621.3 C 99     Cтаростенко, С. Н.     Определение диэлектрической и магнитной проницаемостей по коэффициенту отражения оптически тонких образцов [Текст] / С. Н. Cтаростенко // Радиотехника и электроника. - 2001. - N2 . - ISSN 0033-8494 УДК 621.3 Рубрики: Электротехника--Техника высоких измерений Кл.слова (ненормированные): диэлектрическая проницаемость -- коэффициент отражения -- оптические образцы Аннотация: В рамках компьютерного моделирования проанализирован метод определения диэлектрической и магнитной проницаемостей по измерениям модуля коэффициента отражения оптически тонких образцов. Величины проницаемостей расчитаны по значениям модуля коэффициента отражения и положению короткозамыкателя в этих точках.