Исследование микропримесей и зарядовых состояний в однородных углеводородных пленках, переосажденных из дейтериевого плазменного разряда токамака Т-10, с помощью методов РФА, ИК-спектроскопии, ЭПР и ВАХ [Текст] / Н. Ю. Свечников [и др. ] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 12. - С. 14-24 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Ядерная физика в целом Кл.слова (ненормированные): спектроскопические исследования -- микропримеси -- однородные углеводородные пленки -- дейтеривая плазма -- токамак Т-10 -- изотопы водорода Аннотация: Проведены спектроскопические исследования микропримесей и зарядовых состояний однородных дейтерированных углеродных пленок, переосажденных из разряда дейтериевой плазмы токамака Т-10, с помощью методов рентгенофлуоресцентного анализа (РФА), электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), инфракрасной (ИК) спектроскопии, и измерены вольт-амперные характеристики (ВАХ). Обнаружено 12 микропримесей, в основном, переходных металлов Fe, Mo, Cr, Ni, Ti, и др. с относительными концентрациями 50-7000 ppm. Установлено наличие разных зарядовых состояний для двух сторон пленки - обращенной к плазме и к стенке вакуумной камеры, а также различие в их ИК-спектрах, что можно объяснить процессом формирования пленок в условиях воздействия плазмы токамака. Доп.точки доступа: Свечников, Н. Ю.; Станкевич, В. Г.; Меньшиков, К. А.; Лебедев, А. М.; Колбасов, Б. Н.; Трунова, В. А.; Rajarathnam, D.; Kostetski, Yu. |