Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Григоров, И. Г.$<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.
539.2
Г 831


    Григоров, И. Г.
    О формировании 3-D изображения с помощью цифровой сканирующей микроскопии [Текст] / И. Г. Григоров, Л. Н. Ромашев, Ю. Г. Зайнулин, В. В. Устинов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 2. - С. 26-29. - Библиогр.: с. 29 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.37 + 30.3
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела

   Техника

   Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
3-D изображения -- атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- туннельная микроскопия -- формирование изображений -- цифровая сканирующая микроскопия
Аннотация: Описана методика формирования 3-D изображения исследуемых объектов путем совместного использования растровой электронной и сканирующей туннельной микроскопии.


Доп.точки доступа:
Ромашев, Л. Н.; Зайнулин, Ю. Г.; Устинов, В. В.

Найти похожие

2.
004.35
Г 831


    Григоров, И. Г.
    О разрешающей способности сканеров СММ-2000 [Текст] / И. Г. Григоров, Л. Н. Ромашев, Ю. Г. Зайнулин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 5. - C. 45-46. - Библиогр.: с. 46 (6 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 32.973-04
Рубрики: Вычислительная техника
   Устройства ввода-вывода

Кл.слова (ненормированные):
разрешающая способность сканеров -- сканеры СММ-2000 -- СММ-2000 (сканеры) -- микроскопы -- сканирующая зондовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- сканирование
Аннотация: Рассмотрена разрешающая способность сканеров СММ-2000.


Доп.точки доступа:
Ромашев, Л. Н.; Зайнулин, Ю. Г.

Найти похожие

3.
621.77.016
С 869


    Строшков, В. П.
    Микрорельеф поверхности инструментальных сталей, формирующийся в процессе электрохимической размерной обработки [Текст] / В. П. Строшков, И. Г. Григоров, В. А. Пшеничников // Физика и химия обработки материалов. - 2008. - N 2. - С. 58-66 . - ISSN 0015-3214
УДК
ББК 34.51/59
Рубрики: Машиностроение
   Обработка металлов

Кл.слова (ненормированные):
инструментальные стали -- электрохимическая обработка -- размерная обработка -- электрохимическая размерная обработка -- сканирующая микроскопия -- туннельная микроскопия -- легированные стали -- импульсно-циклическая обработка
Аннотация: Методами сканирующей и туннельной микроскопии исследован микрорельеф поверхности инструментальных сталей после электрохимической размерной обработки.


Доп.точки доступа:
Григоров, И. Г.; Пшеничников, В. А.

Найти похожие

4.


   
    Кольцевая структура в сплавах карбонитрид титана-никелид титана с добавками оксида алюминия [Текст] : текст / А. Н. Ермаков [и др. ] // Доклады Академии наук. - 2008. - Т. 419, N 2, март. - С. 206-209. - Библиогр.: с. 209 (10 назв. ) . - ISSN 0869-5652
УДК
ББК 24.1
Рубрики: Химия
   Общая и неорганическая химия в целом

Кл.слова (ненормированные):
сплавы -- титан -- алюминий -- твердые сплавы -- карбонитрид титана
Аннотация: Приведены данные об образовании кольцевой прослойки в зернах основы сплава в виде титан-алюминиевого карбонитрида при добавлении в них нанопорошков оксида алюминия.


Доп.точки доступа:
Мишарина, И. В.; Ермакова, О. Н.; Багазеев, А. В.; Григоров, И. Г.; Пушин, В. Г.; Зайнулин, Ю. Г.; Котов, Ю. А.; Швейкин, Г. П.; Ермаков, А. Н.

Найти похожие

5.


   
    Синтез и исследование дисперсных материалов с использованием растровой электронной и сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : текст / И. Г. Григоров [и др. ] // Доклады Академии наук. - 2008. - Т. 421, N 4, август. - С. 498-501 : 4 рис. - Библиогр.: с. 501 . - ISSN 0869-5652
УДК
ББК 24.52
Рубрики: Химия
   Химия твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
дисперсные материалы -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- наноматериалы -- СВЧ-термолиз -- испарение-конденсация -- титан -- оксид титана
Аннотация: Приведены данные о синтезе и исследовании морфологии дисперсных материалов, полученных с применением интенсивной пластической деформации, способом испарение-конденсация и СВЧ-термолизом.


Доп.точки доступа:
Григоров, И. Г.; Николаенко, И. В.; Келлерман, Д. Г.; Гижевский, Б. А.; Золотухина, Л. В.; Зайнулин, Ю. Г.

Найти похожие

6.
544
М 550


   
    Механизм срастания кристалов нитрата калия при его спонтанной кристализации из пересыщенных водных растворов [Текст] / О. Д. Линников [и др.] // Доклады Академии наук. - 2011. - Т. 439, N 3, июль. - С. 355-358 : 3 рис. - Библиогр.: с. 358 . - ISSN 0869-5652
УДК
ББК 24.5
Рубрики: Химия
   Физическая химия в целом

Кл.слова (ненормированные):
Смолуховского уравнения -- уравнения Смолуховского -- процессы кристаллизации соли
Аннотация: Экспериментальные данные свидетельствуют о том, что срастание кристаллов нитрата калия, так же как и других солей, при спонтанной кристаллизации протекает путем образования зародышей-мостиков между ними.


Доп.точки доступа:
Линников, О. Д.; Григоров, И. Г.; Родина, И. В.; Поляков, Е. В.

Найти похожие

7.
537.8
Н 254


   
    Наноразмерные эталонные образцы на базе трековых полимерных мембран [Текст] / И. Г. Григоров [и др.] // Доклады Академии наук. - 2011. - Т. 441, № 1, ноябрь. - С. 68-71. - Библиогр.: с. 70-71 . - ISSN 0869-5652
УДК
ББК 22.338
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- наноструктуры кремния -- островковое золото -- нитрид титана -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- измерение нанообъектов
Аннотация: Продемонстрирована возможность использования для поверки и калибровки РЭМ, а также СЗМ, работающих в режимах сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомно-силового микроскопа (АСМ), трековых полимерных мембран с проводящим покрытием из нитрида титана.


Доп.точки доступа:
Григоров, И. Г.; Логинов, Б. А.; Борисов, С. В.; Поляков, Е. В.; Хлебников, Н. А.; Ромашев, Л. Н.; Зайнулин, Ю. Г.; Швейкин, Г. П.

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)