537.533.35 Г 970 Гутаковский, А. К. Применение высокоразрешающей электронной микроскопии для визуализации и количественного анализа полей деформации в гетеросистемах [Текст] / А. К. Гутаковский, А. Л. Чувилин, Se Ahn Song // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1464-1470. - Библиогр.: c. 1470 (23 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): анализ геометрической фазы -- атомное строение -- визуализация -- высокоразрешающая электронная микроскопия -- гетеросистемы -- количественный анализ -- кристаллические решетки -- метод геометрической фазы -- поля деформации -- пространственные частоты -- рассеяние -- упругие деформации -- электронная микроскопия Аннотация: Рассмотрены общие принципы, возможности и ограничения классического метода геометрической фазы. Для расширения его возможностей разработан новый обобщающий подход, заключающийся в анализе всех доступных пространственных частот высокоразрешающего электронно-микроскопического изображения. Доп.точки доступа: Чувилин, А. Л.; Se Ahn Song |