ЭБ ОмГУ И 374 Измерение критических параметров сверхпроводников четырехзондовым методом [Электронный ресурс] : лабораторный практикум для студентов физического факультета / Ом. гос. ун-т им. Ф. М. Достоевского ; [сост.: И. С. Позыгун, Г. М. Серопян, С. А. Сычев ; рец.: М. П. Ланкина, В. И. Дубовик]. - Электрон. текстовые дан. (1 файл : 594 Кб). - Омск : Издательство ОмГУ, 2019. - Загл. с титул. экрана. - Pdf формат. - Библиогр. - В надзаг. также: М-во науки и высш. образования Рос. Федерации. - 0.00 Параллельные издания: Измерение критических параметров сверхпроводников четырехзондовым методом : лабораторный практикум : для студентов физического факультета / Ом. гос. ун-т им. Ф. М. Достоевского. - Омск : Издательство ОмГУ, 2019. - 17 с.: рис., табл. - ISBN 978-5-7779-2416-2 (Шифр В37/И 374) Содержание: Четырехзондовый метод Методика измерения критической температуры и ширины перехода в сверхпроводящее состояние Измерение плотности критического тока пленок и керамик
Рубрики: Сверхпроводники--Измерение--Учебные издания для высших учебных заведений Файл: 2019127.pdf Держатели документа: ЭБ ОмГУ Доп.точки доступа: Позыгун, Ирина Станиславовна \сост.\; Серопян, Геннадий Михайлович \сост.\; Сычев, Сергей Александрович \сост.\; Ланкина, Маргарита Павловна \рец.\; Дубовик, В. И. \рец.\; Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского (Омск) Свободных экз. нет |