Электронные ресурсы

Базы данных


Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=метод подвижного мениска<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Калинин, Д. В.
    Послойный ступенчатый механизм роста фотонно-кристаллических опаловых пленок при выращивании их методом подвижного мениска [Текст] : текст / Д. В. Калинин, В. В. Сердобинцева, В. Ф. Шабанов // Доклады Академии наук. - 2008. - Т. 420, N 2, май. - С. 179-181 : 2 рис. - Библиогр.: с. 181 . - ISSN 0869-5652
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
фотонно-кристаллические материалы -- опаловые пленки -- метод подвижного мениска -- рост пленок -- нанокристаллизация пленок -- подвижный мениск -- монокристаллические пленки -- микротрещины
Аннотация: Рассмотренный механизм послойного ступенчатого роста является основой для дальнейшего изучения механизма формирования различного рода дефектов в ходе роста пленки и их роли в возникновении микротрещин при выходе пленки из зоны мениска.


Доп.точки доступа:
Сердобинцева, В. В.; Шабанов, В. Ф.

Найти похожие

2.
539.2
П 385


    Плеханов, А. И.
    Поляризационная анизотропия монокристаллических пленок опала [Текст] / А. И. Плеханов, В. П. Чубаков, П. А. Чубаков // Физика твердого тела. - 2011. - Т. 53, вып. 6. - С. 1081-1087. - Библиогр.: с. 1086-1087 (18 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
метод подвижного мениска -- метод гравитационной укладки -- монокристаллические пленки опала -- коноскопия -- спектральная эллипсометрия -- поляризационная анизотропия -- анизотропия
Аннотация: Методами подвижного мениска и гравитационной укладки получены монокристаллические пленки опала. Коноскопией и спектральной эллипсометрией установлено, что данные фотонно-кристаллические пленки опала обладают двулучепреломлением, при этом оптическая индикатриса представляет собой трехосный эллипсоид. Ось индикатрисы N[g] направлена вдоль оси роста кристалла, ось N[m] лежит в плоскости пленки и ортогональна оси N[g], а ось N[p] совпадает с нормалью к кристаллографической плоскости, что соответствует триклинной сингонии кристалла.


Доп.точки доступа:
Чубаков, В. П.; Чубаков, П. А.

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)