Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=EBSD<.>)

Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7

539.2
М 64

Миронов, С. Ю.
Анализ "ошибочных" точек, выявляемых при исследовании титана методом автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD [] / С. Ю. Миронов, Г. А. Салищев, Н. В. Сергеев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 9. - С. 33-40. - Библиогр.: с. 40 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
EBSD-сканирование; автоматический анализ дифракции; дифракция электронов; Кикучи-картины; Кикучи-полосы; кристаллические материалы; обратно рассеянные электроны; ошибочные точки; титан; электроны
Аннотация: Проведено исследование "ошибочных" точек, выявляемых при EBSD-сканировании титана. Проанализирован характер искажений, вносимых "ошибочными" точками в спектр разориентировок титана.

Доп.точки доступа:
Салищев, Г. А.; Сергеев, Н. В.

Найти похожие

539.2
Д 18

Даниленко, В. Н.
Анализ спектра разориентировок границ зерен методами просвечивающей электронной микроскопии и дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD [Текст] / В. Н. Даниленко, С. Ю. Миронов, М. М. Мышляев, А. П. Жиляев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 10. - С. 25-28. - Библиогр.: с. 28 (19 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
EBSD; elektron backscatter diffraction; дифракция; дифракция электронов; зерна (химия); картины Кикучи; Кикучи картины; кристаллогеометрия; микроскопия; микроскопы; обратно рассеянные электроны; поликристаллические материалы; просвечивающая микроскопия; разориентировки; рассеянныые электроны; растровые микроскопы; электронная микроскопия; электроны
Аннотация: Проведен сравнительный анализ результатов исследования границ зерен методами просвечивающей электронной микроскопии и дифракции обратно рассеянных электронов.

Доп.точки доступа:
Миронов, С. Ю.; Мышляев, М. М.; Жиляев, А. П.

Найти похожие

Конькова, Т. Н.
Интенсивная криогенная деформация меди [Текст] / Т. Н. Конькова, С. Ю. Миронов, А. В. Корзников // Физика металлов и металловедение. - 2010. - Т. 109, N 2. - С. 184-189. - Библиогр.: с. 189 (23 назв. ) . - ISSN 0015-3230

УДК

^a669.017

ББК 34.2
Рубрики: Технология металлов
Металловедение в целом
Кл.слова (ненормированные):
медь -- деформация -- деформация меди -- криогенная деформация -- дифракция -- электроны -- рассеянные электроны -- EBSD -- интенсивная пластическая деформация -- деформация кручением
Аннотация: Метод автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) был использован для аттестации структуры меди, полученной путем интенсивной пластической деформации кручением под высоким давлением в криогенных условиях. Установлено, что интенсивная криогенная деформация приводит к значительному измельчению структуры до размера зерна 0. 2 мкм.

Доп.точки доступа:
Миронов, С. Ю.; Корзников, А. В.

Найти похожие

539.2
П 764

Применение EBSD анализа в физическом материаловедении (обзор) [Текст] / рец. В. Н. Даниленко [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 2. - С. 28-46. - Библиогр.: с. 44-46 (71 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

539.2

669.017

ББК 22.37 + 34.2
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
   Технология металлов
   Металловедение в целом
Кл.слова (ненормированные):
EBSD -- обзоры -- физическое материаловедение -- elektron backscatter diffraction -- дифракция электронов -- обратно рассеянные электроны -- микроструктурный анализ -- картины Кикучи -- Кикучи картины -- автоматическое индицирование -- пластические деформации -- рекристаллизация -- фазовые превращения -- просвечивающая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- границы зерен -- спектры разориентировок -- рост зерен -- зерна
Аннотация: Продемонстрирован высокий потенциал метода автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов для микроструктурного анализа.

Доп.точки доступа:
Даниленко, В. Н.; Миронов, С. Ю.; Беляков, А. Н.; Жиляев, А. П.

Найти похожие

539.3/.6
Н 209

Найденкин, Е. В.
Эволюция зернограничного ансамбля никеля при ползучести в условиях повышенных температур / Е. В. Найденкин, К. В. Иванов // Известия вузов. Физика. - 2012. - Т. 55, № 10. - С. 3-7 : рис., табл. - Библиогр.: c. 7 (12 назв. ) . - ISSN 0021-3411

УДК

539.3/.6

546.79

ББК 30.121 + 24.13
Рубрики: Техника
   Сопротивление материалов
   Химия
   Радиоактивные элементы
Кл.слова (ненормированные):
EBSD-анализ -- границы зерен стали -- зернограничная инженерия -- зернограничный ансамбль поликристаллов -- крупнозернистые структуры -- никель -- ползучесть -- поликристаллический никель -- свойства металлов -- спектр разориентировок
Аннотация: С использованием метода дифракции обратнорассеянных электронов (англ. EBSD) проведены исследования эволюции зернограничного ансамбля поликристаллического никеля в условиях ползучести при температуре 823 К (~ 0, 5 Т пл). Установлено, что при малых степенях деформации наблюдается распад двойниковых границ зерен сигма3 с образованием специальных границ зерен сигма9 и сигма27. Показано, что с увеличением степени деформации происходит существенный рост малоугловых разориентировок в материале, сопровождающийся снижением доли специальных границ зерен вследствие их взаимодействия с решеточными дислокациями.

Доп.точки доступа:
Иванов, К. В.

Найти похожие

539.2
Р 935

Рыбин, В. В.
Особенности строения разориентированных структур в бислойной пластине медь-медь, полученной сваркой взрывом / В. В. Рыбин, Э. А. Ушанова, Н. Ю. Золоторевский // Журнал технической физики. - 2013. - Т. 83, № 9. - С. 63-72. - Библиогр.: c. 71-72 (14 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
медь -- бислойные пластины -- сварка взрывом -- разориентированные структуры -- пластические струи -- пластическое течение -- просвечивающая электронная микроскопия -- EBSD-анализ -- фрагментированные структуры
Аннотация: Проведено систематическое исследование структур деформационного происхождения на микро-, мезо и макро- структурно-масштабных уровнях в узкой приконтактной зоне соединения, полученного методом сварки взрывом, двух медных пластин. На участках, непосредственно прилегающих к поверхности контакта пластин, обнаружено существование пластических струй - участков аномальной локализации пластического течения металла. Методами просвечивающей электронной микроскопии и EBSD-анализа исследовано дефектное строение пластических струй. Показано, что на мезоуровне пластические струи представляют собой области сильно фрагментированной структуры. Изучена статистика распределения фрагментов по разориентировкам и поперечным размерам.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2013/09/p63-72.pdf

Доп.точки доступа:
Ушанова, Э. А.; Золоторевский, Н. Ю.

Найти похожие

53
П 802

Происхождение высокоугловых границ зерен в металлах, подвергнутых мегапластической деформации / А. М. Глезер [и др.] // Доклады Академии наук. - 2014. - Т. 457, № 5, август. - С. 535-538 : 4 рис. - Библиогр. : с. 538 (11 назв.) . - ISSN 0869-5652

УДК

ББК 22.3
Рубрики: Физика
Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
мегапластические деформации -- деформации твердых тел -- структура деформируемых металлических материалов -- камера Бриджмена -- Бриджмена камера -- EBSD-анализ -- высокоугловые границы зерен -- рекристаллизация металлов
Аннотация: Показано, что процессы МПД при комнатной температуре в металлах и твердых растворах сопровождаются динамической рекристаллизацией.

Доп.точки доступа:
Глезер, А. М.; Варюхин, В. Н.; Томчук, А. А.; Малеева, Н. А.

Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)