539.2 К 26 Карпов, И. А. О внутренней структуре сферических частиц опала [] / И. А. Карпов, Э. Н. Самаров [и др.] // Физика твердого тела. - 2005. - Т. 47, N 2. - С. 334-338. - Библиогр.: с. 337-338 (27 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): внутренняя структура; гидролиз; микроскопия; низкоразмерные системы; опал; поверхности; просвечивающая микроскопия; спирто-водно-аммиачная среда; среда; сферические частицы; тетраэтоксисилан; частицы; электронная микроскопия Аннотация: Методом просвечивающей электронной микроскопии исследована внутренняя структура сферических частиц SiO (2) , синтезированных методом гидролиза тетраэтоксисилана в спирто-водно-аммиачной среде. Доп.точки доступа: Самаров, Э. Н.; Масалов, В. М.; Божко, С. И.; Емельченко, Г. А. |
539.2 С 17 Самаров, Э. Н. Структурная модификация синтетических опалов в процессе их термообработки [Текст] / Э. Н. Самаров, А. Д. Мокрушин [и др.] // Физика твердого тела. - 2006. - Т. 48, N 7. - С. 1212-1215. - Библиогр.: с. 1215 (18 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дифференциально-термический анализ; нанопоры; опал; плотность синтетических опалов; пористость синтетических опалов; синтетические опалы; термогравиметрический анализ; термообработка; фотонные кристаллы Аннотация: Проведены измерения плотности и пористости синтетических опалов с диаметром шаров 315 и 1000 nm в зависимости от температуры отжига. При температурах отжига до 500 градусов Цельсия значения кажущейся плотности и пористости остаются практически неизменными, далее при температурах до 950 градусов Цельсия плотность плавно увеличивается, а пористость соответственно уменьшается за счет схлопывания нанопор, обусловленных субструктурой шаров. Дальнейший рост температуры отжига приводит к резкому увеличению плотности опалов вплоть до величины 2. 22 g/cm[3] (плотность аморфного кремнезема) и исчезновению открытой микропористости, обусловленной пустотами между шарами. Дифференциально-термический и термогравиметрический анализы показали, что порошки SiO[2] частиц со средним размером 315 и 1000 nm могут иметь соответственно двух- и трехуровневую систему микро- и наночастиц. Доп.точки доступа: Мокрушин, А. Д.; Масалов, В. М.; Абросимов, Г. Е.; Емельченко, Г. А. |
621.3 Е 601 Емельченко, Г. А. Люминесценция наностержней оксида цинка [Текст] / Г. А. Емельченко, А. Н. Грузинцев [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2007. - Т. 41, N 2. - С. 182-185 . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика--Электротехника Кл.слова (ненормированные): наностержни -- нанокристаллы -- люминесценция -- оксид цинка Аннотация: Исследованы спектры спонтанного и стимулированного излучения наностержней ZnO, выращенных двумя низкотемпературными методами. Стимулированное излучение при 385 нм наблюдали при комнатной температуре для нанокристаллов ZnO, выращенных методом CVD, при накачке азотным лазером с длиной волны 337 нм. Пороговая плотность мощности накачки для лазерного процесса рекомбинации экситонов составила ~600 кВт/см\{2\}. Доп.точки доступа: Грузинцев, А. Н.; Кулаков, А. Б.; Самаров, Э. Н.; Карпов, И. А.; Редькин, А. Н.; Якимов, Е. Е.; Barthou, C. |
539.2 Д 640 Долганов, П. В. Дисперсия света в пленках фотонного кристалла опала [Текст] / П. В. Долганов, В. М. Масалов [и др.] // Физика твердого тела. - 2007. - Т. 49, вып. 9. - С. 1622-1625. - Библиогр.: с. 1625 (17 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дисперсия света; дифракционные спектры; интерференционные спектры; пленки опала; синтетический опал; спектры селективного отражения света; фотонные кристаллы Аннотация: Измерены спектры селективного отражения света от пленок фотонного кристалла - синтетического опала. Обнаружено измерение показателя преломления на границах фотонной запрещенной зоны. Волновой вектор перенормируется из-за взаимодействия световой волны с периодической структурой кристалла, и соотношение между частотой и волновым вектором отклоняется от линейной зависимости. Полученная из этих данных ширина запрещенной зоны составляет около 1. 7*10{14} Hz. Доп.точки доступа: Масалов, В. М.; Самаров, Э. Н.; Дмитриенко, В. Е.; Долганов, В. К.; Емельченко, Г. А. |