Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=скейлинги<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

539.19
Б 734

Богданов, Е. А.
Соотношения подобия (скейлинги) для пространственных распределений параметров плазмы положительного столба разряда в кислороде [Текст] / Е. А. Богданов, А. А. Кудрявцев [и др.] // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N9. - Библиогр.: 29 назв. . - ISSN 0044-4642

УДК

539.19

ББК 22.36
Рубрики: Физика--Молекулярная физика
Кл.слова (ненормированные):
CFDRC (программное обеспечение) -- кислородная плазма -- моделирование плазмы -- скейлинги
Аннотация: С помощью коммерческого CFDRC software (http: //www.cfdrc.com/ hicksimcfdplasma), позволяющего проводить симуляции в произвольной 3D-геометрии с использованием fluid-уравнений для тяжелых компонентов, и решения кинетического уравнения для электронов проведено полномасштабное самосогласованное моделирование плазмы положительного столба разряда постоянного тока в кислороде. Рассмотрены основные закономерности (скейлинги), которым подчиняются пространственные распределения заряженных частиц. Так как в разных областях значений параметров доминируют разные физические процессы, скейлинги эти сильно различаются. При низких давлениях во внутренней области выполняется условие больцмановского распределения не только электронов, но и отрицательных ионов, что приводит к формированию там плоского профиля электронов и параболического - ионов. В балансе ионов главную роль играют процессы переноса, поэтому учет возможного их нагрева в поле драматически влияет на пространственное распределение заряженных частиц. При повышении давления в балансе отрицательных ионов доминируют объемные процессы и профили концентраций во внутренней области становятся подобными.

Доп.точки доступа:
Кудрявцев, А.А.; Цендин, Л.Д.; Арсланбеков, Р.Р.; Колобов, В.И.; Кудрявцев, В.В.

Найти похожие

621.039.6
Д 54

Днестровский, Ю. Н.
Приложение теории канонических профилей к задачам о переносе тепла в токамаках [Текст] / Ю. Н. Днестровский, А. Ю. Днестровский [и др.] // Физика плазмы. - 2004. - Т. 30, N 1. - С. 3-10. - Библиогр.: с. 9-10 (16 назв. ). - ил.: 11 рис. . - ISSN 0367-2921

УДК

621.039.6

533.9

ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
токамаки -- канонические профили -- скейлинги -- сечения плазменного шнура -- транспортные модели -- радиусы плазменного шнура
Аннотация: На основе теории канонических профилей для токамака с произвольным сечением плазменного шнура построена транспортная модель для описания температуры электронов и ионов плазмы. Сравнение с экспериментами на 8 разных токамаках показало разумную точность моделирования разрядов плазмы. Анализ экспериментов и проведенные расчеты позволили построить скейлинг для описания поведения относительного градиента температуры в середине радиуса плазменного шнура.

Доп.точки доступа:
Днестровский, А. Ю.; Лысенко, С. Е.; Черкасов, С. В.; Уолш, М. Дж.

Найти похожие

539.1/18
Ч-84

Чудновский, А. Н.
О комбинировании переменных в эмпирических скейлингах [Текст] / А. Н. Чудновский // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 4. - С. 376-381. - Библиогр.: с. 381 (5 назв. ). - ил.: 3 табл. . - ISSN 0367-2921

УДК

539.1/18

517.55

533.09

ББК 22.161.5
Рубрики: Математика--Теория функций
Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
физика плазмы -- скейлинги -- токамаки -- функции переменных -- эмпирические скейлинги -- набор переменных -- степенные функции
Аннотация: Скейлинг служит для определения некоторой характеристики в функции набора переменных. Во множестве случаев склейлинг представляется в виде произведения степенных функций переменных. В отсутствие теоретического обоснования значений параметров скейлинга (постоянного множителя и показателей степени выбранных переменных) для их определения используется эмпирический подход, заключающийся в подгонке методом наименьших квадратов значений этих параметров к определенной базе данных.

Найти похожие

621.039.6
К 56

Коврижных, Л. М.
Моделирование процессов переноса в стеллараторах [Текст] / Л. М. Коврижных // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 12. - С. 1070-1078. - Библиогр.: с. 1078 (7 назв. ). - ил.: 6 рис. . - ISSN 0367-2921

УДК

621.039.6

539.1/.18

533.9

ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Энергетика--Термоядерная энергетика
Кл.слова (ненормированные):
стеллараторы -- процессы переноса -- энергетическое время жизни -- эмпирические скейлинги -- установки -- плазма -- моделирование процессов -- L-2M -- ATF -- CHS -- LHD -- ISS-95
Аннотация: Результаты расчетов, выполненных в рамках предложенной модели для стеллараторов L-2M, ATF, CHS и LHD в широком диапазоне плотностей плазмы и поглощаемой мощности, показали, что энергетическое время жизни в этих установках с точностью до коэффициентов порядка единицы совпадает с тем, что следует из эмпирических скейлингов (ISS-95 и LHD) .

Найти похожие

539.2
А 516

Алпатов, А. В.
Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок a-Si:H методом двумерного флуктуационного анализа / А. В. Алпатов, С. П. Вихров, Н. В. Гришанкина // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 3. - С. 340-347 : ил. - Библиогр.: с. 346-347 (17 назв.) . - ISSN 0015-3222

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
поверхностные интерфейсы -- интерфейсы поверхности -- корреляция интерфейсов -- пленки полупроводников -- метод двумерного флуктационного анализа -- двумерный флуктационный анализ -- флуктационный анализ -- модельные поверхности -- структурные свойства -- упорядоченные структуры -- хаотические структуры -- показатели -- скейлинги -- неупорядоченные проводники -- поверхность пленок -- аморфный гидрогенизированный кремний -- гидрогенизированный кремний -- кремний -- метод атомно-силовой микроскопии -- атомно-силовая микроскопия -- немонофрактальность
Аннотация: Представлена реализация модифицированного метода двумерного флуктуационного анализа для выявления корреляций интерфейсов поверхности. Были исследованы модельные поверхности с известным правилом построения, с различными структурными свойствами: упорядоченные, структуры со слабой организацией, хаотические. Полученные значения скейлингового показателя сопоставлялись с известной шкалой значений. Были выявлены особенности поведения скейлинга на различных масштабах. Показано, что метод может эффективно использоваться при исследовании эволюции поверхности, например, при росте пленок неупорядоченных полупроводников, при оценке степени упорядоченности, при исследовании процессов самоорганизации. Были исследованы поверхности пленок аморфного гидрогенизированного кремния, сканы которых были получены методом атомно-силовой микроскопии. Диагностика методом двумерного флуктуационного анализа показала наличие немонофрактальности поверхностей и нескольких составляющих интерфейса поверхности - шумовой и синусоидальной.
An implementation of the modified two-dimensional Detrended Fluctuation Analysis method for the elicitation of surface interfaces correlations was presented. The model surfaces with a noted construction rule, with different structural properties: ordered, structures with a weak order, chaotic were investigated. The obtained scaling exponent values compared with the noted scale of values. The scaling behavior features on different scales were elicited. It was revealed that the method can be efficiently used in surface evolution studies, for example in adisordered semiconductor films growth, in an estimation of an order degree, in an investigation of self-organization processes. Hydrogenated amorphous silicon films surfaces were explored, scans were obtained by Atomic Force Microscopy. Diagnostics by the two-dimensional Detrended Fluctiation Analysis method shown the presence of a surface non-monofractality and a few interface components - noise and sinusoidal.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/03/p340-347.pdf

Доп.точки доступа:
Вихров, С. П.; Гришанкина, Н. В.

Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)