620.181
К 59


    Козлов, А. В.
    Образование и эволюция радиационных кластеров в ГЦК-металлах при низкотемпературном нейтронном облучении до малых повреждающих доз [Текст] / А. В. Козлов, Е. Н. Щербаков [и др.] // Физика и химия обработки материалов. - 2006. - N 1. - С. 9-17 . - ISSN 0015-3214
УДК
ББК 22.38 + 34.3 + 30.3
Рубрики: Физика--Ядерная физика
   Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы

   Техника--Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
радиационные кластеры; нейтронное облучение; низкотемпературное нейтронное облучение; малые повреждающие дозы; электронная микроскопия; статистическая термодинамика; кластеры; радиационные дефекты; низкотемпературное облучение
Аннотация: Методами статистической термодинамики количественно описан процесс образования и эволюции радиационных кластеров. Рассчитаны изменения концентрации радиационных точечных дефектов при облучении, а также размерные изменения облученных образцов при отжиге.


Доп.точки доступа:
Щербаков, Е. Н.; Асипцов, О. И.; Скрябин, Л. А.; Портных, И. А.


669.018
Н 37


    Нащекин, А. В.
    Формирование кластеров при синтезе наноструктурных пленок C[60]-CdTe [Текст] / А. В. Нащекин, А. Г. Колмаков, Г. В. Встовский, Е. Е. Баранов // Физика и химия обработки материалов. - 2006. - N 4. - С. 26-34 . - ISSN 0015-3214
УДК
ББК 30.3 + 34.3
Рубрики: Техника--Материаловедение
   Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы

Кл.слова (ненормированные):
кластеры; наноструктурные пленки; синтез наноструктурных пленок; композитные пленки; двумерные фотоновые кристаллы; поверхности композитных пленок; пленочные материалы; кластеризация; наноматериалы; формирование кластеров; топографическая структура композитных пленок; полупроводниковые материалы
Аннотация: Методами информационной интерпретации мультифрактального формализма и анализа кривизны структурных функций исследовано формирование кластеров в топографической структуре поверхности композитных пленок C[60]-CdTe толщиной 200-600 нм.


Доп.точки доступа:
Колмаков, А. Г.; Встовский, Г. В.; Баранов, Е. Е.