Шулаков, А. С. Глубина формирования рентгеновских характеристических полос излучения в твердотельных мишенях [Текст] / А. С. Шулаков, С. Ю. Тверьянович, О. В. Цигулин // Физика твердого тела. - 2010. - Т. 52, вып: вып. 9. - С. 1824-1827. - Библиогр.: с. 1827 (14 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): экспериментальные исследования -- рентгеновские характеристические полосы -- твердотельные мишени Аннотация: Исследуются причины неудовлетворительного совпадения результатов экспериментального исследования глубины формирования рентгеновской эмиссионной Si L[2, 3] -полосы, возбуждаемой электронным ударом в слоях SiO[2], с расчетом, выполненным с использованием феноменологической модели Боровского--Рыдника, модифицированной для неизотропных и наноструктурированных систем. Показано, что в области низких энергий первичных электронов наиболее вероятной причиной различий является влияние шероховатости поверхности и межфазовой границы исследованной системы SiO[2]/Si, а в области больших толщин и энергий --- уменьшение чувствительности и точности измерений. Так как не было обнаружено дефектов использованной модели расчетов, в ее рамках был проведен расчет зависимостей глубины формирования рентгеновских эмиссионных L-полос в кристаллах Mg, Si, Ti, Cr, Fe и Cu от энергии электронов первичного пучка. Доп.точки доступа: Тверьянович, С. Ю.; Цигулин, О. В. |