Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Ломов, А. А.$<.>)

Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10

517.9
Л 750

Ломов, А. А. (канд физ.-мат. наук).
Сравнение методов оценивания параметров линейных динамических систем по измерениям коротких участков переходных процессов [Текст] / А. А. Ломов // Автоматика и телемеханика. - 2005. - N 3. - Библиогр.: с. 47 (15 назв. ) . - ISSN 0005-2310

УДК

517.9

621.398

ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника--Автоматика и телемеханика
Математика--Дифференциальные и интегральные уравнения
Кл.слова (ненормированные):
линейные динамические системы -- динамические системы -- линейные системы -- переходные процессы -- аддитивные измерительные возмущения -- измерительные возмущения -- аддитивные возмущения -- траектории динамических объектов -- динамические объекты
Аннотация: Сравниваются разные варианты многомерного метода ортогональной регрессии в задаче оценивания линейных систем по коротким участкам переходных процессов с аддитивными измерительными возмущениями.

Найти похожие

621.002
Б 15

Бадаева, Н. В.
Особенности построения совмещенной характеристики червячной машины с использованием диссипативной головки [Текст] / Н. В. Бадаева, Ю. Б. Лаврентьев, А. А. Ломов, Ю. А. Веткин // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2006. - Т. 49, N 10. - С. 84-87. - Библиогр.: с. 87 (5 назв. ). - Ил.: 3 рис. . - ISSN 0579-2991

УДК

621.002

ББК 35
Рубрики: Химическая технология--Общие вопросы химической технологии
Машиностроение--Технология машиностроения
Кл.слова (ненормированные):
червячные машины; резиновое производство; резины; условия сложного сдвига; экструзия резиновых смесей; диссипативные головки; резиновые смеси; экструдеры
Аннотация: Описаны особенности построения совмещенной характеристики червячной машины МЧТ-63 с использованием диссипативной головки.

Доп.точки доступа:
Лаврентьев, Ю. Б.; Ломов, А. А.; Веткин, Ю. А.

Найти похожие

66
Б 15

Бадаева, Н. В.
Метод оценки степени подвулканизации резиновых смесей по значению модифицированного критерия Бейли в зоне деформации диссипативной головки при их экструзии [Текст] / Н. В. Бадаева, Ю. Б. Лаврентьев [и др.] // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2004. - Т. 47, N 8. - С. 63-66. - Библиогр.: с. 66 (8 назв. ). - Ил.: 1 рис., 1 табл. . - ISSN 0579-2991

УДК

ББК 35
Рубрики: Химическая технология--Общие вопросы химической технологии
Кл.слова (ненормированные):
критерий Бейли; Бейли критерий; резиновые изделия; вулканизация; экструзия
Аннотация: Работа посвящена одному из основных способов изготовления длинномерных изделий из резиновой смеси - экструзии.

Доп.точки доступа:
Лаврентьев, Ю. Б.; Ломов, А. А.; Гончаров, Г. М.; Виноградова, Е. А.

Найти похожие

621.398
Л 750

Ломов, А. А.
Восстановление сигналов в линейных системах с трендами [Текст] / А. А. Ломов // Автоматика и телемеханика. - 2008. - N 7. - С. 29-36. - Библиогр.: с. 35-36 (6 назв. ) . - ISSN 0005-2310

УДК

621.398

ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
Автоматика и телемеханика
Кл.слова (ненормированные):
восстановление сигналов -- линейные системы -- квазимногочленные добавки -- тренды -- суммарные сигналы
Аннотация: Получены условия существования единственного решения в задаче вычисления сигналов входа и выхода линейной системы по наблюдениям суммарного сигнала.

Найти похожие

Пунегов, В. И.
Теория дифракции рентгеновских лучей в нанопористых кристаллах с латеральной квазипериодичностью [Текст] / В. И. Пунегов, А. А. Ломов // Письма в журнал технической физики. - 2008. - Т. 34, вып: вып. 6. - С. 30-35

УДК

^a621.375

ББК 32.86
Рубрики: Радиоэлектроника
Квантовая электроника
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- нанопористые кристаллы -- пористые слои
Аннотация: В рамках статистического подхода разработана теория рассеяния рентгеновских лучей в нанопористых кристаллах при наличии ближнего структурного порядка рассеивающих элементов (кристаллитов). Показано, что угловое распределение интенсивности рассеяния определяется фактором когерентности латеральной квазипериодичности пористого материала. Получены структурные характеристики пористого слоя InP на основе сравнения теоретических расчетов с экспериментальными измерениями.

Доп.точки доступа:
Ломов, А. А.

Найти похожие

621.398
Л 750

Ломов, А. А.
Восстановление сигналов в линейных системах с трендами [Текст] / А. А. Ломов. II // Автоматика и телемеханика. - 2008. - N 11. - С. 82-93 : ил. - Библиогр.: с. 92-93 (14 назв. ) . - ISSN 0005-2310

УДК

621.398

ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
Автоматика и телемеханика
Кл.слова (ненормированные):
сигналы -- аддитивные квазимногочленные добавки -- тренды -- формулы аппроксимации -- матрицы -- линейные системы с трендами
Аннотация: Рассмотрена задача вычисления сигналов входа и выхода линейной системы по наблюдениям, содержащим аддитивные квазимногочленные добавки с неизвестными параметрами.

Держатели документа:
64413519

Найти похожие

Пунегов, В. И.
О рассеянии рентгеновских лучей на многослойных пористых структурах [Текст] / В. И. Пунегов, А. А. Ломов // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 3. - С. 60-67 : ил. - Библиогр.: с. 66-67 (7 назв. ) . - ISSN 0320-0116

УДК

^a535.34/.36

ББК 22.346
Рубрики: Физика
Рентгеновские лучи. Гамма-лучи
Кл.слова (ненормированные):
пористые структуры -- многослойные структуры -- динамическая теория -- статистическая теория -- формализм -- дифракция -- диффузное рассеяние -- когерентное рассеяние -- многослойные кристаллы -- пористые кристаллы -- численное моделирование -- интенсивность рассеяния -- пористые системы -- экспериментальные данные -- численные расчеты -- латеральный квазипериод
Аннотация: На основе формализма статистической динамической теории дифракции разработана модель, описывающая когерентное и диффузное рассеяние рентгеновских лучей от многослойных пористых кристаллов. Проведено численное моделирование карт распределения интенсивности рассеяния от пористых систем. Показано, что существенную роль в формировании контуров равной интенсивности играет статистическое усреднение по размерам пор. Сравнительный анализ экспериментальных данных и численных расчетов позволил получить усредненные параметры пористых структур InP, включая размеры пор и величину латерального квазипериода.

Доп.точки доступа:
Ломов, А. А.

Найти похожие

66.02
О-624

Определение энергосиловых параметров процесса соэкструзии трубчатых профилей из резиновых смесей [Текст] / И. С. Гуданов [и др.] // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2012. - Т. 55, вып. 5. - С. 116-118. - Библиогр.: с. 118 (4 назв.) . - ISSN 0579-2991

УДК

66.02

ББК 35.11
Рубрики: Химическая технология
Основные процессы и аппараты химической технологии
Кл.слова (ненормированные):
соэкструзия -- мультиплексные головки -- энергосиловые параметры -- резиновые смеси -- межматериальное деформирование -- трубчатые профили -- червячные машины
Аннотация: Приведен сравнительный анализ энергосиловых характеристик червячных машин агрегированных формирующими головками с различной геометрией границ профилирующего канала.

Доп.точки доступа:
Гуданов, И. С.; Юрыгин, П. П.; Гончаров, Г. М.; Ломов, А. А.

Найти похожие

539.2
Р 397

Рентгеновские и синхротронные исследования пористого кремния / В. Н. Сивков [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 8. - С. 1048-1054 : ил. - Библиогр.: с. 1053-1054 (20 назв.) . - ISSN 0015-3222

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
комплексные исследования -- слои кремния -- пористый кремний -- ПК -- проводимость -- анодирование подложек -- стандартные подложки -- подложки -- электролиты -- плавиковая кислота -- этанол -- йод -- растровая электронная микроскопия -- метод растровой электронной микроскопии -- РЭМ -- высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия -- метод высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии -- ультрамягкая рентгеновская дифрактометрия -- метод ультрамягкой рентгеновской дифрактометрии -- синхротронное излучение -- структурные параметры -- деформация -- пористость -- атомный состав -- химический состав -- поверхность кремния -- спектры поглощения -- тонкие структуры -- кристаллический кремний -- рентгеновские исследования
Аннотация: Обсуждаются результаты комплексных исследований слоев пористого кремния разного типа проводимости, сформированных анодированием стандартных подложек Si (111) в электролите на основе плавиковой кислоты и этанола с добавлением 5% йода и выдержанных длительное время на атмосфере. Измерения проводились методами растровой электронной микроскопии, высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии и ультрамягкой рентгеновской спектроскопии с использованием синхротронного излучения. Определены структурные параметры слоев (толщина, деформация и пористость), а также атомный и химический состав поверхности пористого кремния. Установлено, что на поверхности кремниевого скелетона формируется слой оксида толщиной 1. 5-2. 3 нм. Ближняя тонкая структура Si 2p-спектра поглощения этого слоя соответствует тонкой структуре 2p-спектра хорошо координированного SiO[2]. При этом тонкая структура в области Si 2p-края поглощения кремниевого скелетона идентична структуре 2p-спектра поглощения кристаллического кремния.
The comprehensive studies results of different conductivity type porous silicon layers, formed by standard substrate Si (111) anodizing in the electrolyte based on hydrofluoric acid, ethanol and 5% iodine and after holding in air for a long time are discussed. The measurements were performed by raster electron microscopy, X-ray high-resolution diffraction and ultrasoft X-ray spectroscopy using synchrotron radiation. The layers structural parameters (thickness, strain and porosity) and porous silicon surface atomic and chemical composition were determined. It was established that on the silicon skeleton surface a silicon oxide layer with effective thickness 1. 5-2. 3 nm is formed. Near edge X-ray absorption fine structure of the oxide layer Si 2p-spectrum corresponds to the well-coordinated SiO[2] 2p-spectrum fine structure. And the Si 2p-absorption edge fine structure of the silicon skeleton is identical to the 2p-absorption spectrum structure of crystalline silicon.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/08/p1048-1054.pdf

Доп.точки доступа:
Сивков, В. Н.; Ломов, А. А.; Васильев, А. Л.; Накипелов, С. В.; Петрова, О. В.; Коми научный центр Уральского отделения Российской академии наук (Сыктывкар); Физико-технологический институт Российской академии наук (Москва); Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова Российской академии наук (Москва); Коми педагогический институт (Сыктывкар); Коми научный центр Уральского отделения Российской академии наук (Сыктывкар)

Найти похожие

10.

66.02
Ч-671

Численное изучение процесса размерообразования при соэкструзии трубчатых изделий из резиновых смесей / Г. М. Гончаров [и др.] // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2013. - Т. 56, вып. 12. - С. 82-85 : 4 рис. - Библиогр.: с. 85 (5 назв.) . - ISSN 0579-2991

УДК

66.02

ББК 35.11
Рубрики: Химическая технология
Основные процессы и аппараты химической технологии
Кл.слова (ненормированные):
соэкструзия -- резиновые смеси -- экструзионные головки -- кабельная изоляция -- трубчатые изделия
Аннотация: Представлены основные особенности технологии соэкструзии кольцевых профилей из резиновых смесей. Предложен метод численного расчета гидродинамики процесса стратифицированного течения вязкоупругих жидкостей. Решена задача определения размерных параметров агрегированных полимерных изделий с учетом постэкструзионного разбухания.

Доп.точки доступа:
Гончаров, Г. М.; Ломов, А. А.; Гуданов, И. С.; Лаврентьев, Ю. Б.; Юрыгин, П. П.

Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)