Гусев, А. И. Анализ поверхностной сегрегации и твердофазного распада твердых растворов замещения [Текст] / А. И. Гусев // Доклады Академии наук. - 2003. - Т. 392, N 3. - С. 356-361 . - ISSN 0869-5652
Рубрики: Химия Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): замещение -- поверхностная сегрегация -- твердофазный распад -- твердые растворы Аннотация: Необходимое условие сегрегации - наличие области твердофазного распада, так как поверхностная сегрегация одного из компонентов твердого раствора возможна, если его содержание больше предела растворимости. |
Ремпель, С. В. Поверхностная сегрегация в распадающихся карбидных твердых растворах [Текст] / С. В. Ремпель, А. И. Гусев // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2008. - Т. 88, вып: вып. 7. - С. 508-513
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): карбидные твердые растворы -- твердые растворы -- поверхностная сегрегация Аннотация: Методами рентгеновской дифракции, электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа, лазерного масс-анализа изучена спонтанная сегрегация карбида ZrC из твердых растворов системы ZrC[0. 82]-NbC[0. 83]. На примере карбидного твердого раствора предложен метод учета энергии границ раздела в свободной энергии смешения, позволяющий определить область составов твердого раствора, в которой может наблюдаться поверхностная сегрегация. Доп.точки доступа: Гусев, А. И. |
Рехвиашвили, С. Ш. О поверхностной сегрегации в твердых бинарных растворах [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили, А. М. Кармоков, Е. В. Киштикова // Химическая физика. - 2009. - Т. 28, N 6. - С. 23-27 : ил. - Библиогр.: с. 27 (6 назв. ) . - ISSN 0207-401X
Рубрики: Химия Химическая связь и строение молекул Кл.слова (ненормированные): сегрегация -- поверхностная сегрегация -- поверхностная энергия -- твердые бинарные растворы -- приближения Ван-дер-Ваальса -- Ван-дер-Ваальса приближения -- концентрационные профили -- масс-спектральный анализ -- бинарные растворы Аннотация: В рамках единого подхода – модифицированного приближения Ван-дер-Ваальса – получены аналитические выражения для концентрационного профиля, поверхностной энергии в твердом бинарном растворе, обусловленных выходом одного из компонент на поверхность (поверхностной сегрегацией). Проведено сравнение расчетов с экспериментальными результатами, полученными с помощью вторично-ионной масс-спектрометрии для металлических бинарных растворов Cu–Ge и Cu–Al, которое показало приемлемое согласие. Доп.точки доступа: Кармоков, А. М.; Киштикова, Е. В. |
Зеленов, В. В. Поверхностная сегрегация при захвате NO[3]на покрытии из бинарных солей. NaI · 2H[2]O/NaBr · 2H[2]O и MgBr[2] · 6H[2]O/MgCl[2]· 6H[2]O. Растворимость или расплывание? [Текст] / В. В. Зеленов, Е. В. Апарина // Химическая физика. - 2009. - Т. 28, N 9. - С. 43-54 : ил. - Библиогр.: с. 53-54 (28 назв. ) . - ISSN 0207-401X
Рубрики: Химия Химическая кинетика Кл.слова (ненормированные): поверхностная сегрегация -- сегрегация -- захват радикалов -- бинарные соли -- проточные реакторы -- соли дигидратов -- соли гексагидратов -- водные растворы -- реагенты -- газофазные продукты -- количественные связи -- индивидуальные соли -- поверхностные плотности -- растворимость -- расплывание Аннотация: Методом кинетической масс-спектрометрии с использованием проточного реактора с подвижной вставкой исследован захват радикалов NO[3] на поверхности индивидуальных солей дигидратов NaI, NaBr, гексагидратов MgBr[2], MgCl[2] и на покрытиях из бинарных солей NaI · 2H[2]O/NaBr · 2H[2]O, MgBr[2] · 6H[2]O/MgCl[2] · 6H[2]O при варьировании мольной доли допирующих солей NaI · 2H[2]O и MgBr[2] · 6H[2]O в исходном водном растворе. Из зависимостей расхода реагента и образования газофазных продуктов от мольной доли допирующей соли получена количественная связь ее поверхностной плотности с мольной долей. Из анализа этих зависимостей в совокупности с полученными ранее данными сделан вывод о преобладающем влиянии расплывания исследованных индивидуальных солей на соотношение их поверхностных плотностей. Доп.точки доступа: Апарина, Е. В. |
544.6 С 217 Сафонов, В. А. Кинетика поверхностной сегрегации атомов висмута на границе механически обновляемого электрода из сплава Ag–Bi с раствором поверхностно-неактивного электролита [Текст] / В. А. Сафонов, М. А. Чоба, М. И. Булеев // Электрохимия. - 2012. - Т. 48, № 2. - С. 181-191 . - ISSN 0424-8570
Рубрики: Химия Электрохимия Кл.слова (ненормированные): спектроскопия -- поверхностная сегрегация -- импеданс -- циклическая вольтамперометрия Аннотация: С использованием импедансного метода и циклической вольтамперометрии исследованы временные эффекты, которые наблюдаются на механически обновляемом электроде из сплава эвтектического типа Ag–Bi в растворе NaF в области потенциалов идеальной поляризуемости. Установлено, что с ростом времени контакта с момента обновления наблюдаются изменения измеряемых емкостей двойного электрического слоя на исследуемом электроде, которые свидетельствуют о протекании процесса обогащения поверхности атомами Bi. Анализ полученных данных привел к выводу о том, что поверхностная сегрегация Bi реализуется по механизму поверхностной диффузии, что обеспечивает ее протекание с “аномально” высокими по сравнению с объемными диффузионными процессами в твердой фазе скоростями. Результаты проведенных исследований поверхностной сегрегации висмута на границе сплав Ag–Bi/электролит сопоставлены с полученными методом oже-электронной спектроскопии данными для границы того же сплава с вакуумом. Высказаны и обоснованы предположения, позволяющие непротиворечиво интерпретировать различия в кинетике процессов поверхностной сегрегации, которые реализуются на разных межфазных границах. Доп.точки доступа: Чоба, М. А.; Булеев, М. И. |