539.26 Л 557 Лидер, В. В. Метод стоячих рентгеновских волн для диагностики поверхности и нанослоев конденсированных сред (обзор) / рец. В. В. Лидер // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 9. - С. 26-35. - Библиогр.: с. 33-35 (81 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): метод стоячих рентгеновских волн -- стоячие волны -- рентгеновские волны -- диагностика поверхности -- диагностика нанослоев -- конденсированные среды -- обзоры -- структурно-чувствительная спектроскопия -- тонкие пленки -- наноструктуры -- вторичное излучение -- флуоресцентное излучение -- дифракция -- кривая дифракционного отражения -- полное внешнее отражение -- интерференция -- пленка Ленгмюра - Блождетт -- Ленгмюра - Блождетт пленка Аннотация: Описан метод стоячей рентгеновской волны - структурно-чувствительная спектроскопия поверхности конденсированных сред и тонких пленок. Рассмотрены основы теории метода и возможности его использования для исследования кристаллических и органических наноструктур. Доп.точки доступа: Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (Москва) |
544 С 568 Современные подходы к исследованию тонких пленок и монослоев: рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения и метод стоячих рентгеновских волн / М. А. Щербина [и др.]. // Успехи химии. - 2014. - Т. 83, № 12. - С. 1091-1119 : 32 рис., 1 схема, 3 табл. - Библиогр.: с. 1118-1119 (92 назв. ) . - ISSN 0042-1308
Рубрики: Химия Физическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): дифракция в скользящих углах отражения -- метод стоячих рентгеновских волн -- многослойные пленки -- монослои -- однослойные пленки -- производные олигомеров тиофена -- рентгеновская рефлектометрия -- рентгеновское рассеяние -- тонкие пленки -- тонкопленочные покрытия Аннотация: Рассмотрены современные экспериментальные подходы к исследованию строения тонких пленок различной природы, основанные на эффекте полного отражения рентгеновского излучения от поверхности - рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения, а также метод стоячих рентгеновских волн. Их возможности продемонстрированы на примере исследования различных органических макромолекулярных систем, обладающих полупроводниковыми свойствами и перспективных в качестве тонкослойных транзисторов, светоизлучающих диодов, фотовольтаических ячеек. Показано, что, используя комбинацию указанных методов, можно с высокой степенью точности исследовать строение тонкопленочных материалов и процессов структурообразования в них, т. е. получать информацию, необходимую для повышения эффективности работы элементов органической электроники. Доп.точки доступа: Щербина, М. А. (кандидат физико-математических наук; ведущий научный сотрудник; доцент); Чвалун, С. Н. (доктор химических наук; профессор); Пономаренко, С. А. (член-корреспондент РАН; доктор химических наук; заведующий лабораторией); Ковальчук, М. В. (член-корреспондент РАН; профессор; доктор физико-математических наук; директор); Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова РАН; Московский физико-технический институт; Московский физико-технический институт; Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова РАН. Лаборатория функциональных материалов для органической электроники и фотоники; Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" |