539.1/.18
Р 649


    Розмей, О.
    Влияние плотности мишени на сечения перезарядки быстрых ионов на атомах [Текст] / О. Розмей, И. Ю. Толстихина, В. П. Шевелько // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N9. - Библиогр.: 18 назв. . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
быстрые ионы -- ион-атомные столкновения -- мишени -- перезарядка -- сечения перезарядки
Аннотация: Показано, что при столкновении быстрых ионов X{q{+}} с атомными и молекулярными мишенями полные сечения перезарядки убывают с ростом плотности мишени, что связано с "обеднением" возбужденных уровней образующихся ионов X{(q-1)}{+} за счет ионизации атомами мишени. Влияние эффектов плотности на полные сечения перезарядки может достигать порядка и более в зависимости от заряда и энергии налетающего иона, плотности атомов мишени и структуры их внутренних оболочек. Численные расчеты выполнены для парциальных по главному квантовому числу n сечений sigma(n) и полных сечений перезарядки sigma[tot]=Sigma[n]*sigma(n) при столкновении быстрых многозарядных ионов с энергией E=100 keV/u-10 MeV/u с газообразными и твердыми мишенями.


Доп.точки доступа:
Толстихина, И.Ю.; Шевелько, В.П.




    Шевелько, В. П.
    Перезарядка при столкновении тяжелых малозарядных ионов [Текст] / В. П. Шевелько // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N10. - Библиогр.: с.28 (22 назв.) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Атомная физика
Кл.слова (ненормированные):
тяжелые ионы -- столкновения -- многоканальная нормировка -- одноэлектронная перезарядка -- сечения перезарядки
Аннотация: Методом многоканальной нормировки в представлении параметра удара вычислены вероятности и эффективные сечения одноэлектронной перезарядки, возникающей при столкновениях между тяжелыми одно- и четырехзарядными ионами Xe, Cs, Ba, Pb, Bi и U в области относительных энергий E>0.1keV/u. Вычисленные сечения довольно велики и достигают максимума сигма[m]~=10{-15}cm{2} при относительных энергиях E[m]~=10-30keV/u. С уменьшением энергии столкновений E>1 MeV/u процессы перезарядки происходят в основном в результате захвата электронов внутренних оболочек ионных мишеней. Результаты расчетов сечений перезарядки малозарядных ионов Xe, Cs, Ba, Pb, Bi и U сравниваются с имеющимися экспериментальными данными и теоретическими расчетами



539.19
К 43


    Киршнер, Т.
    Многоэлектронная ионизация атомов быстрыми ионами: приближение нормированных экспонент [Текст] / Т. Киршнер, Х. Тавара [и др.] // Журнал технической физики. - 2006. - Т. 76, N 9. - С. 22-30. - Библиогр.: c. 30 (36 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.36
Рубрики: Физика--Молекулярная физика
Кл.слова (ненормированные):
ионизация атомов; многоэлектронная ионизация атомов; модель независимых частиц; нормированные экспоненты
Аннотация: Рассмотрены процессы многоэлектронной ионизации нейтральных атомов быстрыми положительными ионами в модели независимых частиц (МНЧ) . Предложен относительно простой метод расчета вероятностей и сечений многоэлектронной ионизации в представлении параметра удара с использованием одноэлектронных вероятностей в виде нормированных экспонент p[nl] (b) = p[nl] (0) exp (-alpha[nl]b) , где b - параметр удара, nl - квантовые числа оболочки мишени. Показатель экспоненты alpha[nl] определяется по борновским сечениям одноэлектронной ионизации электронов мишени, а предэкспонента p[nl] (0) , т. е. вероятность ионизации при нулевом прицельном параметре - по геометрической модели. Предложенный метод обеспечивает условие нормировки p[nl] (b) =<1 при всех скоростях и зарядах налетающих ионов и позволяет с точностью до фактора 2 вычислять сечения одно-, двух- и трехэлектронной ионизации, сумма которых дает основной вклад в полное сечение. Результаты расчетов сравниваются с экспериментальными данными и расчетами других авторов.

Перейти: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/jtf/2006/09/p22-30.pdf

Доп.точки доступа:
Тавара, Х.; Толтихина, И. Ю.; Уланцев, А. Д.; Шевелько, В. П.; Штулькер, Т.




    Бейгман, И. Л.
    Релятивистская ионизация тяжелых ионов при столкновениях с нейтральными атомами [Текст] / И. Л. Бейгман, И. Ю. Толстихина, В. П. Шевелько // Журнал технической физики. - 2008. - Т. 78, N 5. - С. 15-21. - Библиогр.: c. 21 (37 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.383
Рубрики: Физика
   Атомное ядро

Кл.слова (ненормированные):
тяжелые ионы -- ионизация -- столкновение ионов с атомами -- релятивистская ионизация -- ионизация ионов
Аннотация: Рассмотрена задача об ионизации ионов, сталкивающихся с другими ионами и нейтральными атомами при релятивистских энергиях. Приведены формулы для расчета сечений ионизации в борновском приближении в представлении переданного импульса без учета магнитных взаимодействий. С помощью этих формул, реализованных в программе LOSS-R, выполнены расчеты сечений ионизации K-оболочек нейтральных атомов, сталкивающихся с протонами, а также 1s и 2p электронов многозарядных тяжелых ионов с зарядом ядра Z~80-90 при столкновениях с голыми ядрами и нейтральными атомами. Результаты расчетов сравниваются с имеющимися экспериментальным данными и расчетами других авторов.


Доп.точки доступа:
Толстихина, И. Ю.; Шевелько, В. П.


533.9
Т 528


    Толстихина, И. Ю.
    Столкновительные процессы с участием тяжелых многоэлектронных ионов при взаимодействии с нейтральными атомами / И. Ю. Толстихина, авт. В. П. Шевелько // Успехи физических наук. - 2013. - Т. 183, № 3. - С. 225-256 : 23 рис., 3 табл. - Библиогр.: с. 253-255 (199 назв.) . - ISSN 0042-1294
ГРНТИ
УДК
ББК 22.333
Рубрики: Физика
   Электронные и ионные явления. Физика плазмы

Кл.слова (ненормированные):
многоэлектронные ионы -- нейтральные атомы -- ионные пучки -- изотопы -- столкновительные процессы -- электроны -- атомные системы -- изотопы водорода -- атомная физика -- астрофизическая плазма
Аннотация: Изучены влияние электронов внутренних оболочек сталкивающихся атомных систем и роль изотопического эффекта при перезарядке медленных ионов с энергией Е = 10-100 эВ/н на изотопах водорода.


Доп.точки доступа:
Шевелько, В. П.