539.2 Д 183 Данильчук, Л. Н. Исследование дефектов структуры полуметаллов и полупроводников на основе монокристаллических сплавов (Bi + Sb) методами рентгеновской топографии [Текст] / Л. Н. Данильчук, А. О. Окунев, К. Г. Иванов, Ю. В. Тимофеева // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 3. - С. 25-32. - Библиогр.: с. 31-32 (23 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела Химия Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): Bi + Sb (сплавы) -- дефекты структуры полуметаллов -- дефекты структуры полупроводников -- сплавы -- монокристаллические сплавы -- рентгеновская топография -- топография -- методы рентгеновской топографии -- розеточная методика -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- феноменологическая теория -- бормановский контраст -- монокристаллы -- рентгенотопографические методики -- полуметаллы -- полупроводники -- контраст интенсивности -- висмут -- сурьма Аннотация: Рассматриваются возможности методов рентгеновской топографии при исследовании монокристаллов (Bi + Sb), полученных при различных условиях роста. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Иванов, К. Г.; Тимофеева, Ю. В. |