535 О-862 Отражательный интерферометр для исследования амплитудно-фазовых характеристик полупроводниковых наноструктур [Текст] / А. А. Ковалёв [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 2. - С. 290-291 : Рис. - Библиогр.: c. 291 (12 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Оптика в целом Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): отражательный интерферометр -- спектральные зависимости -- полупроводниковые наноструктуры -- амплитудно-фазовые характеристики -- многолучевая интерферометрия -- зеркала -- отражательная способность -- квантовые ямы -- интерферометры Аннотация: Предложено применять отражательный интерферометр для измерения спектральной зависимости фазы отражения зеркал, изготовленных на основе многослойных полупроводниковых наноструктур. Доп.точки доступа: Ковалёв, А. А.; Преображенский, В. В.; Путято, М. А.; Пчеляков, О. П.; Рубцова, Н. Н. |