Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы<.>) |
Общее количество найденных документов : 208
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1. 
|
Соколов, Д. В.
Механизм нанооксидирования n-In[0.53]Ga[0.47]As с помощью атомно-силового микроскопа [Текст] / Д. В. Соколов // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N1. - Библиогр.: с.65 (23 назв.)
. - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
локальное оксидирование -- сканирующие зондовые микроскопы -- нанооксидирование -- атомно-силовые микроскопы
Аннотация: Показана окисная природа образования линий при АСМ модификайции слоя InGaAs на InP с согласованным параметром решетки. Рассмотрены различные модели механизма АСМ нанооксидирования InGaAs. Традиционная модель Карбера-Мотта с наведенным пространственным зарядом внутри оксида предложена в качестве базовой модели АСМ нанооксидирования
Найти похожие
|
2.
|
Рехвиашвили, С. Ш.
Дислокационный механизм трения при взаимодействии нанозонда с поверхностью твердого тела [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N2. - Библиогр.: с.142 (13 назв.)
. - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- краевые дислокации -- нанозонд -- трение -- трибоакустическая эмиссия
Аннотация: Предлагается дислокационный механизм силы трения между зондом атомно-силового микроскопа и атомарно-гладкой поверхностью твердого тела, согласно которому контактная зона представляется краевой дислокацией. С помощью атомно-силового микроскопа измерена трибоакустическая эмиссия, особенности которой указывают на дислокационный характер трения. Проведен аналитический расчет силы трения для иглы параболической формы
Найти похожие
|
3.
|
Рехвиашвили, С. Ш.
Некоторые вопросы термодинамики контактного взаимодействия в атомно-силовом микроскопе [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N10. - Библиогр.: с.134 (10 назв.)
. - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- контактное взаимодействие -- термодинамика -- зондовая микроскопия
Аннотация: В рамках термодинамического подхода рассмотрено контактное взаимодействие в атомно-силовом микроскопе (АСМ). Показано, что гистерезис, наблюдаемый при зондировании образца в вертикальном направлении, обусловлен термодинамическим циклом поверхностная энергия-работа. Проведен расчет силы взаимодействия между образцом и иглой АСМ, имеющей форму параболоида вращения. Найдену флуктуации основных термодинамических величин. Обсуждается роль электрокапиллярных сил. Предложен новый метод спектроскопии в режиме боковых сил
Найти похожие
|
4.
| 535
Е 302
Егорова, О. В.
Новые возможности современных металлографических микроскопов и цифровой обработки изображений в области материаловедения [Текст] / О. В. Егорова, А. В. Зацепин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 11
. - ISSN 1028-6861ББК 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
Техника--Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
изображения -- инвертированные микроскопы -- материаловедение -- металлографические микроскопы -- металлография -- микроскопия -- микроскопы -- модули для материаловедения -- обработка изображений -- отраженный свет -- свет отраженный -- световая микроскопия -- цифровая обработка
Аннотация: Представлены новые возможности современных металлографических микроскопов и цифровой обработки изображений в области материаловедения.
Доп.точки доступа:
Зацепин, А. В.; Carl Zeiss
Найти похожие
|
5.
| 53
Б 953
Быков, В. А. (к-т физ.-мат. наук).
Микроскоп... рассматривающий атомы [Текст] / В. А. Быков // Наука в России. - 2001. - N1
. - ISSN 0869-706Х Рубрики: Физика--Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
1981 -- атомы -- измерения -- наблюдения -- сканирующие микроскопы
Аннотация: Швейцарскими учеными был сконструирован сканирующий тоннельный микроскоп, позволяющий наблюдать атомы, причем каждый в отдельности и в заданных точках.
Найти похожие
|
6.
| 621.38
Б 953
Быков, В. А. (д-р техн. наук).
Нанотехнологический потенциал России [Текст] / В. А. Быков // Наука в России. - 2003. - N6
. - ISSN 0869-706ХББК 32.85+22.3с
Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника
Физика--Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
нанотрубки -- нанотехнологии -- сканирующие зондовые микроскопы -- наноэлектроника
Аннотация: Важнейшим фактором, определяющим ныне экономический престиж государства, становятся не добывающие и перерабатывающие отрасли промышленности, а высокие технологии, и прежде всего нанотехнологии, которые могут быть использованы практически в любой сфере деятельности человека.
Найти похожие
|
7.
| 22.33
П 685
Правоторова, Т.
Не только видеть, но и "щупать" молекулы [Текст] / Т. Правоторова // Наука и религия. - 2001. - N12
. - ISSN 0130-7045ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
информационные технологии -- компьютеры -- микроскопы -- молекулярные микроскопы -- супермикроскопы -- физика
Аннотация: В Японии создан супермикроскоп, который не только увеличивает изображение частицы, но и воссоздает их трехмерное изображение.
Найти похожие
|
8.
| 621.38
Р 780
Ростами, Х. Р.
Холловский микроскоп для визуализации магнитного состояния объектов [Текст] / Х. Р. Ростами // Приборы и техника эксперимента. - 2004. - N 6. - Библиогр.: с. 102 (32 назв. )
. - ISSN 0032-8162ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника
Кл.слова (ненормированные):
датчики Холла -- микроскопы -- визуализация -- магнитные поля -- сканирование -- магнитометры
Аннотация: На основе двух датчиков Холла разработан трехмерный микроскоп. Динамический диапазон микроскопа по магнитному полю на частоте 19 Гц равен 2. 5 мкГс-80 кГс.
Найти похожие
|
9.
| 543
Ж 751
Жихарев, А. В.
Газожидкостная ячейка для сканирующих зондовых микроскопов [Текст] / А. В. Жихарев, С. Г. Быстров // Приборы и техника эксперимента. - 2004. - N 6. - Библиогр.: с. 118 (8 назв. )
. - ISSN 0032-8162ББК 24.4
Рубрики: Химия--Аналитическая химия
Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- сканирующие зондовые микроскопы -- газожидкостные ячейки
Аннотация: Описан принцип действия и конструкция закрытой газожидкостной ячейки для сканирующих зондовых микроскопов компании NT-MDT (Зеленоград, Россия) .
Доп.точки доступа:
Быстров, С. Г.; NT-MDT, компания
Найти похожие
|
10.
| 535
Г 935
Гудошников, С. А.
Сканирующая магнитометрия высокого разрешения на основе сверхпроводящего квантового интерферометра [Текст] / С. А. Гудошников, Л. В. Матвеец [и др.] // Радиотехника и электроника. - 2001. - Т.46,N7. - Библиогр.:с.804-805 (45 назв.)
. - ISSN 0033-8494 Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
ССМ -- квантовый интерферометр -- магнитные микроскопы -- сканирующая магнитометрия -- сканирующие сквид-микроскопы -- сквид-магнитометры
Аннотация: Представлен обзор методов и устройств на основе сверхпроводящих квантовых интерферометров(сквидов), предназначенных для измерения и визуализации магнитных полей рассеяния вблизи поверхности слабомагнитных физических объектов. Описаны принципы работы, конструктивные особенности и основные характеристики сканирующих сквид-магнитометров, рассмотрены их возможности для фундаментальных и практических применений. Проведено сравнение характеристик различных типов магнитных микроскопов.
Перейти: http://www.maik.ru
Доп.точки доступа:
Матвеец, Л.В.; Мигулин, В.В.; Снигирев, О.В.; Тишин, А.М.
Найти похожие
|
11.
| 539.2
Р 449
Реутов, В. Ф.
О вкладе нанокластеров в радиационное упрочнение металов [Текст] / В. Ф. Реутов // Физика металлов и металловедение. - 2003. - Т.96,N6. - Библиогр.:с.99 (7 назв.)
. - ISSN 0015-3230ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
нанокластеры -- радиационные дефекты -- упрочнение -- металлы -- схемы -- молибден -- микротвердость -- электронные микроскопы
Аннотация: В работе приведены экспериментальные результаты исследований и измерения микротвердости облученных образцов Мо с целью установления вклада скоплений радиационных дефектов в виде нанокласстеров/петель в радиационное упрочнение.
Перейти: http://www.maik.ru
Найти похожие
|
12.
| 537
Л 724
Лозовская, Е. (Кандидат физико-мат. наук).
Атомно-силовая микроскопия [Текст] / Е. Лозовская // Наука и жизнь. - 2004. - N 1
. - ISSN 0028-1263ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- методы исследования -- микроскопы
Аннотация: Атомно-силовая микроскопия позволяет анализировать на атомном уровне структуру самых разных твердых материалов - стекла, керамики, пластиков, металлов, полупроводников. Измерение можно проводить не только в вакууме, но и на воздухе, в атмосфере любого газа и даже в капле жидкости. Этот метод незаменим и для исследования биологических объектов.
Найти похожие
|
13.
| 537
К 75
Коханчик, Л. С.
Количественное определение выхода вторичных электронов с поверхности сегнетоэлектрических доменов [] / Л. С. Коханчик, Б. К. Пономарев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 6. - С. 24-29. - Библиогр.: с. 29 (7 назв. )
. - ISSN 1028-6861ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
вторичные электроны; домены; микроскопы; поверхностные слои; поляризация; растровые микроскопы; сегнетоэлектрические домены; электронная эмиссия; электронные микроскопы; электроны; эмиссия
Аннотация: Предложено два методических подхода для сравнительного измерения коэффициента вторичной электронной эмиссии (s) при помощи растрового электронного микроскопа с поверхности сегнетоэлектрических доменов с противоположной "+"- и "-"- ориентацией векторов спонтанной поляризации P[s].
Доп.точки доступа:
Пономарев, Б. К.
Найти похожие
|
14.
| 53.07
О-91
Офицеров, А. В.
Электромагнитная трехкоординатная шаговая система позиционирования острия сканирующего туннельного микроскопа [] / А. В. Офицеров, В. С. Эдельман // Приборы и техника эксперимента. - 2005. - N 2. - С. 133-139
. - ISSN 0032-8162ББК 22.3с
Рубрики: Физика--Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
электромагнитные системы; шаговые системы; микроскопы; туннельные микроскопы; гелиевые температуры
Аннотация: Описано простое компактное устройство шагового перемещения по трем координатам, предназначенное для позиционирования острия сканирующего туннельного микроскопа, работающего при гелиевых температурах.
Доп.точки доступа:
Эдельман, В. С.
Найти похожие
|
15.
| 53.07
Б 24
Баранник, А. В.
Установка для исследования микроструктурных, термо- и электрооптических свойств светорассеивающих пленочных материалов [] / А. В. Баранник, В. Я. Зырянов, Р. М. Галямов // Приборы и техника эксперимента. - 2005. - N 5. - С. 124-127. - Библиогр.: с. 127 (5 назв. )
. - ISSN 0032-8162ББК 22.3с
Рубрики: Физика--Физические приборы
Кл.слова (ненормированные):
пленочные материалы; светорассеяние; термооптические свойства; электрооптические свойства; поляризационные микроскопы
Аннотация: Описаны установка на основе оптического поляризационного микроскопа и методика проведения исследований морфологии светорассеивающих пленочных материалов одновременно с измерением их термо- и электрооптических характеристик.
Доп.точки доступа:
Зырянов, В. Я.; Галямов, Р. М.
Найти похожие
|
16.
| 001
С 55
События и факты из мира науки и техники [] // Физика в школе. - 2005. - N 1. - С. 11-19. - Атлас освещенности небаОптический элемент высокого разрешенияМикроскоп нового типаЯпонский рентгеновский микроскоп"Компьютерный" тепловизорТепловизионная камера для выявления правонарушителяИнфракрасные излучатели дают "зеленый свет""Всевидящая" аппаратура для создания картин местностиРоссийский яркосветящий диодПримеры применения светодиодовМеханизм свечения живых организмовЦветоловушки для насекомых-вредителейПостановления о ежегодных премиях Правительства РФ
. - ISSN 0130-5522ББК 30
Рубрики: Техника--Общие вопросы техники
Наука. Науковедение--Общие вопросы науки
Кл.слова (ненормированные):
правительственные премии; оптические элементы; оптическая передача информации; микросканеры; рентгеновские микроскопы; тепловизионные камеры; циркулярно поляризованный свет; тепловизоры; инфракрасные излучатели; термографы; лазерное сканирование; светодиоды; ночесветка; моллюски; биолюминиценция; биосвечение; свечение живых организмов; цветоловушки; насекомые-вредители; атласы освещенности неба
Аннотация: Об интересных изобретениях, находках современных ученых.
Найти похожие
|
17.
| 669
В 67
Волков, А. Ю.
Формирование высокопрочного состояния с пониженным электросопротивлением в сплаве Pd-Cu-Ag [] / А. Ю. Волков // Физика металлов и металловедение. - 2005. - Т. 100, N 4. - С. 106-112. - Библиогр.: с. 112 (21 назв. )
. - ISSN 0015-3230ББК 34.3
Рубрики: Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы
Кл.слова (ненормированные):
Pd-Cu-Ag; электросопротивление; сплавы; медь; серебро; палладий; электронные микроскопы
Аннотация: Проведено исследование in situ формирования структуры сплава 50Pd-30Cu-20Ag (вес. %) при нагреве в колонне электронного микроскопа.
Найти похожие
|
18.
| 338(470)
Н 19
Назад в Россию [] // Эксперт. - 2005. - N 21. - С. 70-78
. - ISSN 1812-1896ББК 65.9(2Рос)
Рубрики: Экономика--Экономика России
Кл.слова (ненормированные):
21 в. нач. -- надежда (награда); инновации; инновационные проекты; проекты; конкурсы; лауреаты; переработка отходов лиственницы; отходы лиственницы; получение дигидрокверцетина; дигидрокверцетин; витамин Р; получение витамина Р; диагностика трубопроводов; трубопроводы; биосенсоры; экспресс-контроль на микробное загрязнение; микробное загрязнение продуктов; продукты; ассиметрия лица; хирургическая коррекция; обучение глухих; глухие; жестовая методика; жестовый язык; фонд жестового языка; нанотехнологическое оборудование; нанотехнологическая лаборатория; сканирующие зондовые микроскопы; зондовые микроскопы; микроскопы; наноструктурные электротехнические провода; электротехнические провода; провода; медно-ниобиевые провода; Cu-Nb-провода; материалы с нанокристаллической структурой; обнаружение взрывчатых веществ; взрывчатые вещества; обнаружение радиоактивных веществ; радиоактивные вещества; метод нейтронного радиационного анализа; нейтронный радиационный анализ; радиационный анализ; поиск взрывчатки; взрывчатые вещества; нейтронные детекторы; детекторы; высокоскоростная криптография; криптография; шифрование данных; вибромониторинг; векторные датчики; датчики; векторные трехкомпонентные вибропреобразователи; векторные вибропреобразователи; вибропреобразователи; уравновешивание роторов; роторы; балансировочные устройства; SIM-карты; платежные POS-терминалы; POS-терминалы; мобильная связь; электронная логистика; логистика
Аннотация: Обзор двадцати лучших проектов - победителей очередного Конкурса русских инноваций (проводит журнал "Эксперт") .
Доп.точки доступа:
Конкурс русских инноваций; Институт биологического приборостроения РАН; Институт теоретической и экспериментальной биофизики РАН; Московский центр детской челюстно-лицевой хирургии; NT-MDT, нанотехнологическая компания; Всероссийский НИИ неорганических материалов им. акад. А. А. Бочвара, ФГУП; "Люмтек", малое предприятие; РАТЭК, компания; Московская городская телефонная сеть; "РЭМ-вибро", научно-производственное предприятие; "Техника", научно-производственное предприятие; "ИнтросКо"; Приват-банк
Найти похожие
|
19.
| 611
П 75
Приключения внутри человеческого тела [Текст] / авт. // Студенческий меридиан. - 2005. - N 11. - С. 26-29
. - ISSN ХХХХ-ХХХХББК 28.706
Рубрики: Биология--Анатомия и гистология человека
Кл.слова (ненормированные):
внутренние органы; медицинские исследования; тело человека; микроскопы; медицинская техника
Аннотация: Новые технологии в медицинских исследованиях человека.
Найти похожие
|
20.
| 539.219.3
Ш 66
Шкляев, А. А.
Создание наноструктур германия и кремния с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа [Текст] / А. А. Шкляев, авт. М. Ичикава // Успехи физических наук. - 2006. - Т. 176, N 9. - С. 913-930. - Библиогр.: с. 929-930 (79 назв. ). - ил.: 18 рис.
. - ISSN 0042-1294ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- сканирующие туннельные микроскопы -- зонды -- перенос атомов -- трехмерные структуры -- поверхностные диффузии -- электронные пучки
Аннотация: Рассмотрено состояние исследований по созданию наноструктур на поверхностях полупроводников с помощью зонда сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) . Анализируется процесс непрерывного переноса атомов при направленной поверхностной диффузии под действием электрического поля СТМ в условиях испарения поверхностных атомов полем. Исследуется влияние облучения внешним электронным пучком на взаимодействия образца и зонда.
Перейти: http:www.ufn.ru
Доп.точки доступа:
Ичикава, М.
Найти похожие
|
|
|
|
Электронные ресурсы
Электронный каталог
Стандартный