Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=тонкие металлические пленки<.>)

Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7

539.216.2
А 724

Антонец, И. В.
Влияние подложек на формирование рельефа поверхности тонких металлических пленок [Текст] / И. В. Антонец, Е. А. Голубев, Л. Н. Котов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 8. - С. 65-71 . - ISSN 0207-3528

УДК

539.216.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
тонкие металлические пленки -- рельеф поверхности -- поверхность подложек -- электронная микроскопия
Аннотация: Исследовано влияние рельефа поверхности подложек на морфологию тонких пленок Ag, Си и Fe методами атомно-силовой и растровой электронной микроскопии. Пленки получены в вакууме 10\{-3\} Па термическим испарением и конденсацией при комнатной температуре на подложки из разных материалов (полимер, стекло, стеклотекстолит). Выявлены различия в размерах фрагментов рельефа, величине шероховатостей пленок на различных подложках и характере контакта пленки и подложки.

Доп.точки доступа:
Голубев, Е. А.; Котов, Л. Н.

Найти похожие

533.9
И 207

Иванов, Л. И.
Состав и морфология поверхности сапфира после импульсной обработки высокотемпературной плазмой [Текст] / Л. И. Иванов, И. В. Боровицкая [и др.] // Физика и химия обработки материалов. - 2008. - N 1. - С. 32-37 . - ISSN 0015-3214

УДК

533.9

539.2

ББК 22.333 + 22.37
Рубрики: Физика
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
высокотемпературная плазма -- импульсная обработка -- дейтериевая плазма -- аргоновая плазма -- импульсная плазменная обработка -- металлические пленки -- тонкие металлические пленки -- морфология поверхности сапфира -- высокоадгезионные покрытия
Аннотация: Исследовано изменение состава морфологии поверхности сапфира при импульсном воздействии высокотемпературной аргоновой или дейтериевой плазмы.

Доп.точки доступа:
Боровицкая, И. В.; Дедюрин, А. И.; Масляев, С. А.; Крохин, О. Н.; Никулин, В. Я.; Тихомиров, А. А.; Яминский, И. В.; Синицына, О. В.

Найти похожие

539.2
Б 896

Брыскин, В. В.
Сила Казимира с учетом конечной толщины взаимодействующих пластин [Текст] / В. В. Брыскин, авт. М. П. Петров // Физика твердого тела. - 2008. - Т. 50, вып. 2. - С. 222-226. - Библиогр.: с. 226 (17 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
сила Казизимира -- Казимира сила -- тонкие металлические пленки -- плазменная частота -- тонкие пленки
Аннотация: Произведен расчет силы Казимира между двумя тонкими металлическими пленками с учетом конечной толщины пленок и конечного значения плазменной частоты. Найдены условия, при которых возможно значительное (на порядок величины и более) ослабление силы Казимира в пленках по сравнению с объемными металлическими пластинами. Проведено сравнение с известными экспериментальными данными и сделан вывод, что наблюдаемые значения силы Казимира для пленок могут быть объяснены с помощью настоящей теории, если допустить, что длина волны плазменных колебаний составляет более 1000 nm.

Доп.точки доступа:
Петров, М. П.

Найти похожие

Зуев, В. С.
Черенковский механизм возбуждения поверхностных волн [Текст] / В. С. Зуев, А. М. Леонтович, В. В. Лидский // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2010. - Т. 91, вып: вып. 3. - С. 126-129

УДК

^a539.12

ББК 22.382
Рубрики: Физика
Элементарные частицы
Кл.слова (ненормированные):
тонкие металлические пленки -- тонкие пленки -- поверхностные волны -- заряженные частицы -- эффект Вавилова-Черенкова -- Вавилова-Черенкова эффект
Аннотация: Предложена теория возбуждения поверхностных волн в тонкой однородной пленке металла, окруженной диэлектрической средой, при движении внутри пленки быстрой заряженной частицы. Показано, что эффект Вавилова-Черенкова для поверхностных волн возникает при скоростях частицы в десятки и сотни раз меньших, чем соответствующие скорости в однородной среде.

Доп.точки доступа:
Леонтович, А. М.; Лидский, В. В.

Найти похожие

539.21:534
О-754

Особенности тензорезистивного эффекта в тонких металлических пленках в области упругой и пластической деформации [Текст] / И. П. Бурык [и др.] // Журнал технической физики. - 2011. - Т. 81, N 2. - С. 75-81. - Библиогр.: c. 80-81 (18 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

539.21:534

ББК 22.372
Рубрики: Физика
Механические и акустические свойства монокристаллов
Кл.слова (ненормированные):
тензорезистивный эффект -- тензоэффект -- тонкие пленки -- тонкие металлические пленки -- упругие деформации -- пластические деформации -- рассеивание электронов -- зернограничное рассеивание
Аннотация: Изучены особенности тензорезистивного эффекта в одно- и двуслойных пленках Cr, Fe, Mo, Ni, Pd и Fe/Cr, Cu/Cr, Ni/Cr, Pd/Fe в области упругой и пластической деформации. Проанализирован вопрос о вкладе поверхностного и зернограничного рассеивания электронов в чувствительность к деформации однослойных пленок S{rho}. Проведено сравнение величины S{rho} одно- и двуслойных пленок при упругой и пластической деформации. Сделан вывод, что в случае пленочной системы Fe/Cr основной вклад в величину S{rho} вносит объемное и зернограничное рассеивание электронов. При этом зернограничное рассеивание одинаково эффективно как при упругой, так и при пластической деформации, о чем говорит большое значение коэффициента рассеивания электронов на границах зерен (R=~0. 36-0. 41).

Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2011/02/p75-81.pdf

Доп.точки доступа:
Бурык, И. П.; Великодный, Д. В.; Однодворец, Л. В.; Проценко, И. Е.; Ткач, Е. П.

Найти похожие

539.2
А 501

Алисултанов, З. З.
К теории электронных состояний системы эпитаксиальный графен-размерно-квантованная пленка [Текст] / З. З. Алисултанов, авт. Р. П. Мейланов // Физика твердого тела. - 2012. - Т. 54, вып. 7. - С. 1398-1404. - Библиогр.: с. 1404 (25 назв. ) . - ISSN 0367-3294

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
размерно-квантовая пленка -- металлические пленки -- тонкие металлические пленки -- электронные состояния -- внешние магнитные поля -- эпитаксиальный графен
Аннотация: Рассматривается задача об эпитаксиальном графене, сформированном на тонкой металлической пленке при наличии внешнего магнитного поля. Показано, что задача может быть решена с помощью техники функций Грина в формализме Каданова-Бейма. Получены аналитические выражения для переходящего заряда как функции магнитного поля и толщины пленки.

Доп.точки доступа:
Мейланов, Р. П.

Найти похожие

535.215
Р 936

Рыбкин, А. Г.
Спектры квантовых состояний в тонких металлических пленках и их модификация: система Al/W (110) [Текст] / А. Г. Рыбкин, А. М. Шикин, В. К. Адамчук // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 5. - С. 723-725. - Библиогр.: c. 725 (5 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

535.215

539.211

ББК 22.343 + 22.37
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
тонкие металлические пленки -- алюминий -- фотонная спектроскопия -- квантовые электронные состояния -- напыление -- модификация спектров -- дисперсионные зависимости -- спектры квантовых состояний -- спиновая поляризация -- экспериментальные исследования -- фотоэлектронные спектры
Аннотация: Методом фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением экспериментально исследована модификация спектров квантовых электронных состояний sp-типа в тонких металлических пленках алюминия на поверхности Al/W (110) как в процессе напыления, так и в зависимости от угла детектирования.

Доп.точки доступа:
Шикин, А. М.; Адамчук, В. К.

Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)