Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог
Статьи из журналов: 2001-2014
Труды ОмГУ
История ОмГУ
Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=in situ (измерения)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
620.1/.2
К 731

    Котенев, В. А.
    Эллипсометрия многократного отражения с обратным ходом луча [Текст] / В. А. Котенев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 12. - Библиогр.: с. 38 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
620.1/.2
535
ББК 30.3
Рубрики: Техника--Материаловедение
   Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
in situ (измерения) -- контроль толщины -- неразрушающий контроль -- обратнопроходная эллипсометрия -- эллипсометрия -- эллипсометры
Аннотация: Описан метод обратнопроходной эллипсометрии многократного отражения для неразрушающего контроля толщины тонкого слоя на поверхности металлов и сплавов. Разработана оптико-электрохимическая жидкостная ячейка многократного отражения, обеспечивающая высокую чувствительность рефлектометрических и эллипсометрических измерений in situ.


Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)