Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=сканирующие зондовые микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.


    Соколов, Д. В.
    Механизм нанооксидирования n-In[0.53]Ga[0.47]As с помощью атомно-силового микроскопа [Текст] / Д. В. Соколов // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N1. - Библиогр.: с.65 (23 назв.) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
локальное оксидирование -- сканирующие зондовые микроскопы -- нанооксидирование -- атомно-силовые микроскопы
Аннотация: Показана окисная природа образования линий при АСМ модификайции слоя InGaAs на InP с согласованным параметром решетки. Рассмотрены различные модели механизма АСМ нанооксидирования InGaAs. Традиционная модель Карбера-Мотта с наведенным пространственным зарядом внутри оксида предложена в качестве базовой модели АСМ нанооксидирования


Найти похожие

2.
621.38
Б 953


    Быков, В. А. (д-р техн. наук).
    Нанотехнологический потенциал России [Текст] / В. А. Быков // Наука в России. - 2003. - N6 . - ISSN 0869-706Х
УДК
ББК 32.85+22.3с
Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника
   Физика--Физические приборы

Кл.слова (ненормированные):
нанотрубки -- нанотехнологии -- сканирующие зондовые микроскопы -- наноэлектроника
Аннотация: Важнейшим фактором, определяющим ныне экономический престиж государства, становятся не добывающие и перерабатывающие отрасли промышленности, а высокие технологии, и прежде всего нанотехнологии, которые могут быть использованы практически в любой сфере деятельности человека.


Найти похожие

3.
543
Ж 751


    Жихарев, А. В.
    Газожидкостная ячейка для сканирующих зондовых микроскопов [Текст] / А. В. Жихарев, С. Г. Быстров // Приборы и техника эксперимента. - 2004. - N 6. - Библиогр.: с. 118 (8 назв. ) . - ISSN 0032-8162
УДК
ББК 24.4
Рубрики: Химия--Аналитическая химия
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- газожидкостные ячейки
Аннотация: Описан принцип действия и конструкция закрытой газожидкостной ячейки для сканирующих зондовых микроскопов компании NT-MDT (Зеленоград, Россия) .


Доп.точки доступа:
Быстров, С. Г.; NT-MDT, компания

Найти похожие

4.
537.8
Н 254


   
    Наноразмерные эталонные образцы на базе трековых полимерных мембран [Текст] / И. Г. Григоров [и др.] // Доклады Академии наук. - 2011. - Т. 441, № 1, ноябрь. - С. 68-71. - Библиогр.: с. 70-71 . - ISSN 0869-5652
УДК
ББК 22.338
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
растровые электронные микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- наноструктуры кремния -- островковое золото -- нитрид титана -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- измерение нанообъектов
Аннотация: Продемонстрирована возможность использования для поверки и калибровки РЭМ, а также СЗМ, работающих в режимах сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомно-силового микроскопа (АСМ), трековых полимерных мембран с проводящим покрытием из нитрида титана.


Доп.точки доступа:
Григоров, И. Г.; Логинов, Б. А.; Борисов, С. В.; Поляков, Е. В.; Хлебников, Н. А.; Ромашев, Л. Н.; Зайнулин, Ю. Г.; Швейкин, Г. П.

Найти похожие

5.
389
Б 953


    Быков, Виктор Александрович (доктор технических наук).
    Наука не делится на "свою" и "чужую" [Текст] / В. А. Быков // Наука и жизнь. - 2011. - N 9. - С. 16-24 : 1 фот. . - ISSN 0028-1263
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
беседы -- интервью -- зондовые микроскопы -- микроскопы -- сканирующие микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- нанотехнологии -- высокотехнологические компании
Аннотация: Беседа с доктором технических наук, президентом Нанотехнологического общества, директором компании "МТ-НДТ" Виктором Александровичем Быковым о работе компании, имеющей вторую по величине долю мирового рынка в своем сегменте - сканирующих зондовых микроскопов.


Доп.точки доступа:
Вешняковская, Елена \.\

Найти похожие

6.
389
А 657


    Андреюк, Денис (кандидат биологических наук).
    Микроскопия от "увидеть" до "потрогать" [Текст] / Д. Андреюк, авт. Е. Вешняковская // Наука и жизнь. - 2011. - N 9. - С. 24-30 : 2 фот., 1 рис. . - ISSN 0028-1263
УДК
ББК 30.10
Рубрики: Техника
   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
история микроскопов -- микроскопы -- микроскопия -- сканирующие микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- зондовые микроскопы -- световые микроскопы -- электронные микроскопы -- оптические микроскопы
Аннотация: История создания микроскопа.


Доп.точки доступа:
Вешняковская, Елена

Найти похожие

7.
621.375
Т 654


   
    Транзисторные структуры с управляемым потенциальным рельефом одномерного квантового канала [Текст] / В. И. Борисов [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 3. - С. 85-92 : ил. - Библиогр.: с. 92 (9 назв. ) . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 32.86
Рубрики: Радиоэлектроника
   Квантовая электроника

Кл.слова (ненормированные):
транзисторные структуры -- гетероструктуры -- GaAs/AlGaAs -- потенциальные рельефы -- управляемые потенциальные рельефы -- квантовые каналы -- одномерные квантовые каналы -- газы -- электронные газы -- двумерные электронные газы -- анодное окисление -- локальное анодное окисление -- метод локального анодного окисления -- микроскопы -- зондовые микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- боковые затворы -- трехсекционные боковые затворы -- измеренные зависимости -- кондактанс канала
Аннотация: На основе гетероструктур GaAs/AlGaAs с двумерным электронным газом методом локального анодного окисления с помощью сканирующего зондового микроскопа созданы структуры с одномерным проводящим каналом и трехсекционными боковыми управляющими затворами. Показано, что затворы позволяют управлять продольным потенциальным профилем канала. На измеренных зависимостях кондактанса канала от напряжений на затворах наблюдались плато, в том числе не кратные 2e{2}/h, и максимумы, положение и вид которых определяются соотношением потенциалов на затворах.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/03/p85-92.pdf

Доп.точки доступа:
Борисов, В. И.; Лапин, В. Г.; Сизов, В. Е.; Темирязев, А. Г.

Найти похожие

8.
53.07
О-130


   
    Об устойчивости работы сканирующего силового микроскопа с нановискером на вершине зонда / В. В. Левичев [и др.] // Журнал технической физики. - 2013. - Т. 83, № 7. - С. 115-120. - Библиогр.: c. 119-120 (6 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.3с
Рубрики: Физика
   Физические приборы и методы физического эксперимента

Кл.слова (ненормированные):
сканирующие силовые микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- сканирующие микроскопы -- нановискеры -- металл-углеродные вискеры -- вискеры -- кантилеверы -- устойчивость работы микроскопов
Аннотация: Исследована работа кантилевера сканирующего зондового микроскопа с металл-углеродным вискером на вершине. Металл-углеродные вискеры, выращенные с помощью технологии осаждения материала под действием фокусированного ионного пучка в присутствии газов-прекурсоров, имели аспектное отношение alpha~10-200 и сохраняли свою форму при многократном сканировании в силовом режиме. Экспериментально продемонстрировано преимущество зондов с вискерами при исследовании поверхности с вертикальными стенками и узкими каналами. При больших значениях alpha обнаружена неустойчивость в работе сканирующего зондового микроскопа, обусловленная взаимодействием боковой поверхности вискера с образцом. Показано, что для устойчивой работы при больших аспектных отношениях необходимо ориентировать ось вискера по нормали к поверхности образца.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2013/07/p115-120.pdf

Доп.точки доступа:
Левичев, В. В.; Жуков, М. В.; Мухин, И. С.; Денисюк, А. И.; Голубок, А. О.

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)