Емельянов, А. М. Дифференциальный метод анализа спектров люминесценции полупроводников [Текст] / А. М. Емельянов // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып: вып. 9. - С. 1170-1175 : ил. - Библиогр.: с. 1174-1175 (16 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): люминесценция полупроводников -- спектры люминесценции -- дифференциация спектров -- поглощение монокристаллов -- монокристаллы кремния -- твердые растворы -- запрещенные зоны -- методы анализа люминесценции Аннотация: Предложен метод анализа спектров люминесценции полупроводников, основанный на дифференцировании спектров. Возможности метода продемонстрированы в области края поглощения монокристаллов кремния и твердого раствора SiGe. Метод превосходит по точности ранее известные люминесцентные методы определения ширины запрещенной зоны для непрямозонных полупроводников и практически нечувствителен к различным условиям вывода излучения из образца. |