Система СПЕКТРАН для интеллектуального анализа спектральных данных [Текст] / А. В. Богданов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 11. - С. 65-70. - Библиогр.: с. 70 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Вычислительная техника Имитационное компьютерное моделирование Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): программные системы -- интеллектуальный анализ -- спектральные данные -- автоматизация процессов -- дисперсные вещества -- рентгеноспектральный микроанализ -- прикладная статистика -- функция конкурентного сходства -- решающие правила -- распознавание объектов -- информативность -- автоматическая классификация -- рабочее место эксперта Аннотация: Описана программная система СПЕКТРАН, предназначенная для автоматизации процессов анализа результатов исследования микрочастиц различной природы, образующих дисперсные вещества и их смеси. Доп.точки доступа: Богданов, А. В.; Борисова, И. А.; Дюбанов, В. В.; Загоруйко, Н. Г.; Кутненко, О. А.; Кучкин, А. В.; Мещеряков, М. А.; Миловзоров, Н. Г. |