Кузнецов, А. М. Влияние дебаевского экранирования на туннельный ток через простой мостиковый электрохимический контакт [Текст] / А. М. Кузнецов, И. Г. Медведев, Е. Ульструп // Электрохимия. - 2008. - Т. 44, N 9. - С. 1059-1068 : 8 рис. - Библиогр. в конце ст. . - ISSN 0424-8570
Рубрики: Химия Электрохимия Кл.слова (ненормированные): сканирующая туннельная микроскопия -- туннельный ток -- двойной слой -- дебаевское экранирование Аннотация: Общие выражения для туннельного тока через электрохимический контакт, содержащий редокс-центр в молекулярной мостиковой группе, с учетом распределения потенциала в туннельном зазоре. Доп.точки доступа: Медведев, И. Г.; Ульструп, Е. |