Колесников, С. В. Моделирование процесса образования вакансий при сканировании поверхности Cu (100) [Текст] / С. В. Колесников, А. Л. Клавсюк, А. М. Салецкий // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 89, вып: вып. 9. - С. 560-566
Рубрики: Физика Квантовая механика Кл.слова (ненормированные): молекулярная динамика -- процесс образования вакансий -- сканирование поверхности -- сканирующий туннельный микроскоп -- интенсивность образования поверхностных вакансий -- концентрация вакансий Аннотация: Методом молекулярной динамики исследованы основные механизмы образования вакансий в первом слое поверхности Cu (100). Показано, что в результате взаимодействия иглы сканирующего туннельного микроскопа с поверхностью интенсивность образования поверхностных вакансий может увеличиться в 10\{3\}-10\{5\} раз. Основываясь на проведенных исследованиях, мы предлагаем эффективный метод настройки концентрации вакансий в первом слое поверхности Cu (100), не связанный с изменением температуры системы. Доп.точки доступа: Клавсюк, А. Л.; Салецкий, А. М. |
Приборы для локального электрохимического анализа (обзор) [Текст] / В. В. Слепушкин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2010. - Т. 76, N 6. - С. 3-8. - Библиогр.: с. 6-8 (59 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): локальный электрохимический анализ -- электрохимический анализ -- электрохимические толщиномеры -- толщиномеры -- фазовые анализаторы -- сканирование поверхности -- вертикальное зондирование -- электрохимические ячейки -- электрохимический контроль -- контроль коррозии Аннотация: Дан обзор приборов, работающих на основе локального электрохимического анализа. Рассмотрены теоретические основы построения электрохимических толщиномеров, фазовых анализаторов и других приборов, области их применения. Приведены метрологические характеристики существующих многофункциональных приборов и показаны перспективы их развития. Доп.точки доступа: Слепушкин, В. В.; Стифатов, Б. М.; Рублинецкая, Ю. В.; Ильиных, Е. О. |
543.4/.5 Ш 256 Шардаков, Н. Т. Определение морфологических характеристик островковых пленок по данным микрозондового сканирования поверхности [Текст] / Н. Т. Шардаков // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 7. - С. 31-36. - Библиогр.: с. 36 (3 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): морфологические характеристики -- островковые пленки -- микрозондовое сканирование -- сканирование поверхности -- межостровковые расстояния Аннотация: Выведены расчетные формы, позволяющие определить действительную высоту и диаметр основания островков, а также межостровковое расстояние, используя значения этих величин на линии сканирования. |