Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=фталоцианин меди<.>)
Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10
1.
541.16:182
Ф 348


    Федущак, Т. А.
    Реакционная способность нанопорошков меди в синтезе фталоцианина меди [Текст] / Т. А. Федущак, А. Е. Ермаков [и др.] // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2003. - Т.46,N4. - Библиогр.: 12 назв. . - ISSN 0579-2991
УДК
ББК 24.5
Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика
Кл.слова (ненормированные):
газофазный синтез -- медь -- медьфталоцианины -- нанодисперсные порошки металлов -- нанопорошки меди -- нанореагенты -- реакционная способность -- синтез -- синтез фталоцианина меди -- темплатный синтез -- тонкокристаллические медьфталоцианины -- фталоцианин меди -- электрический взрыв
Аннотация: Приведены результаты исследований по синтезу фталоцианина меди с использованием электровзрывных и газофазных нанопорошков меди. Показано, что преимущество нанореагентов проявляется в снижении температуры синтеза и повышении выхода тонкокристаллического продукта. Обсуждается влияние природы нанопорошков и растворителей на протекание модельной реакции.


Доп.точки доступа:
Ермаков, А.Е.; Седой, В.С.; Петренко, Т.В.; Ильин, А.П.; Восмериков, А.В.

Найти похожие

2.


    Лазнева, Э. Ф.
    Лазерная десорбция с поверхности пленок фталоцианина меди на кремнии и сульфиде кадмия [Текст] / Э. Ф. Лазнева // Письма в Журнал технической физики. - 2007. - Т. 33, вып: вып. 21. - С. 63-71 . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 22.343
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
лазерная десорбция -- фталоцианин меди -- сульфид кадмия
Аннотация: Исследованы масс-спектры лазерной десорбции с поверхности вакуумно-осажденных пленок фталоцианина меди (CuPc) на поверхности кремния и сульфида кадмия. Десорбция возбуждалась под действием импульсного (10 ns) излучения неодимового лазера (энергия кванта 2. 34 eV) в диапазоне плотности энергий в импульсе (0. 1 mJ/cm2. Показано, что лазерное воздействие вызывает фрагментацию молекул CuPc и десорбцию фрагментов. Проведена идентификация основных наблюдаемых в масс-спектрах фрагментов. Прослежено изменение интенсивности основных десорбционных компонент в зависимости от плотности энергии в лазерном импульсе. На поверхности сульфида кадмия обнаружен эффект внедрения компонент подложки в виде атомов Cd и молекул S2 в объем осажденной пленки фталоцианина.


Найти похожие

3.
536.42
М 744


   
    Модификация электронных свойств при адсорбции сопряженных органических молекул на поверхности поликристаллического SnO[2] [Текст] / А. С. Комолов [и др.] // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 2. - С. 99-104. - Библиогр.: c. 103-104 (17 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.375
Рубрики: Физика
   Термодинамика твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
электронная структура -- адсорбция -- сопряженные органические молекулы -- ультратонкие покрытия -- фталоцианин меди -- тетра-диангидрид карбоксильной кислоты перилена -- PTCDA -- диоксид олова -- оже-электронная спектроскопия -- атомный состав поверхности -- электронная спектроскопия полного тока -- спектры полного тока -- интерфейсные слои -- органические пленки
Аннотация: Прослежена модификация электронной структуры при адсорбции ультратонких покрытий фталоцианина меди (CuPc) и 3, 4, 9, 10-тетра-диангидрид карбоксильной кислоты перилена (PTCDA) на поверхность поликристаллического диоксида олова. С помощью оже-электронной спектроскопии установлены изменения атомного состава поверхности. По методу низкоэнергетической электронной спектроскопии полного тока при использовании тестирующего пучка электронов с энергиями до 30 eV определено, что спектры полного тока, характерные для органических пленок, формируются при толщинах осаждаемого покрытия 2-7 nm. Обнаружено формирование интерфейсного слоя толщиной 1. 5-2 nm, в котором наблюдается ослабление интенсивности структуры спектров полного тока и проявляется эффект взаимодействии молекул PTCDA с поверхностью SnO[2].

Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/02/p99-104.pdf

Доп.точки доступа:
Комолов, А. С.; Комолов, С. А.; Лазнева, Э. Ф.; Гавриков, А. А.; Репин, П. С.

Найти похожие

4.
547
Б 144


    Багирзаде, Г. А.
    Получение 4-фенилфталонитрила парофазным окислительным аммонолизом 4-фенил-о-ксилола. Изучение кинетики реакции [Текст] / Г. А. Багирзаде // Нефтехимия. - 2012. - Т. 52, № 2. - С. 124-131. - Библиогр.: с. 131 (9 назв. ) . - ISSN 0028-2421
УДК
ББК 24.2 + 24.46/48
Рубрики: Химия
   Органическая химия в целом

   Физико-химические методы анализа

Кл.слова (ненормированные):
кинетические уравнения -- окислительный аммонолиз -- проточные реакторы -- фталоцианин меди -- хроматографический метод
Аннотация: Изучены кинетические закономерности процесса получения 4-фенилфталонитрила парофазным окислительным аммонолизом 4-фенил-о-ксилола в интервале температур 633-713 К. Показано, что образование 4-фенилфталонитрила протекает последовательно через 4-фенил-о-толунитрил. Скорости превращения 4-фенил-о-ксилола и 4-фенил-о-толунитрила описываются уравнениями половинного порядка по соответствующим компонентам и не зависят от концентрации кислорода и аммиака. Обсуждены также кинетические закономерности образования и расходования побочных продуктов реакции, даны кинетические уравнения для скоростей их накопления и и высказаны предположения о механизме реакций. Определено, что образование побочного 4-фенилфталимида при высоких концентрациях аммиака происходит вследствие гидролиза 4-фенилфталонитрила; диоксид углерода образуется окислением 4-фенил-о-ксилола и декарбоксилированием 4-фенилфталамида, 4-фенилбензонитрил - из- 4-фенил-о-толунитрила и 4-фенилфталамида. При низких концентрациях аммиака реализуются дополнительные маршруты образования 4-фенилфталимида и CO[2] и 4-фенил-о-ксилола.


Найти похожие

5.
547
К 637


   
    Комплексы меди с азотсодержащими лигандами - катализаторы окисления циклогексана пероксидом водорода в мягких условиях [Текст] / А. Л. Максимов [и др.] // Нефтехимия. - 2012. - Т. 52, № 5. - С. 352-361. - Библиогр.: с. 361 (27 назв. ) . - ISSN 0028-2421
УДК
ББК 24.23
Рубрики: Химия
   Органические соединения

Кл.слова (ненормированные):
азотсодержащие лиганды -- катализаторы -- кетоны -- комплексы железа -- комплексы меди -- лиганды -- окисление циклогексана -- органические соединения -- пероксид водорода -- субстраты -- фталоцианин меди -- циклогексан
Аннотация: Изучено окисление циклогексана (ЦГ) пероксидом водорода в мягких условиях в присутствии систем, содержащих комплексы железа с азотсодержащими лигандами (2, 2'-бипиридил и о-фенантролин) и получаемыми in situ, и хлорированный (Cl15) фталоцианин меди (CuPcCl[15]). Показано, что в водно-ацетонитрильных смесях при оптимальных условиях наблюдается окисление ЦГ с образованием-циклогексанола (ЦГЛ), циклогексанона (ЦГН) и кислот с участием гидропероксида ЦГ. Высокая суммарная селективность образования кетона и спирта достигается при использовании избытка лигандов и субстрата.


Доп.точки доступа:
Максимов, А. Л.; Кардашева, Ю. С.; Предеина, В. В.; Клюев, М. В.; Рамазанов, Д. Н.; Таланова, М. Ю.; Караханов, Э. А.

Найти похожие

6.
539.2
С 873


   
    Структурное исследование тонких пленок фталоцианина меди методом спектроскопии анизотропного отражения [Текст] / В. Л. Берковиц [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 6. - С. 68-76 : ил. - Библиогр.: с. 75-76 (14 назв.) . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 22.37 + 22.344
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

   Спектроскопия

Кл.слова (ненормированные):
молекулярные пленки -- тонкие пленки -- структурные исследования -- медь -- фталоцианин меди -- CuPc -- результаты исследований -- кристаллические подложки -- стеклянные подложки -- спектроскопия анизотропного отражения -- метод спектроскопии анизотропного отражения -- молекулярные слои -- анизотропия слоев -- ориентационная анизотропия -- кристаллы -- молекулярные структуры -- свет -- отражение света -- анизотропное отражение
Аннотация: Представлены результаты исследования структуры тонких молекулярных пленок фталоцианина меди CuPc, сформированных на кристаллических GaAs (001) и стеклянных подложках. Показано, что применение метода спектроскопии анизотропного отражения позволяет определять ориентационную анизотропию молекулярных слоев CuPc. Обнаружено ориентирующее действие поверхности кристалла GaAs на молекулярную структуру пленок CuPc и отсутствие подобного эффекта в случае стеклянной подложки. Рассмотрена модель анизотропного отражения света, позволяющая удовлетворительно описать ориентационные особенности наблюдаемых спектров тонких пленок CuPc в зависимости от их толщины.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/06/p68-76.pdf

Доп.точки доступа:
Берковиц, В. Л.; Гордеева, А. Б.; Кособукин, В. А.; Теруков, Е. И.

Найти похожие

7.
621.315.592
Л 175


   
    Лазерно-стимулированная десорбция атомных и молекулярных фрагментов с поверхности диоксида олова, модифицированной тонким органическим покрытием фталоцианина меди [Текст] / А. С. Комолов [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2012. - Т. 46, вып. 1. - С. 48-52 : ил. - Библиогр.: с. 51 (19 назв.) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 22.343 + 22.37
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия

   Физика

   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
лазерная десорбция -- поверхность диоксида олова -- диоксид олова -- пленки диоксида олова -- наносекудные лазерные импульсы -- лазерные импульсы -- лазеры -- энергия кванта -- плотность энергии -- масс-спектры -- молекулярный кислород -- пленки фталоцианина меди -- фталоцианин меди -- CuPc -- десорбция -- подложки -- энергетические пороги -- органические пленки -- осаждение пленок
Аннотация: Исследованы закономерности лазерно-стимулированной десорбции с поверхности SnO[2] при воздействии 10-нс импульсного излучения неодимового лазера при энергии кванта 2. 34 эВ в диапазоне плотности энергий в импульсе от 1 до 50 мДж/см{2}. По достижении порогового значения энергии в импульсе 28 мДж/см{2} в масс-спектрах десорбции с поверхности SnO[2] обнаружено присутствие молекулярного кислорода O[2], а по достижении порогового значения энергии в импульсе 42 мДж/см{2} наблюдается десорбция олова Sn и частиц SnO и (SnO) [2]. Измерены масс-спектры лазерной десорбции с поверхности SnO[2], покрытой органической пленкой фталоцианина меди (CuPc) толщиной 50 нм. Показано, что лазерное воздействие вызывает фрагментацию молекул CuPc и десорбцию молекулярных фрагментов в диапазоне плотности энергий лазерного импульса от 6 до 10 мДж/см{2}. Наряду с десорбцией молекулярных фрагментов, в этом же энергетическом диапазоне наблюдается слабый десорбционный сигнал компонент подложки O[2], Sn, SnO и (SnO) [2]. Энергетические пороги десорбции атомных компонент подложки с поверхности органической пленки примерно в 5 раз ниже порогов их десорбции с атомно-чистой поверхности SnO[2], что свидетельствует о диффузии атомных компонент SnO[2] подложки в объем осаждаемой органической пленки.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2012/01/p48-52.pdf

Доп.точки доступа:
Комолов, А. С.; Комолов, С. А.; Лазнева, Э. Ф.; Туриев, А. М.

Найти похожие

8.
621.315.592
П 641


   
    Потенциальный барьер и фотопотенциал на интерфейсах пленок фторозамещенного и незамещенного фталоцианина меди на поверхности диоксида олова [Текст] / А. С. Комолов [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2012. - Т. 46, вып. 8. - С. 1012-1016 : ил. - Библиогр.: с. 1015-1016 (20 назв.) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233 + 24.5
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия

   Химия

   Физическая химия в целом

Кл.слова (ненормированные):
потенциальные барьеры -- ультратонкие покрытия -- фталоцианин меди -- CuPc -- диоксид меди -- поверхность диоксида меди -- интерфейсы пленок -- длина волны -- фотопотенциал поверхности -- органические пленки -- осаждение пленок -- подложки -- спектральные зависимости -- спектры поглощения -- органические материалы -- пучки электронов -- электроны -- спектроскопия полного тока -- СПТ -- электронная плотность -- носители заряда -- фотовольтаические свойства
Аннотация: Исследовано формирование потенциального барьера при осаждении ультратонких покрытий фталоцианина меди (CuPc) и 16-фторозамещенного гексадекафлюро-фталоцианина меди (F[16]CuPc) на поверхность поликристаллического диоксида олова, а также при осаждении F[16]CuPc-покрытия поверх пленки CuPc. При освещении приготовленных структур в видимом диапазоне длин волн обнаружено фотоиндуцированное изменение потенциала поверхности. Фотопотенциал поверхности исследованных органических пленок имеет положительный знак относительно подложки, его спектральные зависимости соответствуют спектрам поглощения органических материалов CuPc и F[16]CuPc. Измерения потенциала поверхности проводили с помощью тестирующего пучка медленных электронов на основе методики спектроскопии полного тока. В процессе осаждения пленки CuPc толщиной до 8 нм на подложку SnO[2] обнаружено суммарное уменьшение работы выхода на 0. 2 эВ, а в случае F[16]CuPc/SnO[2] интерфейса обнаружено увеличение работы выхода на 0. 55 эВ. При этом на начальной стадии осаждения при толщине органических пленок на 1. 5 нм пограничный потенциальный барьер соответствовал переносу электронной плотности от органической пленки в подложку как в случае CuPc/SnO[2], так и в случае F[16]CuPc/SnO[2]. Предположено, что фотоиндуцированное изменение потенциала поверхности вызвано разделением носителей заряда в пограничной области толщиной до 1. 5 нм.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2012/08/p1012-1016.pdf

Доп.точки доступа:
Комолов, А. С.; Лазнева, Э. Ф.; Комолов, С. А.; Репин, П. С.; Гавриков, А. А.

Найти похожие

9.
539.21:537
Э 455


   
    Электронные свойства пограничной области между пленками фторозамещенного и незамещенного фталоцианина меди / А. С. Комолов [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 7. - С. 948-953 : ил. - Библиогр.: с. 952-953 (28 назв.) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 22.373
Рубрики: Физика
   Электрические и магнитные свойства твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
интерфейсы -- пограничные слои -- электронные свойства -- фталоцианин меди -- электролитическое осаждение -- пленки -- отражение -- регистрация -- медленные электроны -- спектроскопия -- падающие электроны -- токи -- максимумы -- энергетические диапазоны -- уровни Ферми -- Ферми уровни -- метод теории функционала плотности -- переходные слои -- вакуум -- электронная плотность
Аннотация: Приведены результаты исследования формирования интерфейса в процессе осаждения пленок незамещенного фталоцианина меди (CuPc) на поверхность пленок 16-фторозамещенного (гексадекафторо-) фталоцианина меди (F[16]-CuPc). Использовали методику регистрации отражения от поверхности тестирующего пучка медленных электронов (very low energy electron diffraction, VLEED), реализованную в режиме спектроскопии полного тока при изменении энергии падающего электрона от 0 до 25 эВ. Для пленок F[16]-CuPc установлена структура максимумов в спектрах полного тока, выявлены ее основные отличия от структуры максимумов, известной для пленок CuPc, в энергетическом диапазоне от 5 до 15 эВ выше уровня Ферми. Отличия в структуре вакантных электронных орбиталей для случаев CuPc и F[16]-CuPc обнаружены также в результате расчета методом теории функционала плотности. В результате анализа изменения интенсивностей спектров полного тока, исходящих от пленок CuPc и F[16]-CuPc, предположено, что в процессе формирования пограничной области между этими пленками образуется переходный слой толщиной до 1 нм, для которого характерно размытие особенностей в спектре полного тока. Для исследованного интерфейсного барьера F[16]-CuPc/CuPc установлены высота, протяженность и изменение работы выхода. В пограничной области происходит понижение уровня вакуума на 0. 7 эВ, что соответствует переносу электронной плотности от пленки CuPc в сторону подложки F[16]-CuPc.
The interface formation during the deposition of the unsubstituted copper phthalocyanine film (CuPc) onto the surface of hexadecafluoro copper phthalocyanine (F[16]-CuPc) was studied. The incident low-energy electron beam with energies from 0 to 25 eV was used to test the surface under study according to the very low energy electron diffraction technique and to the total electron current spectroscopy measurement scheme. The peak structure of the total current spectra was determined for the F[16]-CuPc films studied and a comparison was made to the peak structure of the spectra known for the unsubstituted CuPc films within the energy region from 5 to 15 eV above the Fermi level. The differences of the orbital energies of CuPc and F[16]-CuPc molecules were obtained by means of the density functional theory calculations for the same energy region. During the CuPc film deposition the changes of the intensities of the spectra, which appear from the interface layer between CuPc and F[16]-CuPc films were analyzed. It was suggested that the interface layer with no significant total electron current peak structure was formed within 1 nm from the interface plane. The height of the interface barrier, its width and the work function changes at the F[16]-CuPc/CuPc boarder were determined. It was observed that the energy position of the vacuum level decreased by 0. 7 eV, which corresponds to the electron transfer from the CuPc film in the direction of the F[16]-CuPc film.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/07/p948-953.pdf

Доп.точки доступа:
Комолов, А. С.; Лазнева, Э. Ф.; Пшеничнюк, С. А.; Гавриков, А. А.; Чепилко, Н. С.; Томилов, А. А.; Герасимова, Н. Б.; Лезов, А. А.; Репин, П. С.

Найти похожие

10.
539.21:537
П 658


    Почтенный, А. Е.
    Проводимость композитных пленок фталоцианин меди-полистирол в присутствии адсорбированного кислорода / А. Е. Почтенный, А. В. Мисевич, В. К. Долгий // Журнал технической физики. - 2014. - Т. 84, № 9. - С. 139-142. - Библиогр.: c. 141-142 (9 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.373
Рубрики: Физика
   Электрические и магнитные свойства твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
композитные пленки -- фталоцианин меди -- полистирол -- проводимость -- электропроводность -- адсорбированный кислород -- адсорбционно-резистивный отклик -- диоксид азота -- наночастицы -- прыжковая проводимость -- центры локализации
Аннотация: Экспериментально исследованы электропроводность и адсорбционно-резистивный отклик на диоксид азота композитных пленок, содержащих наночастицы фталоцианина меди, диспергированные в матрицу полистирола. Полученные результаты проанализированы в рамках двухуровневой модели прыжковой проводимости. Выявлен вклад в проводимость собственных и примесных центров локализации, определены концентрация центров локализации во фталоцианине меди без примесей и радиусы локализации электронов в примесных и собственных состояниях.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2014/09/p139-142.pdf

Доп.точки доступа:
Мисевич, А. В.; Долгий, В. К.; Белорусский государственный технологический университет; Белорусский государственный технологический университетБелорусский государственный технологический университет

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)