическое каналирование и коллапс пучков заряженных частиц с внутренней структурой в кристаллах. 2. Параметрические процессы при каналировании атомарных ионов, ядер и релятивистских электронов в кристаллах [Текст] / В. И. Высоцкий, авт. М. В. Высоцкий // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 3. - С. 101-112 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): кристаллы -- кристаллические каналы -- заряженные частицы -- параметрическое каналирование -- коллапс пучков заряженных частиц -- атомарные ионы -- ядра атомов -- релятивистские электроны Аннотация: Рассмотрены особенности параметрических эффектов при каналировании атомарных ионов, ядер и релятивистских электронов (позитронов) в кристаллах. Показано, что наличие параметрической связи между состояниями каналирования ионов в поле кристаллических осей и плоскостей и состояниями электронов в объеме иона приводят к возможности "параметрического коллапса" пучка - уменьшению амплитуды колебаний атомарного иона в канале за счет периодической передачи энергии колебаний иона внутреннему электрону атома. Этот же эффект может быть использован для охлаждения пучков за счет передачи энергии внутренним ядерным состояниям с низкой энергией уровней. Показано, что параметрическое охлаждение пучков с уменьшением поперечной энергии может иметь место также при аксиальном каналиронании пучков релятивистских электронов. Этот процесс обусловлен параметрической связью между состояниями каналирования, вызванными наличием заряда у частицы, и состояниями спина электрона в эффективном магнитном поле, возникающем в движущейся системе координат. Доп.точки доступа: Высоцкий, М. В. |
539.1 Д 445 Дидык, А. Ю. Расчет параметров, характеризующих дефектообразование в материалах при облучении релятивистскими электронами [Текст] / А. Ю. Дидык, О. С. Козлов, А. Хофман // Физика и химия обработки материалов. - 2008. - N 1. - С. 5-8 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Физика Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): релятивистские электроны -- дефектообразование в материалах -- облучение электронами -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- дефектообразования релятивистских электронов -- энергия электронов -- твердые тела -- каскады смещений Аннотация: Показано, что расчеты методом Монте-Карло сечения дефектообразования релятивистских электронов в области энергий электронов E<2, 0 МэВ дают завышенные, а при E>2, 0 МэВ - заниженные по сравнению с аналитическими расчетами значения, тогда как среднее число вакансий при E<3-4 МэВ, наоборот, занижается, а при более высоких энергиях - завышается при расчетах методом Монте- Карло. Доп.точки доступа: Козлов, О. С.; Хофман, А. |
Характеристики лавины релятивистских электронов в воздухе [Текст] / Л. П. Бабич, Е. Н. Донской, И. М. Куцык, Р. А. Рюссель-Дюпре // Доклады Академии наук. - 2004. - Т. 394, N 3. - С. 320-323 . - ISSN 0869-5652
Рубрики: Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): атмосферные разряды -- генерации лавин -- программа ЭЛИЗА -- распределение электронов -- релятивистские электроны -- убегающие электроны -- электрическая сила -- энергия электронов Аннотация: Приводятся наиболее важные результаты соответствующих расчетов, выполненные по программе ЭЛИЗА с правильным учетом поля. Доп.точки доступа: Бабич, Л. П.; Донской, Е. Н.; Куцык, И. М.; Рюссель-Дюпре, Р. А. |
Модификация EDXD метода диагностики структурированных сред [Текст] / П. Н. Жукова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 10. - С. 32-37. - Библиогр.: с. 37 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Технология металлов Металловедение цветных металлов и сплавов Кл.слова (ненормированные): EDXD метод -- energy dispersive x-ray diffraction -- модификация EDXD метода -- диагностика структурированных сред -- структурированные среды -- дифракция кулоновского поля -- кулоновское поле -- релятивистские электроны -- конденсированные среды -- диагностика атомной структуры -- поликристаллы -- поляризационное тормозное излучение Аннотация: Анализируются простые модели процесса дифракции кулоновского поля релятивистских электронов в конденсированной среде, показывающие принципиальную возможность использования обсуждаемого процесса для диагностики атомной структуры материалов. Доп.точки доступа: Жукова, П. Н.; Кубанкин, А. С.; Насонов, Н. Н.; Сергиенко, В. И. |
Ефремов, В. И. Многократное рассеяние релятивистских электронов и позитронов в тонких кристаллах вольфрама [Текст] / В. И. Ефремов, В. А. Долгих, Ю. Л. Пивоваров // Известия вузов. Физика. - 2007. - N 12. - С. 61-65. - Библиогр.: c. 65 (4 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика твердого тела. Кристаллография в целом Физика Кл.слова (ненормированные): релятивистские электроны -- позитроны -- рассеяние электронов -- кристаллы вольфрама Аннотация: В статье рассмотрено многократное рассеяние релятивистских электронов и позитронов в тонких кристаллах вольфрама. Доп.точки доступа: Долгих, В. А.; Пивоваров, Ю. Л. |
Блажевич, С. В. Параметрическое рентгеновское излучение релятивистского электрона в условиях асимметричного отражения [Текст] / С. В. Блажевич, А. В. Носков // Известия вузов. Физика. - 2008. - Т. 51, N 8. - С. 80-89. - Библиогр.: с. 89 (18 назв) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Классическая электродинамика. Теория относительности Кл.слова (ненормированные): асимметрические отражения -- дифрагированные переходные излучения -- ДПИ -- параметрическое рентгеновское излучение релятивистского электрона -- ПРИ -- релятивистские электроны -- двухволновое приближение динамической теории дифракции Аннотация: В двухволновом приближении динамической теории дифракции рассматривается когерентное рентгеновское излучение релятивистского электрона. Получены аналитические выражения, описывающие спектрально-угловое распределение параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) и дифрагированного переходного излучения (ДПИ). Доп.точки доступа: Носков, А. В. |