Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог
Статьи из журналов: 2001-2014
Труды ОмГУ
История ОмГУ
Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=параметры систем<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
530.1
П 563

    Пономаренко, В. И.
    Определение параметров систем с запаздывающей обратной связью по хаотическим временным реализациям [Текст] / В. И. Пономаренко, М. Д. Прохоров, А. С. Караваев, Б. П. Безручко // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2005. - Т. 127, N 3. - Библиогр.: с. 515-527 . - ISSN 0044-4510
УДК
530.1
ББК 22.31
Рубрики: Физика--Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
системы с запаздыванием -- временные ряды -- запаздывающая обратная связь -- параметры систем -- хаотические временные реализации -- дифференциальные уравнения с запаздывающим аргументом
Аннотация: Предложены методы восстановления модельных дифференциальных уравнений с запаздывающим аргументом по временному ряду наблюдаемой для различных классов систем с запаздыванием.


Доп.точки доступа:
Прохоров, М. Д.; Караваев, А. С.; Безручко, Б. П.

Найти похожие
2.


    Казьмирук, В. В.
    Определение предельных параметров многолучевых электронно-оптических систем для диагностики полупроводниковых структур [Текст] / В. В. Казьмирук // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 10. - С. 37-42. - Материалы XXII Российской конференции по электронной микроскопии
УДК
^a621.382
ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
   Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
параметры систем -- характеристики электронно-оптических систем -- диагностика полупроводниковых структур -- растровые электронные микроскопы -- рентгеновская литография -- вторичная электронная эмиссия -- характеристики информации
Аннотация: Обсуждаются факторы, ограничивающие возможности электронно-зондовых систем для диагностики полупроводниковых структур. Определяется их влияние на приборные характеристики: производительность, разрешающую способность и качество информации. Устанавливается взаимосвязь между указанными характеристиками с целью разработки электронно-зондовой системы, предназначенной для конкретного применения - выявления дефектов, с сочетанием характеристик, максимально отвечающей этой конкретной задаче.


Доп.точки доступа:
Савицкая, Т. Н.

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)