539.2 Д 26 Деев, А. Н. Локальная атомная структура материалов Cu (In[x]Ga[1-x]) Se[2] (x = 0. 25, 0. 5, 0. 75) для солнечных элементов [Текст] / А. Н. Деев, Р. Г. Валеев, Ф. З. Гильмутдинов, Д. Е. Гай // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 1. - С. 46-49 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): тонкие слои -- атомная структура -- локальная атомная структура -- твердые растворы -- кристаллические твердые растворы -- квазибинарные твердые растворы -- EXAFS-спектроскопия -- ВИМС -- вторично-ионная масс-спектрометрия Аннотация: Методами ВИМС и EXAFS-спектроскопии изучалась локальная атомная структура тонких слоев на поверхности кристаллических квазибинарных твердых растворов Cu (In[x]Ga[1-x]) Se[2]. Методом ВИМС обнаружено, что наиболее значительное изменение элементного состава в образцах происходит в тонких слоях на глубине 5-10 нм, а далее концентрации компонентов соответствуют объемным значениям. Методом EXAFS-спектроскопии в режиме рентгеновской флуоресценции показано, что полученные результаты согласуются с предположением о том, что в четырехкомпонентных кристаллических твердых растворах Cu (In[x]Ga[1-x]) Se[2] имеется локальное разупорядочение при наличии среднего дальнего порядка, который обнаруживается из данных по рассеянию рентгеновских лучей. Доп.точки доступа: Валеев, Р. Г.; Гильмутдинов, Ф. З.; Гай, Д. Е. |
539.2 Г 140 Гай, Д. Е. Использование EELFS-спектроскопии для анализа локальной атомной структуры тонких поверхностных слоев систем 3d-металл-кислород [Текст] / Д. Е. Гай, О. Р. Желтышева, А. Н. Деев // Физика металлов и металловедение. - 2008. - Т. 105, N 3. - С. 271-280. - Библиогр.: с. 280 (20 назв. ) . - ISSN 0015-3230
Рубрики: Физика Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): EELFS-спектроскопия -- атомная структура -- электроны -- спектры -- тонкие структуры -- поверхностные слои -- 3d-металл-кислород Аннотация: Получены простые формулы для описания протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов (EELFS) с учетом мультипольности возбуждения внутреннего уровня атома вещества электронным ударом. Доп.точки доступа: Желтышева, О. Р.; Деев, А. Н. |
Определение атомных парных корреляционных функций пленок оксида никеля EELFS-методом [Текст] / О. Р. Бакиева [и др. ] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 5. - С. 25-31
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): парная корреляционная функция -- спектр тонкой структуры -- оксидные пленки -- оксид никеля -- атомная структура Аннотация: Получены спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов (EELFS) образцов чистого никеля (M[2, 3] EELFS), стехиометрической оксидной пленки NiO (M[2, 3] EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода) и “негомогенной” оксидной пленки на поверхности никеля Ni-O (M[2, 3] EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода). С учетом мультипольности процесса возбуждения внутренних уровней атомов электронным ударом проведены расчеты амплитуд и интенсивностей электронных переходов для соответствующих внутренних уровней атомов. При использовании результатов расчетов из экспериментальных EELFS-спектров выделены нормированные осциллирующие части. Доп.точки доступа: Бакиева, О. Р.; Гай, Д. Е.; Деев, А. Н.; Гильмутдинов, Ф. З. |
Бакиева, О. Р. Процессы многократного рассеяния в формировании M EELFS - спектров 3d-металлов [Текст] / О. Р. Бакиева, Д. Е. Гай // Физика твердого тела. - 2010. - Т. 52, вып: вып. 10. - С. 2040-2045. - Библиогр.: с. 2041-2045 (12 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): процессы многократного рассеяния -- локальные атомные структуры -- вторичные электроны -- рассеяние Аннотация: Рассмотрены процессы многократного рассеяния вторичного электрона на локальной атомной структуре и их вклады в EELFS-спектры. Для M EELFS-спектров 3d-металлов (т. е. EELFS-спектров за M-краями энергетических потерь) рассмотрены вклады процессов, обусловленных многократными процессами возбуждения 3d-валентных электронов электронным ударом. Доп.точки доступа: Гай, Д. Е. |