Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог
Статьи из журналов: 2001-2014
Труды ОмГУ
История ОмГУ
Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=процессы распыления<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Пляка, П. С.
    Особенности спектров оптической эмиссии плазмы высокочастотного разряда в процессе распыления феррита висмута [Текст] / П. С. Пляка, Г. Н. Толмачев // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 4. - С. 88-94 : ил. - Библиогр.: с. 93-94 (10 назв. ) . - ISSN 0320-0116
УДК
^a533.9
ББК 22.333
Рубрики: Физика
   Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Кл.слова (ненормированные):
спектры оптической эмиссии -- оптическая эмиссия -- плазма -- высокочастотные разряды -- процессы распыления -- феррит висмута -- ВЧ-разряд -- BiFeO[3] -- металлические сплавы -- металлические мишени -- висмут -- железосодержащие сплавы
Аннотация: Выполнены сравнительные исследования спектров оптической эмиссии плазмы кислородного ВЧ-разряда в процессе распыления мишени из BiFeO[3] и железосодержащих металлических сплавов. Обнаружены две аномально яркие линии атомов железа, характерные только для феррита висмута и слабо выраженные при использовании металлических мишеней. Получено подтверждение полного отсутствия в спектре линий висмута. Предложен механизм возбуждения аномальных линий железа 613. 6 и 306. 7 nm при распылении мишени из BiFeO[3].


Доп.точки доступа:
Толмачев, Г. Н.

Найти похожие
2.


    Диденко, П. И.
    Динамика радиационных дефектов в приповерхностной области образцов природного кварца при распылении пучком ионов кислорода [Текст] / П. И. Диденко, А. А. Ефремов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 4. - С. 87-94
УДК
^a539.2
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
масс-спектрометрия -- вторичные ионы -- бомбардировка ионами -- примесно-дефектная релаксация -- компьютерное моделирование -- процессы распыления
Аннотация: Методом масс-спектрометрии вторичных ионов исследованы образцы природного кварца в режиме остановленной и возобновленной бомбардировки ионами молекулярного кислорода (ионный микрозонд Cameca IMS-4f). При этом один и тот же участок поверхности подвергался ионной бомбардировке через промежутки времени разной продолжительности. Подробный анализ полученных масс-спектров (Si[n]O\{+\}[m], H\{+\}, O\{+\}, OH\{+\}) позволил выявить ряд особенностей “естественной” структурной и примесно-дефектной релаксации как приповерхностного слоя матрицы SiO[2], так и ее объема. Для объяснения эволюции масс-спектров проведено компьютерное моделирование процессов распыления и ионного перемешивания поверхности SiO[2] пучком ионов кислорода в режиме повторной ионной бомбардировки.


Доп.точки доступа:
Ефремов, А. А.

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)