Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=туннельные микроскопы<.>)

Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9

544.72
П 305

Петров, В. С.
Новый способ формирования наноструктур на подложке с использованием туннельного микроскопа с активным зондом из монокристалла оксидной ванадиевой бронзы натрия [Текст] / В. С. Петров, Б. А. Логинов, П. Б. Логинов // Физика и химия обработки материалов. - 2007. - N 6. - С. 73-83 . - ISSN 0015-3214

УДК

544.72

ББК 24.58
Рубрики: Химия
Физическая химия поверхностных явлений
Кл.слова (ненормированные):
туннельные микроскопы -- наноструктуры на подложке -- иглы-зонды -- наноструктуры -- зонды из монокристаллов -- сканирующие туннельные микроскопы
Аннотация: Предложен принципиально новый способ формирования наноструктур из отдельных атомов с использованием иглы-зонда из монокристалла оксидной бронзы, эмитирующей атомы внедрения из структурных каналов ванадий-кислородного каркаса на подложку. Показаны примеры формирования наноструктур с применением зонда сканирующего туннельного микроскопа.

Доп.точки доступа:
Логинов, Б. А.; Логинов, П. Б.

Найти похожие

Быков, В.
Продвижение в глубь материи [Текст] / Виктор Быков // Наука в России. - 2008. - N 6. - С. 15-20 : 7 фот. . - ISSN 0869-706Х

УДК

^a53.07

ББК 22.3с
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
зондовые микроскопы -- измерительное оборудование -- микроскопы зондовые -- микроскопы туннельные -- наноматериалы -- оборудование измерительное -- туннельные микроскопы
Аннотация: Компания "Нанотехнология-МТД", начавшая свою работу с разработок сканирующих туннельных микроскопов, сегодня производит уже четыре модельных ряда сложного измерительного оборудования, позволяющего делать принципиально новые шаги практически во всех областях нанотехнологий.

Доп.точки доступа:
Нанотехнология-МТД; НТ-МТД

Найти похожие

Вейвлет-обработка изображений нанокомпозитов, полученных сканирующим туннельным и электронным микроскопами [Текст] / В. А. Ткаль [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С. 37-39. - Библиогр.: с. 39 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

^a537.533/.534

^a004.93

ББК 22.338 + 32.973-018.2
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
   Вычислительная техника
   Распознавание и преобразование образов
Кл.слова (ненормированные):
вейвлет-обработка изображений -- изображения нанокомпозитов -- сканирующие туннельные микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы -- цифровая обработка изображений -- нанотехнологические комплексы -- элайзинг -- вейвлет-анализ
Аннотация: Описана методика цифровой обработки изображений, полученных на нанотехнологическом комплексе, позволяющая эффективно устранять затрудняющие анализ факторы - слабую контрастность и фоновую неоднородность изображений.

Доп.точки доступа:
Ткаль, В. А.; Воронин, Н. А.; Соловьев, В. Г.; Алексеева, Н. О.; Панькова, С. В.; Яников, М. В.

Найти похожие

Адсорбция Co на реконструированные поверхности кремния: Si (100) -c (4 x 12) -Al и Si (111) -5. 55 x 5. 55-Cu [Текст] / Д. А. Олянич [и др. ] // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 3. - С. 15-22 : ил. - Библиогр.: с. 21-22 (14 назв. ) . - ISSN 0320-0116

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
поверхностные слои -- реконструированные поверхности -- адсорбция -- нанотехнологии -- нанометровый диапазон -- реконструкции силицидов -- Co/Si -- кремний -- туннельные микроскопы -- силицидные покрытия -- силицид кобальта -- наноструктуры
Аннотация: Использование поверхностных реконструкций для модификации свойств подложек кремния с целью создания на них новых структур нанометрового масштаба является перспективным направлением развития нанотехнологий. Среди стабильных реконструкций выделяются реконструкции Si (100) -c (4 x 12) -Al и Si (111) -5. 55 x 5. 55-Cu, возможность использования которых в качестве шаблонных поверхностей продемонстрирована в недавних исследованиях. В настоящей работе методом сканирующей туннельной микроскопии исследовалась адсорбция Co на этих реконструкциях при различных температурах подложки. Показано, что при комнатной температуре формируется слабоупорядоченный слой металлического Co с сохранившимися реконструкциями на границе раздела Co/Si. Повышение температуры приводит к формированию ограненных островков силицида кобальта на обеих поверхностях.

Доп.точки доступа:
Олянич, Д. А.; Чубенко, Д. Н.; Грузнев, Д. В.; Котляр, В. Г.; Устинов, В. В.; Солин, Н. И.; Зотов, А. В.; Саранин, А. А.

Найти похожие

Далидчик, Ф. И.
Квантовые биения туннельной проводимости наноконтактов [Текст] / Ф. И. Далидчик, С. И. Кубарев, О. А. Пономарев // Химическая физика. - 2009. - Т. 28, N 10. - С. 18-27 : ил. - Библиогр.: с. 26-27 (24 назв. ) . - ISSN 0207-401X

УДК

^a537.533/.534

ББК 22.338
Рубрики: Физика
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
квантовые биения -- туннельная проводимость -- наноконтакты -- теория биений плотности -- электронные плотности -- биокомплексы электронных ловушек -- электронные ловушки -- электронно-фононные взаимодействия -- тяжелые квазичастицы -- квазичастицы -- результаты экспериментов -- биения токов -- сканирующие туннельные микроскопы -- туннельные микроскопы -- зондирование поверхности -- гидроксилированные оксиды титана -- оксиды титана -- алюминий
Аннотация: Построена теория биений электронной плотности в бикомплексе электронных ловушек с сильным электронно-фононным взаимодействием. Получены аналитические выражения, описывающие влияние температуры на частоту обмена "тяжелыми" квазичастицами. Дано объяснение результатам экспериментов, в которых наблюдались интенсивные биения токов сканирующего туннельного микроскопа, зондировавшего поверхности гидроксилированных оксидов титана и алюминия.

Доп.точки доступа:
Кубарев, С. И.; Пономарев, О. А.

Найти похожие

Влияние сильных электрических полей на рост наночастиц оксидов платины и их взаимодействие с молекулярным водородом [Текст] / Е. М. Балашов [и др. ] // Химическая физика. - 2010. - Т. 29, N 3. - С. 91-96 : ил. - Библиогр.: с. 96 (34 назв. ) . - ISSN 0207-401X

УДК

^a544.1

ББК 24.51
Рубрики: Химия
Химическая связь и строение молекул
Кл.слова (ненормированные):
сильные поля -- электрические поля -- наночастицы -- оксиды платины -- взаимодействие с водородом -- молекулярный водород -- высоковакуумные эксперименты -- метод нанолаборатории -- нанолаборатории -- сканирующие туннельные микроскопы -- окисление платины -- платина -- атомное строение -- оксидные фазы -- затухающие автоколебания -- химические реакции -- PtO[x] -- металлические частицы -- каталитическая активность -- катализаторы -- туннельные микроскопы
Аннотация: В высоковакуумных экспериментах методом "нанолаборатории" изучено влияние сильных электрических полей, созданных острием сканирующего туннельного микроскопа, на рост, модификацию и разрушение наночастиц оксидов платины, на их взаимодействия с молекулярным водородом. Установлены и интерпретированы зависимости скорости окисления платины от приложенного к контакту напряжения, в том числе от его полярности. Продемонстрирована возможность обратимых изменений атомного строения оксидных фаз стимулированных полем. Впервые обнаружены зависящие от полярности приложенного напряжения, ускоренные полем затухающие автоколебания химических реакций, идущих при взаимодействии молекулярного водорода с PtO[x]. Полученные результаты, моделирующие влияние зарядов малых металлических частиц на их каталитическую активность, вводят в теорию нанесенных катализаторов новый размерный параметр, определяющий максимальные размеры наночастиц, реакционная способность которых зависит от их зарядового состояния.

Доп.точки доступа:
Балашов, Е. М.; Гатин, А. К.; Гришин, М. В.; Далидчик, Ф. И.; Колченко, Н. Н.; Шуб, Б. Р.

Найти похожие

Мартинсон, Л. К.
Физические основы приборов нанотехнологий в курсе физики технического университета [Текст] / Л. К. Мартинсон, А. Н. Морозов, Е. В. Смирнов // Физическое образование в вузах. - 2010. - Т. 16, N 2. - С. 24-36 : ил. - Библиогр.: с. 35-36 (20 назв. ) . - ISSN 1609-3143

УДК

^a53.07

^a378

ББК 22.3с + 74.58
Рубрики: Физика
   Физические приборы и методы физического эксперимента
   Образование. Педагогика
   Высшее профессиональное образование
Кл.слова (ненормированные):
физические основы нанотехнологий -- основы нанотехнологий -- нанотехнологии -- квантовые явления -- объекты нанотехнологий -- приборы нанотехнологий -- курс физики -- технические университеты -- университеты -- сканирующие туннельные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы
Аннотация: В представленной работе обсуждается необходимость включения в курс общей физики технических университетов разделов, связанных с квантовыми объектами и квантовыми приборами нанотехнологий. Описаны возможности сканирующего туннельного микроскопа.

Доп.точки доступа:
Морозов, А. Н.; Смирнов, Е. В.

Найти похожие

681.2
П 304

Петрина, Алла Макаровна (канд. техн. наук).
Информационно-измерительные системы в нанотехнологиях [Текст] / А. М. Петрина, авт. Г. М. Майнашева // Научно-техническая информация. Сер. 2, Информационные процессы и системы. - 2010. - N 7. - С. 13-23 : Ил.: 8 рис. - Библиогр.: с. 22-23 (31 назв. ) . - ISSN 0548-0027

УДК

681.2

539.2

ББК 34.9 + 22.37
Рубрики: Приборостроение
   Приборостроение в целом
   Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомные туннельные микроскопы -- информационно-измерительные системы -- микроскопы -- наноробототехника -- нанотехнологии -- приборы -- сканирующая микроскопия -- сканирующие атомные микроскопы -- сканирующие микроскопы -- сканирующие приборы -- сканирующие туннельные силовые микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- туннельные силовые микроскопы -- локальные свойства поверхности -- структура вещества
Аннотация: Приводится обзор по информационно-измерительным системам, используемым в нанотехнологии, в состав которых включены такие устройства, как сканирующие электронные микроскопы, сканирующие атомные микроскопы, сканирующие атомно-силовые микроскопы и манипулирующие инструменты. Описываются их физические характеристики и приводятся примеры использования в роботизированной наносборке.

Доп.точки доступа:
Майнашева, Галина Макаровна (канд. биол. наук, доцент)

Найти похожие

530.145
С 506

Смирнов, Е. В.
Волновые свойства электронов в нанообъектах [Текст] / Е. В. Смирнов // Физическое образование в вузах. - 2012. - Т. 18, № 3. - С. 80-91 : ил. - Библиогр.: с. 90-91 (18 назв. ) . - ISSN 1609-3143

УДК

530.145

ББК 22.314
Рубрики: Физика
Квантовая механика
Кл.слова (ненормированные):
электроны -- нанообъекты -- сканирующие туннельные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы -- волновые свойства электронов -- эксперименты
Аннотация: Дан обзор экспериментальных исследований волновых свойств электронов с помощью приборов нанотехнологий. Обсуждаются возможности сканирующего туннельного микроскопа в создании на поверхности проводников двумерных квантовых структур.

Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)