Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=полупроводниковые детекторы<.>)

Общее количество найденных документов : 13
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-13

539.1/.18
Б 190

Бакалейников, Л. А.
Теоретические принципы работы полупроводникового детектора, основанного на p-n-переходе [Текст] / Л. А. Бакалейников, Е. Ю. Флегонтова, К. Ю. Погребицкий, И. В. Еремин // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 9. - Библиогр.: c. 85 (19 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

539.1/.18

621.38

ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика--Электроника
Кл.слова (ненормированные):
p-n-переходы -- детекторы ионизирующих излучений -- метод Монте-Карло -- полупроводниковые детекторы
Аннотация: Проведен расчет собранного заряда, возникающего в полупроводниковом детекторе p{+}-n-n{+}-типа при взаимодействии с моноэнергетическим пучком электронов при энергиях в диапазоне 7-25 keV. Генерация электронно-дырочных пар (ЭДП) рассчитана на основе метода Монте-Карло. В рамках диффузионно-дрейфовой модели получено аналитическое выражение для вклада генерированных ЭДП в регистрируемый сигнал. Показано, что потери заряда на рекомбинацию в процессе транспорта заметно влияют на форму детектируемого сигнала. Сравнение моделированных энергетических спектров с экспериментально измеренными демонстрирует хорошее совпадение результатов. Таким образом, развиты основы теоретического подхода, позволяющего рассчитывать рабочие характеристики полупроводниковых детекторов, и на основе этого проводить оптимизацию их параметров в процессе разработки практически важных полупроводниковых пропорциональных детекторов (ППД) для нужд аналитических методов.

Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/09/page-77.html.ru

Доп.точки доступа:
Флегонтова, Е. Ю.; Погребицкий, К. Ю.; Еремин, И. В.

Найти похожие

543
В 195

Васин, М. Г.
Исследования спектрометра с рентгеновской поликапиллярной линзой [Текст] / М. Г. Васин, А. Е. Лахтиков, А. П. Морозов, В. В. Назаров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 2. - Библиогр.: с. 26 (10 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

543

ББК 24.4
Рубрики: Химия--Аналитическая химия
Кл.слова (ненормированные):
детекторы -- линзы -- поликапиллярные линзы -- полупроводниковые детекторы -- РЕИС-И (рентгеновский аппарат) -- рентгеновские аппараты -- рентгеновские линзы -- рентгенофлуоресцентный анализ -- спектрометры
Аннотация: Представлены результаты исследований основных характеристик макета спектрометра РФА на базе маломощного рентгеновского аппарата "РЕИС-И", поликапиллярной линзы и спектрометрической аппаратуры с использованием полупроводникового Si (Li) -детектора.

Доп.точки доступа:
Лахтиков, А. Е.; Морозов, А. П.; Назаров, В. В.

Найти похожие

621.375
А 65

Андрияш, А. В.
Исследование углового распределения и спектра быстрых ионов при облучении мишеней ультракороткими лазерными импульсами установки СОКОЛ-П [Текст] / А. В. Андрияш, Д. А. Вихляев [и др.] // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 2. - С. 156-159. - Библиогр.: с. 159 (9 назв. ). - ил.: 5 рис. . - ISSN 0367-2921

УДК

621.375

539.1/.18

533.9

ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Радиоэлектроника--Квантовая электроника
Кл.слова (ненормированные):
плазма -- диагностика плазмы -- быстрые ионы -- облучение мишеней -- лазерные установки -- полупроводниковые детекторы -- СОКОЛ-П
Аннотация: Представлены результаты экспертов по исследованию углового распределения и спектра быстрых ионов при облучении мишеней из дейтерированного полиэтилена излучением пикосекундной лазерной установки СОКОЛ-П при интенсивности до 2х10{18} Вт/см{2}. Параметры потока ионов измерялись времяпролетными спектрометрами на основе полупроводниковых детекторов.

Доп.точки доступа:
Вихляев, Д. А.; Дмитров, Д. А.; Запысов, А. Л.; Какшин, А. Г.; Капустин, И. А.; Лобода, Е. А.; Лыков, В. А.; Потапов, А. В.; Пронин, В. А.; Санжин, В. Н.; Сапрыкин, В. Н.; Угоденко, А. А.; Чефонов, О. В.; Чижков, М. Н.

Найти похожие

621.3
И 20

Иванов, А. М.
Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц [Текст] / А. М. Иванов, Н. Б. Строкан, Е. В. Богданова, А. А. Лебедев // Физика и техника полупроводников. - 2007. - Т. 41, N 1. - С. 117-121 . - ISSN 0015-3222

УДК

621.3

ББК 31.2
Рубрики: Энергетика--Электротехника
Кл.слова (ненормированные):
SiC-детекторы -- полупроводниковые детекторы -- детекторы полупроводниковые -- радиационная стойкость -- ядерные частицы -- амплитуды импульса -- разрешающая способность детекторов
Аннотация: Изучались особенности работы детекторов, подвергнутых облучению протонами с энергией 8 МэВ и дозой 3 ␇ 10{14}см{-2}. Детекторы были выполнены на базе современных CVD-пленок 4H-SiC n-типа проводимости, имеющих концентрацию нескомпенсированных доноров ~ 2 ␇ 10{14} см{-3} при толщине 55 мкм. Высокая концентрация первично введенных дефектов (~ 2 ␇ 10{17}см{-3}) обусловила глубокую компенсацию проводимости пленки. Обнаружена нестабильность во времени основных характеристик детекторов - амплитуды импульса и разрешающей способности. Эффект связан с долговременным захватом неравновесных носителей на радиационные центры и, как следствие, возникновением в объеме детектора эдс поляризации. Проанализирована кинетика установления стационарных значений указанных выше величин.

Доп.точки доступа:
Строкан, Н. Б.; Богданова, Е. В.; Лебедев, А. А.

Найти похожие

621.3
И 205

Иванов, А. М.
Нестабильность характеристик SiC-детекторов, подвергнутых экстремальному воздействию ядерных частиц [Текст] / А. М. Иванов, Н. Б. Строкан, Е. В. Богданова, А. А. Лебедев // Физика и техника полупроводников. - 2007. - Т. 41, N 1. - С. 117-121 . - ISSN 0015-3222

УДК

621.3

543
Л 844

Лукьянченко, Е. М.
Применение энергодисперсионного рентгеновского анализатора с полупроводниковым детектором БРА-18 в промышленном анализе [Текст] / Е. М. Лукьянченко, авт. Р. И. Плотников // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 12. - С. 16-20. - Библиогр.: с. 20 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

543

ББК 24.4
Рубрики: Химия
Аналитическая химия
Кл.слова (ненормированные):
анализаторы -- БРА-18 (детекторы) -- детекторы -- качественный анализ -- количественный анализ -- полупроводниковые детекторы -- промышленный анализ -- рентгеновские анализаторы -- энергодисперсионные рентгеновские анализаторы
Аннотация: Описан энергодисперсионный рентгеновский анализатор БРА-18, предназначенный как для качественного, так и для высокоточного количественного анализа, рассмотрены основные технические характеристики, отличительные особенности, а также приведены примеры его применения для количественного анализа ряда промышленных материалов.

Доп.точки доступа:
Плотников, Р. И.

Найти похожие

539.1/.18
Г 955

Гуров, Ю. Б.
Измерение толщины нечувствительных слоев полупроводниковых детекторов [Текст] / Ю. Б. Гуров, И. В. Исаков [и др.] // Приборы и техника эксперимента. - 2008. - N 1. - С. 67-71. - Библиогр.: с. 71 (10 назв. ) . - ISSN 0032-8162

УДК

539.1/.18

ББК 22.38
Рубрики: Физика
Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
детекторы -- полупроводниковые детекторы -- нечувствительные слои -- электроны -- гамма-кванты -- альфа-частицы
Аннотация: Представлены способы измерения толщины "мертвых" слоев Si (Li) -и HPGe-детекторов с помощью радиоактивных источников электронов гамма-квантов и альфа-частиц. Разработанная методика позволяет определять толщину этих слоев с погрешностью не хуже 1%.

Доп.точки доступа:
Исаков, И. В.; Карпухин, В. С.; Лапушкин, С. В.; Сандуковский, В. Г.; Чернышев, Б. А.

Найти похожие

539.1
А 471

Алексеев, И. В.
Полупроводниковый детектор нейтронного излучения на основе TiInSe[2] [Текст] / И. В. Алексеев // Приборы и техника эксперимента. - 2008. - N 3. - С. 9-13. - Библиогр.: с. 13 (8 назв. ) . - ISSN 0032-8162

УДК

539.1

ББК 22.38
Рубрики: Физика
Ядерная физика в целом
Кл.слова (ненормированные):
нейтронное излучение -- детекторы -- полупроводниковые детекторы -- кристаллы -- TiInSe[2]
Аннотация: Представлены результаты исследования нового полупроводникового детектора нейтронного излучения на основе кристалла TiInSe[2].

Найти похожие

Афонин, А. А.
Установка для изучения характеристик переноса {218}Po в воздухе [Текст] / А. А. Афонин, А. А. Котляров, А. Ю. Максимов // Приборы и техника эксперимента. - 2010. - N 1. - С. 139-143. - Библиогр.: с. 143 (9 назв. ) . - ISSN 0032-8162

УДК

^a53

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
экспериментальные установки -- детекторы -- полупроводниковые детекторы -- полоний -- радон -- нуклиды -- аэрозоли -- электроосаждение -- свободные атомы
Аннотация: Описаны экспериментальная установка и методика изучения характеристик переноса нуклида {218}Po в воздухе. Методика основана на регистрации распадов атомов {218}Po, которые осаждаются диффузионным путем на поверхность полупроводникового детектора из замкнутого объема, заполненного воздухом с примесью {222}Rn. Показано, что в условиях камеры радиометра с электроосаждением часть атомов {218}Po присоединяется к крупным частицам, для которых существенную роль может играть седиментация. Получены значения скорости присоединения свободных атомов {218}Po к аэрозолям.

Доп.точки доступа:
Котляров, А. А.; Максимов, А. Ю.

Найти похожие

10.

544.22
И 889

Исследование субструктуры нанопорошков NbC [Текст] / А. Б. Михайлова [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 9. - С. 29-33. - Библиогр.: с. 32-33 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

544.22

ББК 24.52
Рубрики: Химия
Химия твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
субструктура нанопорошков -- нанопорошки -- NbC -- карбид ниобия -- микродеформации -- программные комплексы -- метод Брунауэра - Эммета - Теллера -- Брунауэра - Эммета - Теллера метод -- регистрация спектров -- рентгеновские дифракционные спектры -- дифракционные спектры -- спектры -- метод Брэгга - Брентано -- Брэгга - Брентано метод -- полупроводниковые детекторы
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции определены размеры областей когерентного рассеяния и величины микродеформаций в нанопорошках NbC.

Доп.точки доступа:
Михайлова, А. Б.; Сиротинкин, В. П.; Благовещенский, Ю. В.; Шамрай, В. Ф.

Найти похожие

1-10 11-13

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)