22.34 Б 437     Белотелов, В. И.     Численное моделирование изображений наночастиц в ближнепольной сканирующей оптической микроскопии [Текст] / В. И. Белотелов, А. П. Пятаков [и др.] // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N1. - Библиогр.: с.8-9 (23 назв.) . - ISSN 0044-4642ББК 22.34 Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): ближнепольная сканирующая оптическая микроскопия -- магнитные наноструктуры -- наночастицы -- численное моделирование Аннотация: Теоретически рассматривается наблюдение магнитных и немагнитных наночастиц в ближнепольной сканирующей микроскопии в режиме сбора фотонов. Приводится основанный на использовании метода тензорных электродинамических функций Грина теоретический подход к нахождению оптического ближнего поля при данной конфигурации наблюдения. При помощи численного моделирования получены характерные изображения наночастиц различной формы. Показано, что на топографических особенностях исследуемых объектов (края и углы частицы) вследствие граничных условий происходит изменение плоскости поляризации излучения, что осложняет наблюдение магнитной структуры наночастицы магнитооптическим методом. Вместе с тем ближнепольное исследование распределения намагниченности в однородных тонких пленках является более эффективным, поскольку в этом случае поворот плоскости поляризации в основном обусловлен магнитными особенностями образца Доп.точки доступа: Пятаков, А.П.; Звездин, А.К.; Котов, В.А.; Логгинов, А.С.