620.186:547.447 П 753 Привитые сополимеры поликапроамида с полиимидом анилинфлуорена и 3, 3`, 4, 4`-тетракарбоксидифенилоксида. Микроструктура и свойства [Текст] / Т. В. Волкова [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1574-1576. - Библиогр.: c. 1576 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): метод СЭМ -- сканирующая электронная микроскопия -- полиимиды -- атомно-силовая спектроскопия -- привитые сополимеры -- поликапроамид -- термостойкость -- температура стеклования -- ударная вязкость Аннотация: Показано появление у привитых сополимеров поликапроамида (ПКА) с 3-5 мас. % полиимида (ПИ) области высокоэластичности выше температуры плавления ПКА. Доп.точки доступа: Волкова, Т. В.; Пашкова, О. Н.; Ильина, М. Н.; Белавцева, Е. М.; Выгодский, Я. С. |
535:621 К 904 Кулов, С. К. Наноразмерные неоднородности на поверхности свинцово-силикатного стекла для МКП [Текст] / С. К. Кулов, А. М. Кармоков, О. А. Молоканов // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 11. - С. 1649-1651 : Рис. - Библиогр.: c. 1651 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая спектроскопия -- микроканальные пластины -- морфология поверхности -- отжиг -- поверхности -- свинцово-силикатное стекло -- сканирующая зондовая микроскопия -- стекло С87-2 -- термическое воздействие -- шероховатость поверхностей Аннотация: Методом атомно-силовой спектроскопии исследовано изменение морфологии поверхности свинцово-силикатного стекла С87-2 после отжига при различных условиях. Доп.точки доступа: Кармоков, А. М.; Молоканов, О. А. |
538.95-405:539.12.04 И 755 Ионные треки в аморфном нитриде кремния [Текст] / Л. А. Власукова [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 2. - С. 226-228. - Библиогр.: c. 228 (14 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Геология Минералогия Кл.слова (ненормированные): аморфный нитрид кремния -- атомно-силовая спектроскопия -- ионные треки -- модель термического пика -- нитрид кремния -- режим электронных потерь -- сканирующая электронная микроскопия -- температура плавления -- температурные поля -- травление треков -- электронные потери Аннотация: Исследована морфология треков быстрых ионов, выявленных в аморфном нитриде кремния после обработки в растворе HF. Структуры Si[3]N[4]/Si облучались ионами Fe, Kr, W в режиме электронных потерь. Прерывистые треки выявлены только при облучении W с максимальными для условий нашего эксперимента электронными потерями (20. 4 кэВ х нм[-1]). Представлены результаты расчета трекообразования в Si3N4 на базе модели термического пика. Доп.точки доступа: Власукова, Л. А.; Комаров, Ф. Ф.; Ювченко, В. Н.; Скуратов, В. А.; Дидык, А. Ю.; Плякин, Д. В. |
537.226.4 В 363 Верховская, К. А. Фазовые переходы в ультратонких сегнетоэлектрических полимерных пленках и нанокристаллах [Текст] / К. А. Верховская, А. А. Плаксеев, А. М. Лотонов // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 5. - С. 671-673. - Библиогр.: c. 673 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Электростатика Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая спектроскопия -- диэлектрическая дисперсия -- Ленгмюра-Блоджетт метод -- Ленгмюра-Шеффера метод -- метод Ленгмюра-Блоджетт -- метод Ленгмюра-Шеффера -- монослои -- сегнетоэлектрические нанокристаллы -- сегнетоэлектрические нанопленки -- фазовые переходы Аннотация: Исследования диэлектрической дисперсии были проведены для нанокристаллов сополимера поливинилиденфторида с трифторэтиленом состава 70/30. Обнаружено, что фазовый переход в сегнетоэлектрических нанокристаллах имеет место при Т = 100 град. C. Наблюдается широкий температурный гистерезис, что указывает на наличие фазового перехода первого рода. Доп.точки доступа: Плаксеев, А. А.; Лотонов, А. М. |