Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифрактометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 108
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

537
С 285

Седьмов, Н. А.
Магнитоминералогические особенности магнетита из различных осадочных пород и отложений [Текст] / Н. А. Седьмов, В. Ф. Бабанин [и др.] // Вестник Московского университета. Сер. 3, Физика. Астрономия. - 2004. - N 1. - Библиогр.: с. 65 (10 назв. ) . - ISSN 0201-7385

УДК

537

ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
магнетит -- магнитная фракция -- почва -- мессбауэровская спектроскопия -- магнитные измерения -- рентгеновская дифрактометрия -- растровая электронная микроскопия -- элементарный анализ
Аннотация: С помощью мессбауэровской спектроскопии, магнитных измерений, рентгеновской дифрактометрии, растровой электронной микроскопии и элементарного микроанализа исследованы магнитные фракции, выделенные из различных типов отложений и почв. В изученных магнитных фракциях основная составная часть представлена магнетиком. По форме мессбауэровского спектра, ширине и интенсивности линий установлены магнитные и минералогические особенности природного магнетика и расчитана степень вакансий в его структуре. Показано, что этот параметр магнетита определяется окислительно-восстановительной обстановкой в среде их образования.

Доп.точки доступа:
Бабанин, В. Ф.; Морозов, В. В.; Залуцкий, А. А.; Трухин, В. И.; Шоба, С. А.

Найти похожие

Галиев, Г. Б.
Исследование структурного совершенства, распределения и перерапределения кремния в эпитаксиальных пленках GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках с ориентациями (100), (111)А, (111)В [Текст] / Г. Б. Галиев, В. Г. Мокеров [и др.] // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N4. - Библиогр.: с. 52 (15 назв.) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные пленки -- арсенид галлия -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- рентгеновская дифрактометрия -- атомно-силовая микроскопия -- ВИМС -- термический отжиг -- легирование -- рельеф поверхности -- ионное травление
Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии и ВИМС исследованы распределение кремния до и после термического отжига в тонких легированных слоях GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках с ориентациями (100), (111)А, (111)В. С помощью атомно-силового микроскопа исследованы рельефы поверхности выращенных эпитаксиальных пленок вне и внутри кратера ионного травления, возникающего во время измерения методом ВИМС. Выявлены особенности рельефа поверхности внутри кратера для разных ориентаций. Обнаруженные изменения формы профилей легирования объяснены как особенностями развития рельефа поверхности во время ионного травления при измерении методом ВИМС, так и ускоренной диффузией Si по дефектам роста

Доп.точки доступа:
Мокеров, В.Г.; Сарайкин, В.В.; Слепнев, Ю.В; Шагимуратов, Г.И.; Имамов, Р.М.; Пашаев, Э.М.

Найти похожие

539.2
Ш 958

Шульпина, И. Л.
Применение комплекса дифракционных методов в исследовании реальной структуры материалов (обзор [Текст] / И. Л. Шульпина // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 1. - Библиогр.: с. 27 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

539.2

548/549

ББК 22.37
Рубрики: Геология--Минералогия--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
дефекты -- диагностика материалов -- дислокации -- дифрактометрия (метод) -- дифракция -- материаловедение -- микроскопия -- техника -- топография (метод) -- электронная микроскопия (метод) -- электронная техника
Аннотация: Обсуждается целесообразность комплексного применения дифракционных методов - рентгеновской дифрактометрии, топографии и электронной микроскопии - для исследования реальной структуры новых материалов электронной техники. Показаны возможности такого применения с учетом современного состояния дифракционных методов.

Найти похожие

535.338.43.533.59
И 264

Игнатенко, П. И.
Дифрактометрические исследования влияния условий получения алмазных пленок на монокристалл кремния [Текст] / П. И. Игнатенко, И. В. Сельская // Известия вузов. Физика. - 2002. - Т.45,N2. - Библиогр.: с. 79 (8 назв.) . - ISSN 0021-3411

УДК

535.338.43.533.59

Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
алмазные пленки -- дифрактометрия -- кремниевые подложки -- рост пленок -- синтез пленок
Аннотация: Дифрактометрическим методом исследовано влияние параметров синтеза на рост алмазных пленок. При концентрации метана 2 и 4%, температурах подложек 1073, 1173, 1273 К с повышением давления, от5 до 22 кПа, увеличивается скорость роста алмазной пленки. Максимальная скорость роста (1,2 нм/с) имеет место при давлении 21,3 кПа, температуре подложки 1173 К и концентрации метана 4%. При этом, ка правило, растут текстурированные алмазные пленки с текстурой <110> либо <311>, либо с двойной текстурой <110>+<311>

Перейти: http://www.tsu.ru/ru/derision/physics

Доп.точки доступа:
Сельская, И.В.

Найти похожие

669-176:548.4
У 760

Усов, В. В.
Фрактальная природа дислокационной структуры низколегированной стали контролируемой прокатки [Текст] / В. В. Усов, Н. М. Шкатуляк // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 11. - Библиогр.: с. 48 (17 назв. ) . - ISSN 0021-3411

УДК

669-176:548.4

ББК 34.1 + 34.3
Рубрики: Машиностроение--Общая технология металлов--Металлургия. Металлы и сплавы
Кл.слова (ненормированные):
низколегированные стали -- рентгеновская дифрактометрия -- электронная микроскопия -- пластическая деформация -- деформированные стали -- деформация прокаткой -- деформированные металлические системы
Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии и просвечивающей электронной микроскопии изучена кристаллографическая текстура и дислокационная структура низколегированной стали после контролируемой прокатки. Показано, что формирование кристаллографической текстуры и соответствующей дислокационной структуры взаимосвязано. Эти процессы есть проявление различных сторон общего явления - развитой пластической деформации. Методом покрытия сетками различного масштаба определены фрактальные размерности границ ячеистой дислокационной структуры главных текстурных компонентов деформированной стали.

Доп.точки доступа:
Шкатуляк, Н. М.

Найти похожие

621.357.7
Р 605

Родионов, И. В.
Влияние низкотемпературного окисления опескоструенной поверхности титана на адгезию плазмонапыленных гидроксиапатитовых покрытий [Текст] / И. В. Родионов, А. В. Лясникова, Л. А. Большаков, Ю. В. Серянов // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2003. - Т.46,N6. - Библиогр.: с.64-65 (8 назв.) . - ISSN 0579-2991

УДК

621.357.7

ББК 31.2
Рубрики: Энергетика--Электротехника
Кл.слова (ненормированные):
адгезия -- гидроксиапатитовые покрытия -- окисление -- опескоструенные поверхности -- плазмонапыленные покрытия -- профилометрия -- рентгеновская дифрактометрия -- титан
Аннотация: С помощью профилометрии и рентгеновской дифрактометрии исследовано низкотемпературное окисление опескоструенной поверхности титана. Показано, что вначале окисление идет по прямому логарифмическому закону роста оксидной пленки в "лунках" локального абразивного разрушения, а при временах, больших 48 часов - по обратному логарифмическому закону роста оксидной пленки на межлуночных "гребешках". После 96 часов рост пленки прекращается. По данным адгезиометрии плазмонапыленных гидроксиапатитовых покрытий время межоперационного хранения опескоструенных заготовок титановых дентальных имплантатов в связи с их окислением не должно превышать 30 минут.

Доп.точки доступа:
Лясникова, А.В.; Большаков, Л.А.; Серянов, Ю.В.

Найти похожие

537
В 183

Варнаков, С. Н.
Автоматизация технологического оборудования для получения многослойных структур в сверхвысоком вакууме [Текст] / С. Н. Варнаков, А. А. Лепешев [и др.] // Приборы и техника эксперимента. - 2004. - N 6. - Библиогр.: с. 129 (8 назв. ) . - ISSN 0032-8162

УДК

537

ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
вакуум -- автоматизация -- технологическое оборудование -- многослойные структуры -- тонкие пленки -- полупроводники -- дифрактометрия -- эллипсометры
Аннотация: Описана автоматизация комплекса для получения тонких пленок и многослойных структур полупроводниковых и магнитных материалов в сверхвысоком вакууме.

Доп.точки доступа:
Лепешев, А. А.; Овчинников, С. Г.; Паршин, А. С.; Коршунов, М. М.; Nevoral, P.

Найти похожие

539.2
С 58

Созин, Ю. И.
Критерии аморфного и кристаллического состояний с позиций дифрактометрии координационных сфер (обобщающая статья [] / Ю. И. Созин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 1. - С. 29-37. - Библиогр.: с. 37 (43 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
аморфное состояние; дифрактометрия; координационные сферы; кристаллическое состояние; критерии состояний вещества; уравнение Эренфеста; Эренфеста уравнение
Аннотация: С позиций дифрактометрии координационных сфер - нового научного направления, вводятся и обсуждаются критерии кристаллического и аморфного состояний.

Найти похожие

621.38
Е 63

Енишерлова, К. Л.
Производственный контроль полупроводниковых пластин и эпитаксиальных структур [] / К. Л. Енишерлова, С. С. Сарманов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 6. - С. 30-37. - Библиогр.: с. 36-37 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

621.38

537

ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Радиоэлектроника--Электроника
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия; контроль производства; контрольно-измерительное оборудование; кремниевое производство; пластины; пластины-подложки; полупроводниковые пластины; производственный контроль; рентгеновская дифрактометрия; эпитаксиальные структуры
Аннотация: Рассмотрены основные этапы контроля полупроводниковых пластин-подложек и эпитаксиальных структур в процессе их изготовления на примере кремниевого производства.

Доп.точки доступа:
Сарманов, С. С.

Найти похожие

10.

669
З-81

Золоторевский, Н. Ю.
Эволюция микро- и макротекстуры в процессе волочения стальной проволоки [] / Н. Ю. Золоторевский, Е. В. Нестерова, В. В. Рыбин, Ю. Ф. Титовец // Физика металлов и металловедение. - 2005. - Т. 99, N 1. - С. 80-87. - Библиогр.: с. 87 (15 назв. ) . - ISSN 0015-3230

УДК

669

ББК 34.3
Рубрики: Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы
Кл.слова (ненормированные):
стальные проволоки; волочение; перлиты; рентгеновская дифрактометрия; макроскопическая структура; микроструктура
Аннотация: Развитие текстуры при волочении стали эвтектоидного состава со структурой тонкопластинчатого перлита исследовали методом рентгеновской дифрактометрии.

Доп.точки доступа:
Нестерова, Е. В.; Рыбин, В. В.; Титовец, Ю. Ф.

Найти похожие

1-10 11-20 21-30 31-40 41-50 51-60

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)