621.38 С 722 Спирин, В. Г. Исследование погрешностей определения параметров тонкопленочного резистора [Текст] / В. Г. Спирин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 2. - С. 33-36. - Библиогр.: с. 36 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника Кл.слова (ненормированные): исследование погрешностей -- косвенные методы -- многокристальные модули -- погрешности -- резисторы -- систематические погрешности -- случайные погрешности -- тонкопленочные многокристальные модули -- тонкопленочные резисторы Аннотация: Описаны разработанные косвенные методы расчета средних систематических и случайных погрешностей параметров физической структуры тонкопленочного резистора, которые используют измеренные значения сопротивлений резисторов специальной формы. |